光学式干渉計 Verifire™ HD/HDX
レーザー

光学式干渉計
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レーザー, 光学式

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干渉計の分解能を最大限に高めた Verifire HDとVerifire HDX干渉計システムは、光学表面の比類なき優れた中空間周波数特性評価を提供します。 単にシステムのピクセル数を増やすだけでは十分ではありません。ピクセル数が限られた干渉計のパフォーマンスを保証し、最も要求の厳しいアプリケーションに必要な表面のディテールを捉えるには、厳密な光学設計が求められます。 ZYGO独自のITF (Instrument Transfer Function) 評価手法により、性能がアプリケーションに必要な機能を備えた設計に適合していることが保証されます。

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Metalex
Metalex

20-23 11月 2024 Bangkok (タイ)

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    SPIE Photonics West 2025

    25-30 1月 2025 San Francisco (米国-カリフォルニア)

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