Jeolの高解像度顕微鏡

... 特化した、クライオ電子顕微鏡です。単粒子構造解析やトモグラフィー、電子線結晶構造解析などの各手法に対応しています。 CRYO ARM™ 300 II は、顕微鏡の安定性とスループットの更なる向上だけでなく、操作性もよりシンプルになっています。また、サンプルのスクリーニングから画像データ取得までを一体化した顕微鏡です。そしてユーザーに合わせた運用を可能にする高い自由度を持っています。顕微鏡に不慣れな方であっても、簡単な操作で質の高い顕微鏡写真を得られる次世代のクライオ電子顕微鏡です。 特長 ...

新型原子分解能電子顕微鏡 "GRAND ARM™2" 登場! 原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM300F "GRAND ARM™" を さらに進化させ、低加速から高加速までさまざまな加速電圧にて、超高空間分解能観察と高感度分析を両立させました。 特長 特長1 新開発対物レンズFHP2 加速電圧300 kV対応の超高空間分解能観察用対物レンズポールピースFHPの性能はそのまま維持しつつ、大面積（158 ...

ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHR*シリーズの4世代のモデルです。 自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上により、見えたその先をさらに探求したくなる装置です。 *HR=High Resolution

JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。 試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。 特長 TEM-LINKAGE 二軸傾斜カートリッジ※とTEM ホルダー※によりTEM ⇔ FIBのリンクを容易にします。 カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着できます。 ●二軸傾斜カートリッジ※による試料搬送フロー Oxford Instruments ...

分解能: 0.23, 0.19, 0.14, 0.16 nm

... 分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 特長 • Smart design JEM-F200 は『スマートさ』を追求した新たな装いになっています。 特に分析電子顕微鏡操作について、直感性を重視したユーザーインターフェースを新たに開発しました。 また、JEOL ...

倍率 : 10 unit - 1,500,000 unit
分解能: 0.14, 0.2 nm

... 瞬Flashカメラとコラボレーションすることで取得画素数の制限が無くリミットレスな広域パノラマ写真を自動で撮影をすることが可能となりました。 • 新機能　光学顕微鏡画像リンク機能　Picture Overlay 光学顕微鏡などであらかじめ取得したデジタル画像を電子顕微鏡像に重ねて表示することができます。これにより光学顕微鏡で観察した蛍光箇所の高分解能観察を容易に行うことが可能です。 • ...

... 同じ試料台を光学顕微鏡と走査電子顕微鏡の両方で使用できるようになった。その結果、専用ソフトウェアでステージ情報を管理することで、光学顕微鏡で観察した場所を記録し、さらに走査電子顕微鏡で拡大観察することで、より高倍率・高分解能で微細構造を観察することが可能になりました。光学顕微鏡像と走査電子顕微鏡像の比較検証がスムーズかつ容易に行えるようになりました。 特徴 カラーによるデータ取得と直感的な観察が可能 SEM像では得られない光学顕微鏡像の可視光色情報を付加することで、より直感的な視覚効果を持つ ...

倍率 : 20 unit - 1,000,000 unit
分解能: 4, 1.6, 1.2 nm

... 三次元可視化が可能です。 • ステージリンケージ機能 大気中ピックアップシステム（オプション）とのステージリンケージ機能により簡単にTEMサンプル摘出ができます。 • ピクチャーオーバーレイシステム 大気中ピックアップシステムに搭載された光学顕微鏡像をFIB像にオーバーレイ表示することで、FIB加工位置の指定が容易になります。