サーモスタットテストチャンバー
温度熟成低温

サーモスタットテストチャンバー
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特徴

タイプ
サーモスタット
制御パラメータ
温度
試験の種類
熟成
その他の特徴
低温, 高温用

詳細

半導体メモリの高温・低温に対応 メモリパッケージテストのハードウェアプラットフォームとソフトウェアシステムを独自に研究・設計し、NOR Flash、NAND Flash、eMMC、UFSのフルスピードエージングテストに完全対応。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。