Malvern Panalyticalの回折計

多目的X線回折装置Empyrean（エンピリアン）に搭載された新開発MultiCore Opticsは、多様なサンプルを簡単な操作で測定することを可能にしました。 Empyreanは、1つの装置で、粉末から薄膜、ナノ材料から固形物まで、あらゆるサンプルタイプを測定する独自の機能を搭載しています。 材料科学の世界は変化を続け、あらゆる研究プロジェクトの分野において、高性能な回折装置の耐用年数は長くなっています。 ...

... します。 管球ハウジングのPreFIXコンセプトにより、Kα1専用の構成からKα1、2の構成に数分で簡単に切り替えることができます。 Empyrean Alpha-1は、Malvern PanalyticalのEmpyrean X線レーザ回折システムシリーズの装置です。 Alpha-1では、独自の対称ヨハンソン型単色光分光器は、比類のない解像度、優れたピーク対称、および極低バックグラウンドを含むデータを提供し、構造解析のニーズに完全に対応します。 あらゆる結晶構造のニーズに対応する ...

... マルバーン・パナリティカルのX線回折装置(XRD)として、産業用途における卓上型での最良データ取得と完全自動化の実現を可能にします。 Aerisは低価格で提供できるように設計されたX線回折装置（XRD）で、アプリケーション特有のニーズに合わせて4タイプのエディション(セメント（Cement）、鉱物（Minerals）、金属（Metals）、および研究（Researchエディション)もご用意しています。  ...

長い歴史と高い評価を誇るMalvern Panalyticalの物質調査回折装置(MRD)は、新世代のX’Pert³ MRDとX’Pert³ MRD XLでも使用されています。 新しいプラットフォームの向上したパフォーマンスと信頼性により、X線散乱法研究用の分析能力と機能が強化され、次の分野に対応します。 • 最先端材料科学 • 科学および産業用薄膜技術 • 半導体プロセス開発での計量特性評価 両方のシステムでは、100 ...

当社独自のスキャン方式を使用して、完全な結晶方位を数秒で正確に決定します。DDCOMは、エネルギー消費と運用コストが低く効率的であるため、研究用途と産業用途の両方に最適です。 概要 指先で簡単に超高速、正確(最大1/100°)の結晶方位を測定できます。DDCOMでは、上面照射の測定配置により、従来の方式よりも100倍以上の速さで信頼性の高い結果を取得し、時間をさらに節約できます。この汎用性の高い装置は、空冷式X線管球とポータブル設計を採用しているため、ランニングコストを削減し、利便性を最大限に高め、品質管理、マーキング、研究用途に最適です。 特長と利点 超高速高精度 当社独自のスキャン方式は、試料の1回転スキャンだけで結晶方位の決定に必要なデータをすべて収集できるため、数秒で(単回転)で正確な結果が得られます。 ...

1 mmのサイズから結晶を測定することができるSDCOMは、方位角スキャン方式を使用して、1回転の測定のみで単結晶の完全な格子方位をわずか数秒で正確に決定します。研究と生産の両方の品質管理に適した汎用性と操作しやすいSDCOMは、幅広いウェハやインゴットのプロセスステップに簡単に適合し、冷却水を必要としません。 概要 迅速かつ正確な結晶方位測定がこれまでになく簡単に実施できるようになりました。使いやすいコンパクトXRDであるSDCOMをご利用ください。方位角スキャン方式は超高速測定が可能になり、結果は5秒以内に返されます。 ...

X線結晶方位測定装置 Omega/Theta XRDは、結晶方位を決定するために、精度と速度の究極の組み合わせを提供します。わずか10秒で結果が返されるOmega/Theta XRDは、バーコードリーダから結晶スタッキングフレームまで多くのプロセスアクセサリを備えており、重量30 kg、長さ450 mmまでの幅広いサンプルに対応できます。測定された方位を加工ツールに転送するための信頼できるパートナーです。 概要 Omega/Theta XRDは、変化しやすい半導体様相において結晶方位を決定するための信頼でき将来も使い続けることのできるパートナーです。市場をリードする精度、超高速測定速度、ハイエンドの製造品質が自動化機能と組み合わされて、プロセスがあらゆる状況に対応できるようになります。Omega/Theta ...

... 200は、結晶方位と多数の追加オプションを備えたウェハ形状パラメータに基づいてウェハを選別するための超高速、高精度の自動システムです。 概要 Wafer XRD 200は、ウェハの製造と研究に対応する完全に自動化された、これまでない高速X線回折プラットフォームです。 Wafer XRD 200は、結晶方位や抵抗率、ノッチやフラットなどの幾何学的特徴、距離測定など、さまざまな重要なパラメータに関する重要なデータをわずか数秒で提供します。お客様のプロセスラインにシームレスに適合するように ...

ファクトリーオートメーションの機能と当社の次世代X線回折技術が融合します。Wafer XRD 300は、結晶方位とウェーハ形状及び寸法制御用の超高速、高精度の計測モジュールです。 概要 Wafer XRD 300のご紹介: 300mmウェハ生産用の高速X線回折モジュールで、結晶方位やノッチ、フラットなどの幾何学的特徴など、さまざまな重要なパラメータに関する重要なデータを提供し、プロセスラインにシームレスに適合するように設計されています。 特長と利点 当社独自のスキャン技術による ...

... 専門ソリューション。XRD-OEMは、最も過酷な環境でのパフォーマンスを最適化して、生産性を向上させ、品質管理を確保し、生産プロセスを最適化する堅牢なソリューションです。 概要 XRD-OEMは、生産プロセスに大きな変革をもたらします。このX線回折装置は、研削やソーイングの厳しい条件に耐えるように設計されており、業界標準のインターフェースにより、あらゆる処理システムとシームレスな統合を実現します。XRD-OEMは、インゴット、ブール、またはパネルの独立した方向測定を提供し、平面と円周の両方での ...