平坦度測定用干渉計 Verifire Asphere+

校正厚み測定用レーザー

非球面光学系は、防衛・航空宇宙、半導体露光・検査装置、医療用画像システムなどの産業で使用されるイメージング、センシング、レーザーシステムの設計と実装に大きな利点をもたらします。 これらのアプリケーションをサポートする非球面の製造は、精密な計測に依存しています。 結局のところ、非球面光学部品に関して言えば、測定できないものは作れないのです。 Verifire Asphere+ (VFA+) は、フィゾー干渉計の利点を活かし、軸対称非球面に対して、高精度、高解像度、高速、フルアパーチャーのユニークな組み合わせの計測を提供します。 VFA+は、透過球を交換するだけで、様々な軸対称非球面を測定できる柔軟な測定プラットフォームを提供します。また、オプションのセカンダリーステージは、非対称自由曲面や軸外し非球面光学系に対応したコンピュータ生成ホログラム（CGH）をサポートし、非球面形状測定機能を拡張することができます。 NEW!ユーザーエクスペリエンスの向上に重点を置き、新しい測定のセットアップ、測定データと結果のナビゲート、生産上の問題の診断が簡単に行えるようになりました。Mx™ ソフトウェアは、ワンクリックで簡単にセットアップ、アライメント、測定ができるため、研究開発やプロトタイピングの段階を効率化し、生産アプリケーションを向上させることができます。 - 光学部品トレイのマルチパーツ自動測定に対応 - 通常のフィゾー干渉計として、超精密な曲率半径レールを使用可能 - 既存のVFAシステムをVFA+にアップグレードすることができます。