Brukerの高感度分光器

... MIR、NIR、VIS/UV） • 時間分解分光法：ラピッドスキャン、スロースキャン、 ステップスキャン • MultiTect™：INVENIO本体に最大7本の検出器同時搭載可能、ソフトウェア制御 • RockSolid™：信頼性と精度に優れるブルカー独自の干渉計 • CenterGlow™ 赤外光源：最適化された光源スポットと耐久性 • Bruker FM：中赤外から遠赤外にわたる広域スペクトルを1回で測定 • 拡張性：スペクトル範囲や時間分解分光法などアップグレードに対応 • ...

... 柔軟性を念頭に設計された、アップグレード可能な光学プラットフォーム上に構築されています。 VERTEX 分光計は、人工知能ネットワーク、自動部品認識（ACR）、プラグ ＆ プレイイーサネット接続、自動アクセサリー認識（AAR）など、幅広い機能を共有しています。 VERTEX 70vは、耐震性と分光性能で高い定評のRockSolid™ 干渉計を精密かつ堅牢な真空光学ベンチに組み込んだ真空型FTIR分光計で、最先端のアプリケーションに最適な１台です。真空光学系はクラス最高の仕様と性能を提供します。 ...

FTIRによるシリコン中の不純物の分析は、試料を15K未満の極低温に冷却することで高感度化が可能です。CryoSAS は、この測定手法に必要となる煩雑な操作を極限までシンプルにしたオールインワンの専用システムで、半導体シリコンの産業現場での利用に最適化されています。 CryoSASは、ブルカーの高性能 FTIR 分光計と液体ヘリウムを必要としない閉鎖循環型冷却技術を組み合わせたシステムです。最先端のコンポーネントを数多く採用しつつ、実績を積み重ねた技術との組み合わせにより、要求の厳しいシリコン製造 ...

PMA 50は、偏光変調測定用に開発された外部拡張モジュールで、ブルカーのTENSOR、INVENIOあるいはVERTEXシリーズFTIR分光計と組み合わせて使用します。PMA 50モジュールのすべての光学部品と電子部品が偏光変調測定に最適化されており、PM-IRRASを代表とする直線二色性スペクトル測定ならびにVCD振動円二色性スペクトル測定の両方に対応します。 偏光変調技術の中核は、変調周波数42kHzの光弾性変調器（PEM）にあります。24ビット2チャンネル並列サンプリング技術により、 ...

高度なデジタルエレクトロニクスとブルカーの高品質光学系の組み合わせにより、究極の高性能フーリエ変換型ラマン分光システムを実現しています。直感的で操作性に優れるOPUSソフトウェアが、データの測定から評価解析まで、MultiRAMに関連するあらゆる機能を効率的に制御します。さらにリアルタイムスペクトル表示機能がソフトウェアによるレーザー出力やサンプル位置などの測定条件の最適化操作を可能にしています。 MultiRAMは、3600 ...

... INVENIOシリーズ分光計に接続可能なデュアルチャンネルFT-Ramanモジュールです。VERTEX 80、VERTERX 80v、VERTEX 70vならびにINVENIOの入出力ポートを利用するRAM IIモジュールは、理想的なラマン測定装置を提供します。 直感的で快適な操作性のOPUSソフトウェアは、ラマンスペクトルデータの測定から評価解析まで、あらゆる機能を効率的に制御します。FT-RamanとFT-IR、測定モードの切り替えも非常に簡単です。 ...