加速エージングテスト システム LDBI

エレクトロニクス産業用半導体レーザーチップ用レーザーモジュール用

多チャンネル高出力レーザーの老化システムは狭い脈拍の高い現在のテストおよび老化を使用する必要があるキロワットの高い発電の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの問題を解決するように設計されています深刻な破片の暖房等。それは一組の普遍的な、高い発電、循環の水冷の老化のテスト システムです。プロダクトに大きい流れおよび狭い脈拍、安定した流れ、強い反干渉の能力のよい一定した現在の特徴があり、高出力の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの老化テストに完全な解決を提供する反オーバー ショック、反反動、反サージ電圧調整および一定した現在の二重保護回路の機能があります。 - 1つのドロワーで最大16チャンネル、最大8ドロワーをサポート - 各チャンネルは独立 - 電流読み取り、電圧、光パワーなどの同期自動測定 - 加熱フィルム加熱、室温-125℃の温度制御範囲 - 電源アンチサージ設計 - 受光装置水冷 - 絶対精度±1℃、異なるDUT温度均一性±2 - 自動老化のデータ記録およびデータ輸出 多チャンネルの高い発電レーザーの老化システムは狭い脈拍の高い現在のテストおよび老化を使用する必要があるキロワットの高い発電の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの問題を解決するように設計されています深刻な破片熱する等。それは一組の普遍的な、高い発電、循環の水冷の老化のテスト システムです。