Keller ITSの°C温度計

温度域: 450 °C - 1,800 °C
スペクトル領域: 0.82 µm - 0.93 µm

... CellaWafer PA 38は450～1,800 °Cのウェーハ温度測定用のデジタルパイロメーターです。測定波長が非常に短波で狭帯域であるため、シリコンウェーハや金属（タングステン、モリブデンなど）の測定に特に適しています。さらに、測定対象物の放射率の変化にも無感覚に反応します。 特徴 測定範囲 450～1800 °C 測定距離を正確に調整できる焦点交換式レンズ 広帯域反射防止精密レンズ 短波長および狭帯域スペクトル範囲 金属やシリコンウェハーの精密測定に最適 LEDディスプレイは遠くからでも ...

温度域: 0 °C - 1,000 °C
スペクトル領域: 8 µm - 14 µm

... CellaTemp® PR 11は、0～1000℃の温度範囲で、安全な距離から、非接触で、磨耗することなく、高速に温度を測定することができるスマートな赤外線温度計です。 ...

温度域: 250 °C - 1,600 °C

... CellaTemp® PR 21は、250～1600℃の温度範囲において、安全な距離から非接触で素早く温度を測定できる、スマートな赤外線温度計です。 ...

温度域: 0 °C - 1,000 °C
精度: 0.75 %
スペクトル領域: 8 µm - 14 µm

... CellaTemp® PKL 11には、LEDスポットライトが内蔵されています。 スポットライトは、赤外線温度計を調整してホットゾーンを表示し、正確な焦点距離を調整するのに役立つため、Ø 1.2mmの小さな測定対象物に特に不可欠です。 LEDスポットライトは連続的に点灯し、その永続的な制御機能により、高い操作安全性を提供します。 ...

温度域: 250 °C - 1,600 °C
精度: 0.3 %
スペクトル領域: 1 µm - 1.7 µm

温度域: 500 °C - 2,500 °C
精度: 0.2 %
スペクトル領域: 0.8 µm - 1.1 µm

温度域: 650 °C - 1,600 °C
精度: 1 %
スペクトル領域: 1 µm - 1.1 µm

... 2 色の赤外線温度計 CellaTemp® PKL 68は、物体の赤外線放射を同時に2つの波長でデュアルフォトダイオード（サンドイッチ設計）で捉えます。 温度は、これら 2 つの信号の比によって定義されます。 ...

温度域: 750 °C - 3,000 °C

... CellaCrystal PX 44は、SiおよびSiC結晶製造における光学温度測定用に開発されました。校正は特に成長プロセスに適合しています。全測定範囲にわたって常に0.1 K未満の高い分解能を持つハイブリッド信号評価と、均一光センサー技術による非常に高い長期安定性により、この装置は要求される測定精度に対する高い要求を満たしています。 特別な特徴 測定範囲 750～3,000 °C PX 44 ...

温度域: 900 °C - 3,200 °C

... グラファイト、グラフェン、結晶の製造における光学的温度測定のために開発されました。商測定法に基づくこの高温計は、非常に広い測定範囲と、全測定範囲にわたって<0.1 Kという一定の高い分解能を持つことが特徴です。また、長期安定性が非常に高いため、生産工程で必要とされる高い測定精度の要件を満たしています。レンズ越しの照準やビデオカメラを使って、パイロメーターを測定ポイントに正確に位置合わせすることができます。 主な特長 測定範囲 900～3200 ...

温度域: 500 °C - 1,400 °C

... CellaCrystal PX 64は、CVD（化学的気相成長）コーティングプロセスにおける温度測定に使用されます。特殊な波長により、このパイロメーターはプラズマアシスト蒸着にも使用できます。 ...