X 線コンピュータ断層撮影機器 ZEISS METROTOM 1500

高解像度

ZEISS METROTOM 1500は、高度なCT技術により、表面下の欠陥を確実に捉えて測定し、欠陥を検出します。ZEISS METROTOM 1500は、小型部品から大型部品まで、またその中間の部品まで、高速かつ高解像度の画像を提供します。 高速スキャン 詳細なCT画質 正確な計測（VDI/VDE 2630 1.3） オプションのDAkkS認証 コンパクトな設置面積 メリット 高画質 高解像度とトレーサブルな精度 ZEISS METROTOM 1500は、小さな欠陥も鮮明に描写する優れた画質を特長としています。ソフトウェアAMMAR、BHC、ハードウェアモジュールZEISS scatterControlが、揺るぎない品質の違いを生み出します。CTはさらに、VDI/VDE 2630ガイドラインに準拠し、トレーサブルな精度を実現しています。 CT技術にも使用されているZEISSの高度な計測技術により、高い測定精度をお約束します。VDI/VDE 2630 Sheet 1.3に準拠した4.5 + L/50 μmのMPE(SD)が全視野で保証されています。 システムの汎用性 多様な部品とアプリケーションに対応 ZEISS METROTOM 1500は、小さな部品を非常に高い分解能でスキャンし、直径615 mm、高さ800 mmまでの部品を完全な再構築としてスキャンします。これは、水平方向と垂直方向に視野を拡大することで実現されます。