Hitachiの卓上型分析器

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皮膜厚分析器
皮膜厚分析器
FT200 Series

... スマートなコーティング分析で、より速く、接続された測定を実現 卓上型蛍光X線分析装置FT200シリーズは、測定時間を大幅に短縮するために設計されました。サンプルのセットアップと測定レシピの選択に最も時間がかかることを認識し、日立のエンジニアは、効果的に「セットアップ」する一連の画期的な分析装置を開発しました。 自動化と革新的なソフトウェアがFT230とFT210分析計の特徴です。Find ...

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Hitachi High-Tech Analytical Science
金属分析器
金属分析器
OE720

... 高性能な金属分析を低価格で実現 OE750とNEW OE720は、画期的なOES金属分析装置です。低検出限界と最新のマルチCMOS技術により、金属*の全元素スペクトルをカバーします。 業界規制の強化、複雑なサプライチェーン、スクラップの母材としての利用の増加により、鋳造所や金属メーカーにとって、主要元素、残留元素、不純物、微量元素を最低ppmの範囲で管理することが極めて重要となっています。これまで、このレベルのOES分析は、多くの企業にとって手の届かないものでした。しかし、OEシリーズがそれを ...

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卓上型分析器
卓上型分析器
HM1000

... オートサンプラーを搭載しているため、大量分析がより簡単になります。この50検体の分析をベンチトップ型分析装置で行うと、最短で8時間で分析が完了します。 低ランニングコスト HM1000Aは、他のフタル酸エステル検出方法と異なり、ランニングコストが非常に低いのが特徴です。サンプルホルダーは安価で、窒素中で測定を行うため、高価なヘリウムを購入し保管する必要がありません。 直感的で使いやすい HM1000Aはとても使いやすいので、少しトレーニングすれば誰でも使えるようになります。質量分析計のソフトウェアは直感的に ...

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卓上型分析器
卓上型分析器
LAB-X5000

... でパワフルなエネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)、分光計X-Supreme8000、Lab-X3500による蛍光X線分析(XRF)です。例:石油、原油、木材処理、鉱物、鉱業、化粧品、セメント、紙など 操作が簡単 サンプル前処理が最小限又は不要 低い検出限界 過酷な環境に対応する堅牢な設計 ユーザーカスタマイズやメソッド開発に対応する柔軟なソフトウェア 簡単な機器パラメーター 総合的な定性分析又は完全な定量分析 定性又は完全な定量分析を実行できる柔軟性 Lab-X3500 ...

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固形分析器
固形分析器
EA1000AIII

... スクリーニングのための校正の自動選択 元素の範囲Al (13) - U (92) 材料分析:経験的検量線と標準なし(FP)検量線を使用した完全な定性・定量分析 薄膜(コーティング厚さ)分析(オプション) 試料種類:固体、液体、粉体 検出器シリコンPINダイオード 5種類のプログラマブルフィルターによる測定条件の最適化 分析雰囲気大気 分析エリア直径:1mm、3mm、5mm(プログラム可能) 試料観察:カラーCCDカメラ 単一試料分析、12ポジションサンプルチェンジャー(オプション) チャンバーサイズ:370( ...

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危険な環境用分析器
危険な環境用分析器
EA1400

... 92)(真空オプション付き 材料分析:経験的検量線と標準なし(FP)検量線を使用した完全な定性・定量分析 薄膜(コーティング厚さ)分析(オプション) 試料種類: 固体、液体、粉体 検出器高分解能シリコンドリフト検出器(SDD)により、最適な分光分解能と測定精度を実現 5つのプログラマブルフィルターによる測定条件の最適化 分析雰囲気大気圧、真空(オプション)。 分析エリア直径:1mm、3mm、5mm(プログラム可能) 試料観察:カラーCCDカメラ シングルサンプル分析、12ポジションサンプルチェンジャー ...

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金属分析器
金属分析器
X-Strata920

マイクロスポット(XRF)コーティング膜厚と材料分析装置を使用し、品質管理とバリデーションテストを行い、簡単に結果を得ることができます。 蛍光X線分析(XRF)に基づく膜厚と材料分析は、業界で広く使用され実証された分析技術であり、簡単で高速、非破壊的な分析が可能で、ほとんどサンプル処理を必要とせず、固形又は周期律表のアルミニウム(13)からウラン(92)までの広い範囲の液体まで分析可能です。 PCB ...

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皮膜厚分析器
皮膜厚分析器
FT110A

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皮膜厚分析器
皮膜厚分析器
FT160 Series

... ナノスケールのコーティングを高速・高精度に分析することが可能 ベンチトップ型蛍光X線分析装置FT160は、今日のPCB、半導体、マイクロコネクタに見られる微小な特徴を測定するために設計されています。微小な形状を正確かつ迅速に測定することにより、生産性を向上させ、コストのかかる再加工や部品の不良品を回避することができます。 FT160のポリキャピラリー光学系は、50μm以下のフィーチャーのnmスケールコーティングを測定でき、高度な検出器技術により、短い測定時間を維持しながら高い精度を得ることができます ...

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金属分析器
金属分析器
FOUNDRY-MASTER Smart

... あらゆる金属加工に不可欠です。 発光分光装置(OES)は、広範囲の金属の元素組成分析に広く使用されている信頼性の高い分析技術です。 弊社の固定式発光分光装置は、最高レベルの精度の正確な分析結果提供します。ソフトウェアパッケージはパワフルで使いやすく、ほぼ全てのアプリケーションをカバーしています。 幅広い元素を対象としており検出限界が低い 底金の痕跡や別の元素が混入していても主要な金属と合金の分析が可能 スチールの窒素を含む、ほぼ全ての関連元素をカバーする業界最大の広いスペクトル ...

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