赤外線干渉計
光学式

赤外線干渉計
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光学式, 赤外線

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光学イメージングアプリケーションは幅広く多様です。システムの設計波長でのテストは、開発、最終アライメント、および精度保証のために非常に重要です。 航空宇宙・防衛用の暗視、IR、熱画像システム、リソグラフィサブシステム、リモートセンシング望遠鏡、そして特殊な材料の認定には、幅広いさまざまな波長要件が伴いますが、すべて1台の赤外波長干渉計システムを使用して設計波長でテストできることは大きな利点です。

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Metalex
Metalex

20-23 11月 2024 Bangkok (タイ)

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    SPIE Photonics West 2025

    25-30 1月 2025 San Francisco (米国-カリフォルニア)

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