Steinmeyerの品質管理用配置システム

繰返し精度: 1 µm
積載量: 15 kg
ストローク: 200 mm - 1,000 mm

... 高度にダイナミックなアプリケーションに対応するXYZガントリー カスタマイズ可能 - 高精度かつダイナミックなアプリケーションに最適 - 1300 x 800 mmの非常に広い移動範囲 - 高加速度・高速度と高精度の両立 このガントリーは、1300 x 800 mmの領域で、非常にダイナミックな動きを可能にします。カスタマイズされた加工ヘッドやZ軸のセンサーは、グラナイト上のキャリア上を素早く、スムーズに移動します。プロファイルされたレールガイドは、花崗岩に直接取り付けられており、サブミクロンの再現性の高い結果を得るために最適な走行特性を提供します。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.3 µm - 2.5 µm
積載量: 5 kg - 20 kg
ストローク: 100 mm - 720 mm

... x 720 x 100 mmの非常に大きな移動範囲 - 2つのプロセスを同時に統合することが可能 クリーンルーム用4軸で構成され、複数の対象物を同時に自動計測できる検査システムです。高いダイナミクスと最高の再現性を実現しています。片側1台の高解像度カメラまたはセンサーをサンプルに対して相対的に移動させ、形状の検査、測定、特別な品質特性の記録を行います。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.005 µm - 4.4 µm
積載量: 5 kg - 25 kg
ストローク: 100 mm - 365 mm

... 8軸位置決めシステム / ゴニオメーター カスタマイズ可能 - 様々な角度から8軸の検査を自動化 - カメラ/センサー/照明を共通の中心点を中心に旋回させる同軸回転システム - ディスプレイの検査に最適 8軸の位置決めシステムにより、さまざまな形状のサンプルや部品の分析・検査が可能です。カメラ／センサーは、試料を挟んで傾けたり、高さを調整したりすることが可能です。また、サンプルキャリアを測定面に対して平行に傾けることで、サンプルの個体差を補正することが可能です。XY ...

繰返し精度: 0.001 µm - 4.5 µm
ストローク: 50 mm - 360 mm
速度: 50 mm/s - 200 mm/s

... XZ-Phiシステム カスタマイズ可能： - 高精度計測システムのセットアップに最適 - サブマイクロメータ領域で最大0.1 µm / 0.0001°の測定システム分解能 - 0.3 µmまでの高精度繰り返し精度 - 最大0.001°までの微細な回転運動 - 極めて長い耐用年数による低メンテナンス このX-Z-Phi多軸位置決めシステムは、高精度で耐久性の高い標準軸（PMT160-300-EDLM、MT130-50-DC、DT170-TM）で構成されており、これらを理想的に組み合わせることで、 ...

繰返し精度: 0.3 µm - 1.7 µm
ストローク: 100 mm - 300 mm
速度: 25 mm/s

... 検査と品質管理のためのXYZシステム カスタマイズ可能 - 0.3μmまでの非常に高い振れ精度と繰り返し精度 - 費用対効果の高いドライブで150Nまでの荷重を位置決め - 最大50mm/sの高速回転 - ランダム誤差の最小化 - 既存のカメラシステムやセンサーとの容易な統合と柔軟な組み合わせ 位置決めシステムは、3つの直線軸に沿った位置決めを可能にします。このユニットでは、PMT160リニアステージがアダプターブラケットを使用してKT470クロステーブルに取り付けられています。クロスローラーを ...

繰返し精度: 0.8 µm - 3.8 µm
積載量: 1 kg
ストローク: 25 mm - 25 mm

... MP210-3 XYZ位置決めシステム カスタマイズ可能 - 限られた設置スペースと0～40℃の温度変化に最適 - 最小スペースで最大25 mmの移動範囲 - 絶対位置の安定性（モーターオフ時 - 高い繰返し精度による安定した測定結果 このXYZシステムは、安定性の高い両面入射・透過光測定用の試料ホルダーの位置決めを可能にします。ローディングとフォーカシングは、25 ...