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ブリッジ座標測定機 ZEISS XENOS
産業用品質管理用マルチセンサー

ブリッジ座標測定機 - ZEISS XENOS  - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - 産業用 / 品質管理用 / マルチセンサー
ブリッジ座標測定機 - ZEISS XENOS  - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - 産業用 / 品質管理用 / マルチセンサー
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特徴

構造
ブリッジ
応用
産業用, 品質管理用
プローブ形
マルチセンサー, 光学式
その他の特徴
高精度
X軸移動距離

900 mm
(35.43 in)

Y軸移動距離

1,500 mm
(59.06 in)

Z軸移動距離

700 mm
(27.56 in)

詳細

ZEISSXENOSは、研究機関、航空宇宙産業、光学機器産業における測定室などの最高の精度が求められる場所でよりどころとなる機械です。このハイエンドな機械は、技術的に実現可能な最高の精度を1立方メートルの測定範囲で提供します。 バーチャル・センター駆動 ZEISS XENOSはY軸に2つのリニア駆動を備えており、ZEISSが開発した新技術でシンクロされるので、センター駆動として動作します。このため、X軸の位置に応じて駆動力の分布が最適化されます。 これは最新世代のコントローラとアルゴリズムの採用により実現され、測定範囲全域における最高の精度と、移動経路の最良のトレース性を実現するために欠かせない要素となっています。 すべての軸でリニア駆動を採用 ZEISS XENOSは、すべての軸でリニア駆動を採用しています。メリットとして、高速、急加速、高い位置決め精度、せん断力の生じない駆動などがあげられます。ZEISS XENOSの高分解能のスケールとリニア駆動の相乗効果が、移動経路の非常に高いトーレス性と、100ナノメートル未満という非常に高い位置決め性能を実現します。 たとえば、スタイラスのたわみがより一定になるため、高い精度につながります。もう1つのメリットは曲面の測定時に実感できます。スタイラスが指定された移動経路をより確実に、より正確にをたどれば、より正確な誤差の定義が可能になります。 炭化ケイ素セラミック ZEISS XENOSは、精度に影響を及ぼす機械構造の部品に、革新的な炭化ケイ素セラミックを採用しています。現在、この素材が同等サイズの部品や精度で使用されているケースはほとんどありません。 一般的に使用されている酸化アルミニウムセラミックと比べ、炭化ケイ素セラミックは熱膨張が50%小さく、剛性は最高で30%高く、20%程度軽量といった特徴があります。スチールと比べても、重量は半分程度で2倍の剛性を持っています。

カタログ

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。