Hitachi/日立の2次電子顕微鏡

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000II ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.8 nm

SU8700は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 ショットキーFE電子銃搭載により、極低加速電圧観察から大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.8 nm

... の迅速取得を目ざして設計されました。 複数の二次電子信号・反射電子信号が同時に取得できるようにデザインされた電子光学系/検出系はより短い時間で多くの情報をユーザーにもたらします。 2.マルチチャンネルイメージング イメージングニーズの増加に伴い、装着される検出器の数も増加していますが、表示もそれに見合う機能が必要です。 SU7000では最多6チャンネルでの信号同時表示/保存が可能です。 取得情報の最大化を強力にアシストします。 3.多様な試料形状・観察手法に対応 • ...

分解能: 1.2 nm

... （～200 mmΦ、～80 mmH）対応のドローアウト試料室を採用、試料室を開放しても対物絞りの汚染に配慮した構造です • 加熱・引張りステージなどの特殊アプリケーションにも簡便に対応可能 • コニカル対物レンズにより、大型磁性体試料観察やEBSD測定もよりスムーズに行えます 強力な光学系・検出系 • 低エネルギー観察時の分解能は1.6 nm@1 kV*1 • 真空/低真空ともに照射電流は最大200 nA以上*2 • ...

倍率 : 5 unit - 800,000 unit
分解能: 15, 4, 3 nm

高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ①大型試料に対応 ■大型/重量試料対応ステージ • リスクを低減する試料交換シーケンス • スループットを向上する試料交換室 • ...

倍率 : 6 unit - 800,000 unit
分解能: 4, 5, 15 nm

... nmの像分解能を実現。 新開発のユーザーインターフェース、電子光学系が高性能をさらに身近にします。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク FlexSEM 1000 IIは、新設計の電子光学系と高感度検出器により、加速電圧20 kVで像分解能 4.0 nmを実現しています。新開発のユーザーインターフェースは、明るさやフォーカスの自動調整機能の高速化により、短時間で多彩な観察を可能にします。また、電子顕微鏡の欠点であった視野探しの困難さを容易にする新ナビゲーション ...

倍率 : 10 unit - 25,000,054 unit
重量: 54 kg
長さ: 614, 617 mm

... 目的にあわせて観察できます。 低真空下での二次電子像（表面形状）観察を実現します。 前処理不要で絶縁物や水分・油分を含む試料の表面観察を実現 これまでの導電性試料の観察だけでなく、絶縁物や含水・含油試料まで前処理なしでそのまま観察できます。二次電子像⇔反射電子像の切替も素早く行えます。 高感度低真空二次電子検出器 高感度低真空二次電子検出器（UVD）を採用。電子線と残留ガス分子との衝突によって発生した光を検出することにより、二次電子情報を持った画像を観察することができます。また、本検出器 ...

倍率 : 20 unit - 8,000,000 unit
分解能: 0.08, 0.1 nm

... 走査透過電子顕微鏡｢HD-2700｣搭載の日立製球面収差補正器や、その自動補正機能、収差補正SEM像やシンメトリーDual SDDなどの特長を受け継ぐとともに、透過電子顕微鏡HFシリーズで培ってきた技術を結集・融合しました。 ハイエンドユーザーをはじめ幅広いユーザー向けに、サブÅレベルの空間分解能と高分析性能を、より多様な観察・分析手法とともにご提供します。 0.078 ...