Chotestの無接触測定システム

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周辺測定機
周辺測定機
VX3030

... VX3000シリーズは、精密画像解析アルゴリズムによる視覚測定原理に基づき、被写界深度の深いダブルテレセントリック光学レンズを搭載し、ワンキー操作による高速寸法測定を実現したフラッシュメジャリングマシンです。VX3000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、ハードウェア、ゴム、低電圧電気製品、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 用途 VisionXソフトウェアは、最大80の抽出分析ツールを提供 ...

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Chotest Technology Inc.
幾何学測定機
幾何学測定機
VX3030D

... VX3000シリーズは、精密画像解析アルゴリズムによる視覚測定原理に基づき、被写界深度の深いダブルテレセントリック光学レンズを搭載し、ワンキー操作による高速寸法測定を実現したフラッシュメジャリングマシンです。VX3000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、ハードウェア、ゴム、低電圧電気製品、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 アプリケーション VisionXソフトウェアは、最大80の抽出分析ツール ...

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アングル測定機
アングル測定機
VX3100D

... VX3000シリーズは、精密画像解析アルゴリズムによる視覚測定原理に基づき、被写界深度の深いダブルテレセントリック光学レンズを搭載し、ワンキー操作による高速寸法測定を実現したフラッシュメジャリングマシンです。VX3000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、ハードウェア、ゴム、低電圧電気製品、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 アプリケーション VisionXソフトウェアは、最大80の抽出分析ツール ...

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幾何学測定機
幾何学測定機
VX3200D

... VX3000シリーズは、精密画像解析アルゴリズムによる視覚測定原理に基づき、被写界深度の深いダブルテレセントリック光学レンズを搭載し、ワンキー操作による高速寸法測定を実現したフラッシュメジャリングマシンです。VX3000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、ハードウェア、ゴム、低電圧電気製品、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 アプリケーション VisionXソフトウェアは、最大80の抽出分析ツール ...

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周辺測定システム
周辺測定システム
VX1100

... VX1100は、機械、電子機器、金型、射出成形、金物、ゴム、低電圧電化製品、磁性材料、精密プレス、コネクター、端子、携帯電話、家電製品、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 ...

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直径測定機
直径測定機
VX4230S

... VX4230S 製品名: フラッシュ測定機 撮像素子:12M CMOS 視野:φ230mm 被写界深度:50mm ワーキングディスタンス400mm 精度:±5μm(ステッチなし) 分解能 0.1μm 積載量:15kg サイズ(LxWxH):830×605×2030mm 重量:375kg 機械、電子、金型、射出成形、金物、ゴム、低圧電化製品、磁性材料、精密プレス、コネクター、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 ...

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次元測定機
次元測定機
Novator333

... CHOTEST Novator333は、優れた精度とスピードを実現する自動ビデオ測定器(AVMM)です。高解像度カメラとダブルテレセントリック光学系がサブミクロンの精度を実現し、電動ステージが迅速な測定サイクルを保証します。ユーザーフレンドリーなソフトウェアは、自動部品認識、カスタマイズ可能なルーチン、詳細なデータ解析により操作を簡素化します。エレクトロニクス、機械加工、自動車などに最適なNovator333は、さまざまな業界の品質管理を向上させます。 ...

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皮膜厚測定システム
皮膜厚測定システム
MX3200

... 顕微鏡測定機MX3200は、顕微鏡画像と従来のビデオ測定を組み合わせることで、微小形状の広範囲な測定を実現しました。電動ターレットを搭載し、レンズの切り替えにより、点、線、円、幾何公差など、様々な微小2次元サイズの測定が可能です。 ...

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厚さ測定機
厚さ測定機
BOKI_1000

... クリティカルディメンション&オーバーレイ測定システムは、高精度XY平面寸法検査とサブナノメーター表面3Dトポグラフィー測定の両方を行うことができる光学検査装置です。大面積の多領域を高精度に自動スキャンでき、再現性に優れているため、測定効率が大幅に向上し、ヒューマンエラーを低減します。 高解像度の光学レンズを搭載し、高精度の画像解析アルゴリズムを組み合わせることで、CNCモードでは、システムが自動的に測定オブジェクトを配置&認識し、自動的にプログラムに従ってすべてのサイズを測定し、評価することができます。同時 ...

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