光学顕微鏡 ZEISS Axio Imager 2

研究用産業用素材用

先端材料研究における光学顕微鏡のワークフローに使いやすさが加わりました。材料研究向けのZEISS Axio Imager 2により、正確で再現性のある結果が得られます。アプリケーションに合ったシステムをお選びください。粒子解析や共焦点顕微鏡、相関顕微鏡向けの専用ソリューションを利用すれば、装置をさらに拡張できます。 再現性のある結果 モジュラー設計​ 優れた光学性能 再現性のある結果​ 無振動の作業環境​ 優れた結果を得るには、システムの安定性が欠かせません。Axio Imager 2の安定したイメージング性能は、高倍率での作業や長時間にわたる観察に最適です。電動のAxio Imager 2なら、常に一定の条件下で作業しつつ、迅速に再現性のある結果を得られます。 モジュラー設計​ 高い柔軟性​ 学術研究であれ、産業研究であれ、材料研究向けの顕微鏡は様々な課題に直面します。Axio Imager 2なら、それらの課題をクリアし、優れた結果が得られます。アプリケーションに適したユニットを取り付けることで、粒子解析や、非金属介在物（NMI）、液晶、半導体MEMSの解析が可能となります。共焦点顕微鏡や相関顕微鏡向けの専用ソリューションを使用し、装置をさらに拡張できます。 優れた光学性能 高コントラスト・高分解能を達成 様々なコントラスト法を使用して、金属、複合材料、液晶などの多岐にわたる材料を検査できます。 ​ 反射光による試料の観察には、明視野、暗視野、微分干渉コントラスト（DIC）、円偏光微分干渉コントラスト（C-DIC）、偏光、蛍光を使用可能です。 ​ 透過光による試料の観察には、明視野、暗視野、微分干渉コントラスト（DIC）、偏光、円偏光が使用可能です。また、コントラストマネージャーが照明設定を忠実に再現します。 コントラスト法の選択肢​ 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察（実視野265 µm）。画像ご提供：Dr. H.-L. Steyer, Kesselsdorf, Germany