デジタイザ ZEISS ABIS III

新しく開発されたZEISS ABIS IIIセンサーは、高速検査と、打痕、膨らみ、ヒケ、波打ち、くびれ、ひび割れ、さらにキズや圧力マークなど、関連するあらゆる表面欠陥の確実な検出を組み合わせています。このシステムは、可動部品と固定部品の両方を、実生産中およびサイクルタイム内に再現性よく高精度に検査します。さらに、インラインだけでなく、生産環境でのアットラインでの使用にも適しています。 特許取得済みのMulti-Color-Lightテクノロジーにより、微細な欠陥も検出できます。わずか数秒後、デジタル検査レポートが発行されます。このように、Q-stopや、再加工を予定するための欠陥の可視化などのデジタル品質詳細表示などの機能が常に利用可能です。これらは、閉ループ回路の基礎となり、スマート・プロセス・コントロール導入の前提条件となります。最高の品質基準を満たすためにドイツで設計・開発されたZEISS ABIS IIIは、近代的なプレス工場と未来志向のボディ工場の両方にとって理想的なソリューションです。 表面検査 従来の表面検査、例えば砥石による表面処理は、多くの時間を要し、また、関連するユーザーに依存します。この主観的な検査は、顧客とサプライヤーの間に意見の相違を引き起こし、その結果、苦情、クレーム、またはコストのかかる選別や再加工作業を引き起こす可能性があります。ZEISS ABIS IIIセンサーと最大20Hzの高速欠陥検出により、手作業や主観的な品質保証プロセスが不要になります。リソース効率の高いシステムは、専用リワーク、迅速な表面分析、効率的なプロセス最適化に必要なデータベースを継続的かつ自動的に提供します。