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Carl Zeissの高解像度顕微鏡
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イメージングと分析性能を兼ね備えた高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)に、次世代集束イオンビーム(FIB)の処理能力を統合しました。研究所などの複数のユーザーが利用する研究施設に最適です。ZEISS Crossbeamのモジュラープラットフォームなら、大量の材料アブレーションにLaserFIBを使用するなど、増大するニーズに合わせて既存システムをアップグレードできます。ミリング、イメージングや3D解析において、CrossbeamがFIB使用時の作業をスピードアップさせます。 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... ZEISS Sigmaファミリーは、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)のテクノロジーと優れたユーザーエクスペリエンスを兼ね備えています。イメージングと解析ルーチンを構造化することで生産性が向上し、新しい材料、品質検査用の粒子試料、生物・地質試料などの観察に活用できます。妥協のない高分解能イメージングにより、1 kV以下の低加速電圧でも高い解像度とコントラストを達成します。さらに、クラス最高のEDSジオメトリを使用して高度な顕微鏡解析を実行し、より正確な解析データを2倍の速さで取得することができます ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... 高度なコントラスト法に至るまで幅広く対応し、大型かつ重量のある試料でも安定した観察が可能です。 ラボのスペースが限られている場合、PCを使わずAxiovert 5をスタンドアローンモードで使用し、オンスクリーンディスプレイ(OSD)メニューで顕微鏡を操作できます。追加のPCやソフトウェアは一切不要なほか、取得した画像を直接USB機器に保存することも可能です。 電動Zフォーカスと電動XYステージを搭載したAxiovert ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
光軸上ズーム顕微鏡Axio Zoom.V16は、高分解能と16倍のズーム域を実現。長い作動距離とシングル対物レンズにより、オーバービューから微細構造までシームレスにズーム可能です。従来と比べて2倍の優れた分解能が、低倍率~中倍率で大きなタイル画像を素早く簡単にスティッチングします。 広範囲から微細構造までズーム可能 アプリケーションに合わせて最適化されたズーム式顕微鏡 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
世界中の研究者や科学者に選ばれているZEISS Versa X線顕微鏡のパワーを体感してください。VersaXRMは直感的なユーザーインターフェースを備えており、あらゆるユーザーの生産性を最大限に高め、優れた成果を達成します。VersaXRMでは、実用的な環境で求められる高い分解能を重視し、圧倒的な鮮明さで細部まで観察できます。安定性と精度に関する定評を培ってきたZEISSの品質へのこだわりが、Versa XRMのあらゆる面に発揮されています。今後何年にもわたってお客様のニーズにお応えするVersa ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... ビームタイムの中で実験を行う必要があります。シンクロトロンのビームタイムを待つ必要がなくなったらどうでしょう?ご自身のラボでシンクロトロンが使用できる環境を想像してみてください。ZEISS Xradia Ultra Familyでは、非破壊3D X線顕微鏡(XRM)により、ナノスケールの分解能とシンクロトロン並みのクオリティを実現します。最も高頻度で使用されるアプリケーションにおいて最適な画質を得るために設計された2つのモデル、ZEISS ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... 特性評価 合理化された取得ワークフロー、短い露光時間およびデータ再構成のメリットを活用可能 実績のあるXradiaプラットフォームに基づく顕微鏡 Xradia Versaシリーズと同じプラットフォームで開発されたXradia Context microCTで、長年の開発実績と実証された安定性のメリットを活用 高解像度・高品質なデータ収集と再構成の進化に対応したシステム ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
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