走査電子顕微鏡 ZEISS Sigma​

分析用検査用素材用

高画質イメージングと高度な解析を実現する電界放出型SEM ZEISS Sigmaファミリーは、電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）のテクノロジーと優れたユーザーエクスペリエンスを兼ね備えています。イメージングと解析ルーチンを構造化することで生産性が向上し、新しい材料、品質検査用の粒子試料、生物・地質試料などの観察に活用できます。妥協のない高分解能イメージングにより、1 kV以下の低加速電圧でも高い解像度とコントラストを達成します。さらに、クラス最高のEDSジオメトリを使用して高度な顕微鏡解析を実行し、より正確な解析データを2倍の速さで取得することができます。 Sigmaファミリーは、ユーザーを高度なナノ解析の世界へと導きます。 Sigma 360は、直感的な操作でイメージングと解析ができる電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）としてコアイメージング施設から選ばれています。 Sigma 560は、クラス最高のEDSジオメトリによりハイスループット解析を実現し、in situ実験の自動化を可能にします。 コア施設から選ばれる直感的なイメージング セットアップからAIによる結果取得まで、専用のガイドに従って操作するだけの直感的なイメージングワークフローをご体験ください。 1 kV以下でも優れた解像度と最適なコントラストを実現 VPイメージングにより、非導電体の非常に困難な条件でも優れた結果を取得可能 キャプション：NanoVP liteモードでイメージングしたポリスチレン。 直感的なイメージングワークフロー セットアップからAIによる結果取得まで 初心者でも専門知識に基づいた結果取得が可能です。使いやすく覚えやすいワークフローにより、ナビゲーションから後処理までの各ステップが効率化され、高速イメージングを実現します。また、トレーニングに必要な時間も短縮できます。 ZEISS SmartSEM Touchのソフトウェア自動化によって、ナビゲーション、パラメータ設定、画像取得を開始できます。 ここで、タスク固有のツールキットを備えた、後処理に最適なZEN coreが役立ちます。最も推奨されているのは、機械学習に基づく画像のセグメンテーションが可能なAI Toolkitです。Connect Toolkitではマルチモーダル実験を組み合わせられます。また、Materials Appsによる微細構造、粒径、層厚の解析も可能です。