1. 計測・実験
  2. 計量・試験機
  3. ブリッジ座標測定機
  4. ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

ブリッジ座標測定機 ZEISS CONTURA
品質管理用光学式高精度

ブリッジ座標測定機 - ZEISS CONTURA - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - 品質管理用 / 光学式 / 高精度
ブリッジ座標測定機 - ZEISS CONTURA - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - 品質管理用 / 光学式 / 高精度
ブリッジ座標測定機 - ZEISS CONTURA - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - 品質管理用 / 光学式 / 高精度 - 画像 - 2
ブリッジ座標測定機 - ZEISS CONTURA - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - 品質管理用 / 光学式 / 高精度 - 画像 - 3
ブリッジ座標測定機 - ZEISS CONTURA - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - 品質管理用 / 光学式 / 高精度 - 画像 - 4
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
 

特徴

構造
ブリッジ
応用
品質管理用
プローブ形
光学式
その他の特徴
高精度, 自動
X軸移動距離

最少: 700 mm
(27.56 in)

最大: 1,200 mm
(47.24 in)

Y軸移動距離

最少: 700 mm
(27.56 in)

最大: 2,400 mm
(94.49 in)

Z軸移動距離

最少: 600 mm
(23.62 in)

最大: 800 mm
(31.5 in)

詳細

ZEISS CONTURAは、明日の測定タスクに今すぐ対応します: 新型ZEISS CONTURAには、massテクノロジーが搭載されており、共通のインターフェイスで異なるセンサを簡単に交換できます。フレキシブル運用が可能なロータリテーブルを使用した4軸測定、自動プローブ交換システム、HTGオプション(より広い温度範囲仕様)などの革新的なオプションに加えて、ファーストクラスのパフォーマンス、人間工学、および将来のセキュリティにも対応しています。 ZEISS CONTURAで使用可能なセンサは様々な種類が揃っており、各々のアプリケーションと要件に適したセンサまたはセンサシステムを選ぶことができます。massテクノロジーにより、さまざまなZEISSセンサを一つの測定機ですばやく交換し高精度に運用することができます。回転式プローブホルダ、プローブの固定組合せ、光学式および接触式、パッシブまたはアクティブセンサ、このような様々なセンサを使用できる点にZEISS CONTURAの柔軟性があります。 ZEISS CONTURAは一つの測定機で接触式測定と、2D画像センサ、ホワイトライトセンサ、ラインレーザセンサによる光学式測定のパフォーマンスを組み合わせることができます。ZEISS CONTURAにより、光学式センサの世界が新たに開かれます。 ZEISS CONTURAは、信頼性の高い精度を誇りながらも、測定時間を最小限に抑えることができます。これは、ZEISS VASTナビゲーターやZEISS VASTプローブヘッドと組み合わせたZEISS VASTパフォーマンスなどの機能によって実現されます。 狭い測定室では限られたスペースに対応した測定機器が必要です。最適化されたサイズだけでなく、人間工学的に考慮された機能によって、ユーザーは快適に作業することが可能です。 ZEISS CONTURAは、Industry 4.0にも対応しています。デジタルサービスのZEISS Smart Servicesにより、稼働中にリアルタイムで機器のパフォーマンスを監視できます(日本では現在使用できません)。

ビデオ

カタログ

この商品のカタログはありません。

ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielleの全カタログを見る
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。