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光学式, 赤外線
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光学イメージングアプリケーションは幅広く多様です。システムの設計波長でのテストは、開発、最終アライメント、および精度保証のために非常に重要です。 航空宇宙・防衛用の暗視、IR、熱画像システム、リソグラフィサブシステム、リモートセンシング望遠鏡、そして特殊な材料の認定には、幅広いさまざまな波長要件が伴いますが、すべて1台の赤外波長干渉計システムを使用して設計波長でテストできることは大きな利点です。
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この販売者が参加する展示会
Metalex
20-23 11月 2024
Bangkok (タイ)
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SPIE Photonics West 2025
25-30 1月 2025
San Francisco (米国-カリフォルニア)
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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
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