Malvern Panalyticalの測定用分光器

客様は、生産場所に関係なく、ポリマー性能の優れた一貫性と消費者の安全を求めています。 Epsilon 4は、エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)のベンチトップ分光計です。優れた再現性と精度を持つ元素分析を実行できるため、お客様が満足する一貫性を提供できます。 簡単な測定手順と限られた設備要件により、生産ラインの近くや、複数の生産場所で再現可能な解析を実行できます。 Epsilon ...

... ロール・ツー・ロール生産における材料使用量、コスト効率、製品品質に革命をもたらすオンライン蛍光X線技術革新であるイプシロンXラインに焦点を当てた特別イベントにご招待いたします。 ダイナミックな座談会では、イプシロンXラインの開発者2名をお招きします：プロダクトマネージャーのミッシェル・ゾーンチェス氏と、電気・機械エンジニアリングマネージャーのクリス・ゴートメーカー氏です。イプシロンXラインの背後にあるビジョンと目的、そしてそれを可能にした技術革新についてご紹介します。 学ぶことは以下の通りです： - ...

... 化学組成を数秒で解析 緊急を要するプロセス管理やサンプルの高スループット実行のために、化学組成の非破壊解析を数秒で実行する必要がありますか？ 最大28種類の元素がppmから100%までの濃度範囲で同時に測定される場合、Malvern Panalytical Axios FAST同時WDXRF分光計は理想的なソリューションです。 正確なロバスト解析、経験の浅いスタッフでも簡単なオペレーション、高い稼働率は、低い所有コストと密接なつながりがあります。 緊急を要するアプリケーションで速く結果を ...

波長: 785 nm
長さ: 520 mm
幅: 810 mm

... 形態学的に指示したラマン分光法（MDRS）を介して粒子混合物の詳細な成分固有の形態学的説明が提供されます。 これにより、単一の統合されたプラットフォームで自動粒子画像解析とラマン分光法を組み合わせて、複雑な粒子特性評価の問題を解決することができます。 特許取得の MDRS 機能により、代表的な成分固有の粒子径と粒子形状データが提供され、試料の完全な特性評価を行うことができる モフォロギ ...

... しない元素の特定、スペクトルのアーカイブなど、従来の用途に大きなメリットをもたらします。 微小スポット分析の追加とEDコアを使用したマッピングオプションにより、実用的で時間効率の良いデータ収集を行えます。 スポットごとにEDコアで測定されたすべてのスペクトルは、測定時間が大幅に短縮され、スタンダードレスの定量化されたデータを取得できます 感度およびスループット 高速サンプルチェンジャを備えた高容量サンプルベッドと連続装填により、高サンプルスループットに最適です ...

2830 ZT波長分散型蛍光X線(WDXRF)ウェハーアナライザは、膜厚・組成を測定するための究極の機能を提供します。 2830 ZTウェーハアナライザは半導体およびデータストレージ業界向けに開発されており、最大300 mmの各種ウェーハの層の組成、厚さ、ドーパントレベル、表面の均一性を測定できます。 連続分析能力と速度 4 kW SST-mAX X線管球には、管球の経年劣化による影響を排除する先進のZETAテクノロジが採用されています。 ...