フォトルミネッセンス顕微鏡 Flex One

Photoluminescence (PL)は紫外、目に見えるまたは近い赤外放射によって刺激の下に材料からの光の放射である。 半導体の発光性の特性の測定ではバンドギャップの幅等はのような光学物理的性質を、分析するために、サンプル(例えばGaN、ZnO、GaAs等)は通常レーザー(325 nm、532 nm、785 nm等の波長と)、およびPLスペクトルによって刺激された測定される… Photoluminescenceは高い感受性、材料の構造、構成および周囲の原子整理についての情報を提供できる非破壊的な分析法である。 従って、それは物理学で広く利用されている、物質科学、化学および分子生物学および他の関連分野。 屈曲1は、microspectrometersの最新直接高性能の、三重の格子につながれる顕微鏡の頭部を結合する十分に統合された、多目的で、そして費用効果が大きいmicrospectrometerイメージ投射分光計である