Carl Zeissの実験用顕微鏡
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
分解能: 0.7, 1.2 nm
ZEISS GeminiSEMは、サブナノメートルの分解能での手間のかからないイメージングを実現します。これらのFE-SEM(電界放出型走査電子顕微鏡)は、卓越したイメージングと解析能力を兼ね備えています。電子光学系のイノベーションと新しいチャンバー設計により、画質、操作性、柔軟性が向上しました。イマージョンレンズを使用せずに1 kV以下でサブナノメートル画像を取得できます。ZEISS Gemini電子光学系の3種類のユニークな設計をご覧ください。 GeminiSEM ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
EVOファミリーの装置は、高性能な走査電子顕微鏡と直感的でユーザーフレンドリーな使い勝手を兼ね備えており、熟練の顕微鏡ユーザーにも初心者ユーザーにも魅力的なソリューションです。EVOには、生命科学、材料科学、産業界のルーチン品質保証業務や故障解析など、様々な分野の要件に対応できるよう、豊富なオプションが揃っています。 中央顕微鏡検査施設や産業の品質保証研究機関向けの多用途なソリューション ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... ZEISS Sigmaファミリーは、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)のテクノロジーと優れたユーザーエクスペリエンスを兼ね備えています。イメージングと解析ルーチンを構造化することで生産性が向上し、新しい材料、品質検査用の粒子試料、生物・地質試料などの観察に活用できます。妥協のない高分解能イメージングにより、1 kV以下の低加速電圧でも高い解像度とコントラストを達成します。さらに、クラス最高のEDSジオメトリを使用して高度な顕微鏡解析を実行し、より正確な解析データを2倍の速さで取得することができます ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
倍率 : 1 unit - 100 unit
重量: 40, 18 kg
長さ: 721 mm
先端材料研究における光学顕微鏡のワークフローに使いやすさが加わりました。材料研究向けのZEISS Axio Imager 2により、正確で再現性のある結果が得られます。アプリケーションに合ったシステムをお選びください。粒子解析や共焦点顕微鏡、相関顕微鏡向けの専用ソリューションを利用すれば、装置をさらに拡張できます。 再現性のある結果 モジュラー設計 優れた光学性能 再現性のある結果 無振動の作業環境 優れた結果を得るには、システムの安定性が欠かせません。Axio ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
倍率 : 20 unit
長さ: 304 mm
幅: 210 mm
... デジタルドキュメンテーションが簡単に 関心領域を見つけ、鏡基右側にあるスナップボタンを押すだけで、簡単に画像取得が完了します。手を離すことなく顕微鏡と搭載されたカメラを操作できるため、試料の観察に集中できます。 人間工学に基づく設計が快適なラボワークを実現 人間工学に基づいて設計されたAxiolab 5は、ラボのルーチンワークに最適な使いやすい顕微鏡です。スナップボタン、ステージドライブ、フォーカスの微粗動、明るさ調整などの主要な機能を片手で操作できます。 高い経済性と信頼性 Axiolab ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
重量: 32, 14, 20 kg
長さ: 240, 458.5 mm
幅: 293.5, 429 mm
... ユーザビリティと高度な自動化機能を備えた要求の高いルーチン業務に理想的な顕微鏡です。価格は魅力的ながらも高度な研究用光学顕微鏡の優れた機能も兼ね備えています。 信頼できる結果 コード化されたコンポーネントと高度なライトマネージメントを備えたAxioscopeは信頼性と再現性の高い結果を約束します。さらに、電動化されたAxioscope 7の使用で、検査ワークフローを完全に自動化することも可能です。 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... 可以让用户实时完整地查看聚焦的样品,而无需对一系列图像进行Z轴堆叠和后处理。 独特的微镜阵列透镜系统(MALS™)技术可以实现实时景深扩展(EDoF)。 重塑光学规则 微镜阵列透镜系统(MALS™)技术 MALS™可以对不大于69 mm*高度差的样品进行光学检测, 无需进行Z轴堆叠或重新对焦。 使用微镜阵列透镜系统(MALS™)让我们能够改变曲率,生成不同的“虚拟”透镜,从而形成不同的焦平面。以协调的方式改变每个单独微镜片的方向位置即可实现这一点。 快速重塑该“虚拟”透镜的曲率可以实现超快速聚焦以及实时全焦成像和数据记录 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... 高度なコントラスト法に至るまで幅広く対応し、大型かつ重量のある試料でも安定した観察が可能です。 ラボのスペースが限られている場合、PCを使わずAxiovert 5をスタンドアローンモードで使用し、オンスクリーンディスプレイ(OSD)メニューで顕微鏡を操作できます。追加のPCやソフトウェアは一切不要なほか、取得した画像を直接USB機器に保存することも可能です。 電動Zフォーカスと電動XYステージを搭載したAxiovert ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
世界中の研究者や科学者に選ばれているZEISS Versa X線顕微鏡のパワーを体感してください。VersaXRMは直感的なユーザーインターフェースを備えており、あらゆるユーザーの生産性を最大限に高め、優れた成果を達成します。VersaXRMでは、実用的な環境で求められる高い分解能を重視し、圧倒的な鮮明さで細部まで観察できます。安定性と精度に関する定評を培ってきたZEISSの品質へのこだわりが、Versa XRMのあらゆる面に発揮されています。今後何年にもわたってお客様のニーズにお応えするVersa ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
シンクロトロンX線ナノトモグラフィでは、ナノスケールの非破壊3次元イメージングが可能となるものの、極めて限られたビームタイムの中で実験を行う必要があります。シンクロトロンのビームタイムを待つ必要がなくなったらどうでしょう?ご自身のラボでシンクロトロンが使用できる環境を想像してみてください。ZEISS Xradia Ultra Familyでは、非破壊3D X線顕微鏡(XRM)により、ナノスケールの分解能とシンクロトロン並みのクオリティを実現します。最も高頻度で使用されるアプリケーションにおいて最適 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
改善のご提案 :
詳細をお書きください:
サ-ビス改善のご協力お願いします:
残り