Chotestの厚さ測定システム

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形状測定システム
形状測定システム
VX8100

... 商品番号: VX8100 製品名: フラッシュ測定機 撮像素子:20M CMOS 視野:W130mm×L20mm & W200mm×L100mm 被写界深度:3mm & 30mm 作動距離:120mm 精度:±2μm(ステッチなし)&±5μm(ステッチなし) 分解能 0.1μm 積載量:5kg サイズ(LxWxH): 500×280×670mm 重量:30kg VX8100フラッシュ測定機は、ワンキーオペレーションによる高速寸法測定を実現しました。VX8000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形 ...

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Chotest Technology Inc.
位置測定機
位置測定機
Novator333

... CHOTEST Novator333は、優れた精度とスピードを実現する自動ビデオ測定器(AVMM)です。高解像度カメラとダブルテレセントリック光学系がサブミクロンの精度を実現し、電動ステージが迅速な測定サイクルを保証します。ユーザーフレンドリーなソフトウェアは、自動部品認識、カスタマイズ可能なルーチン、詳細なデータ解析により操作を簡素化します。エレクトロニクス、機械加工、自動車などに最適なNovator333は、さまざまな業界の品質管理を向上させます。 ...

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皮膜厚測定システム
皮膜厚測定システム
MX3200

... 顕微鏡測定機MX3200は、顕微鏡画像と従来のビデオ測定を組み合わせることで、微小形状の広範囲な測定を実現しました。電動ターレットを搭載し、レンズの切り替えにより、点、線、円、幾何公差など、様々な微小2次元サイズの測定が可能です。 ...

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直径測定機
直径測定機
SJ5100-UP300

... 商品番号:SJ5100-UP300 製品名: 万能測長機 内側の測定範囲 0.7〜900ミリメートル 外の測定範囲:0〜1040ミリメートル 分解能 0.01μm 繰り返し精度:0.1μm 最大ねじピッチ: 250ミリメートル(プラグ)/ 200ミリメートル(リング) 測定力範囲 0.1、0.3、0.5、(1〜10)N連続的に手で調整可能 メーカーChotest ...

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幾何学測定機
幾何学測定機
SJ5200-100

... することができ、さらに、それは自動的にスレッド曲線、関連するパラメータと分析チャートを生成します。 7.測定プローブとワークホルダーは自動的に識別され、誤操作による測定プローブの衝突を防ぎます。 8.ゲージの片側または両側測定と分析。 9.測定ピンの位置決め用コントローラー:使いやすいボタン式コントロールボックスにより、操作がより柔軟になります。 10.ユーザーフレンドリーな英語ソフトウェアシステムとシンプルで便利な操作。 ...

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直径測定機
直径測定機
SJ5200-160

... または両側測定と分析。 9.測定ピンの位置決め用コントローラー:使いやすいボタン式コントロールボックスにより、操作がより柔軟になります。 10.ユーザーフレンドリーな英語ソフトウェアシステムとシンプルで便利な操作。 11.テスト結果は、簡単に認識することができ、測定シリーズ番号の名前+測定ゲージのサイズ+測定ゲージの種類で自動的に保存されます。測定記録の集中データベース管理により、ユーザーは、オブジェクトの種類、試験機関、製造番号、検査官、提出機関、機器番号、検査日、有効日などに応じて測定記録を照会 ...

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直径測定機
直径測定機
SJ5500-300

... それは自動的にスレッド曲線、関連するパラメータと分析チャートを生成します。 7.測定プローブとワークホルダーは自動的に識別され、誤操作による測定プローブの衝突を防ぎます。 8.ゲージの片側または両側測定と分析。 9.測定ピンの位置決め用コントローラー:使いやすいボタン式コントロールボックスにより、操作がより柔軟になります。 10.ユーザーフレンドリーな英語ソフトウェアシステムとシンプルで便利な操作。 11.テスト結果は、測定シリーズ番号+ゲージのサイズ+の名前で自動的に保存されます ...

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直径測定機
直径測定機
SJ5500-400

... 商品番号: SJ5500 製品名: SJ5500 万能ネジ測定機 内側測定範囲:2.5〜620ミリメートル 外の測定範囲 1.0~620mm 分解能 0.01μm 最大測定長さ:250ミリメートル 最小スレッドピッチ:0.1ミリメートル 測定力範囲 0.04 ~ 0.15N アプリケーション2~5分でプラグまたはリングゲージのすべてのパラメータを測定します。 メーカーChotest ...

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厚さ測定機
厚さ測定機
BOKI_1000

... クリティカルディメンション&オーバーレイ測定システムは、高精度XY平面寸法検査とサブナノメーター表面3Dトポグラフィー測定の両方を行うことができる光学検査装置です。大面積の多領域を高精度に自動スキャンでき、再現性に優れているため、測定効率が大幅に向上し、ヒューマンエラーを低減します。 高解像度の光学レンズを搭載し、高精度の画像解析アルゴリズムを組み合わせることで、CNCモードでは、システムが自動的に測定オブジェクトを配置&認識し、自動的にプログラムに従ってすべてのサイズを測定し、評価することができます。同時 ...

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