Steinmeyerの研究用配置システム

繰返し精度: 1 µm
積載量: 15 kg
ストローク: 200 mm - 1,000 mm

... 高度にダイナミックなアプリケーションに対応するXYZガントリー カスタマイズ可能 - 高精度かつダイナミックなアプリケーションに最適 - 1300 x 800 mmの非常に広い移動範囲 - 高加速度・高速度と高精度の両立 このガントリーは、1300 x 800 mmの領域で、非常にダイナミックな動きを可能にします。カスタマイズされた加工ヘッドやZ軸のセンサーは、グラナイト上のキャリア上を素早く、スムーズに移動します。プロファイルされたレールガイドは、花崗岩に直接取り付けられており、サブミクロンの再現性の高い結果を得るために最適な走行特性を提供します。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.3 µm - 2.5 µm
積載量: 5 kg - 20 kg
ストローク: 100 mm - 720 mm

... カスタマイズ可能 - ウェハー/半導体の自動検査に最適 - 各2 x 720 x 720 x 100 mmの非常に大きな移動範囲 - 2つのプロセスを同時に統合することが可能 クリーンルーム用4軸で構成され、複数の対象物を同時に自動計測できる検査システムです。高いダイナミクスと最高の再現性を実現しています。片側1台の高解像度カメラまたはセンサーをサンプルに対して相対的に移動させ、形状の検査、測定、特別な品質特性の記録を行います。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.005 µm - 4.4 µm
積載量: 5 kg - 25 kg
ストローク: 100 mm - 365 mm

... 8軸位置決めシステム / ゴニオメーター カスタマイズ可能 - 様々な角度から8軸の検査を自動化 - カメラ/センサー/照明を共通の中心点を中心に旋回させる同軸回転システム - ディスプレイの検査に最適 8軸の位置決めシステムにより、さまざまな形状のサンプルや部品の分析・検査が可能です。カメラ／センサーは、試料を挟んで傾けたり、高さを調整したりすることが可能です。また、サンプルキャリアを測定面に対して平行に傾けることで、サンプルの個体差を補正することが可能です。XY ...

繰返し精度: 0.01 µm - 2.5 µm
速度: 5 mm/s - 35 mm/s

... と高いズームレベル - 最大35mm/sの高速回転による短いサイクルタイム - 最大2.5 µm、最小0.02°までの回転運動による高い再現性 - 長期信頼性の高い標準軸により、非常に長い耐用年数と低メンテナンスを実現 この9軸位置決めシステムは、注射ノズル、ステント、小型切削工具、カニューレ、その他の回転対称部品など、顕微鏡や高解像度カメラであらゆる角度からサンプルを観察することを可能にします。KLT310の堅牢で剛性の高い標準コンポーネントとXYZ用PMT160で構成され、さまざまなタイプの顕微鏡 ...

繰返し精度: 1.9 µm - 4.4 µm
積載量: 50 kg
ストローク: 100 mm - 1,000 mm

... ： - 焦点変動がある自動表面検査に最適 - 50kgまでのサンプル重量に対応（真空ステージを除く） - パッシブ振動減衰と建物振動のデカップリング（VDI 2627による標準測定室品質クラス3） - 1,000,000回のフルサイクルと500,000回のフルサイクルのメンテナンス間隔（2年毎）の非常に長い寿命 この位置決めシステムは、1,000 x 1,000 ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.4 µm
積載量: max 30.0 kg
ストローク: 100 mm - 200 mm

... 移動荷重用XYZ測定システム カスタマイズ可能 - 部品測定や高さのある部品の3Dプロファイルの取得に最適 - 荷重に左右されない高精度測定（±1 µm、移動物体でも測定可能 - 測定誤差を5 µrad以下に大幅に低減 - 完璧な真直度±0.5 µm、平面度±1 µm - 平坦度に依存しないインターフェースと調整機能 このXYZ位置決めシステムは、変動荷重や移動物体の高精度測定用に特別に設計されています。異なる重量クラスの物体を次々に測定しなければならない場合、従来の測定ステージではすぐに限界に達 ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.5 µm
ストローク: 50 mm - 200 mm
速度: 30 mm/s

... 高精度自動光学検査用XYZ位置決めシステム カスタマイズ可能： - 高精度自動検査プロセスに最適 - 0.3 µmまでの高い繰り返し精度 - 測定誤差を3μm以下に低減 この3軸位置決めシステムは、XYステージがZ軸上のセンサーやカメラに対して極めて低いピッチ誤差とヨー誤差で測定対象物を移動させるような高精度測定アプリケーション向けに開発されました。例えば、高さのある部品の測定や3Dプロファイルの記録などがこれにあたります。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.4 µm
ストローク: 100 mm - 200 mm
速度: 15 mm/s - 25 mm/s

... コントローラー付きXYZシステム カスタマイズ可能： - アプリケーションのセットアップと拡張に最適 - 0.3μmまでの高精度繰り返し精度 - 30mm/sの比較的高速な位置決め速度で、最小のステップと最高の信頼性 - 150Nまでの中荷重を位置決めする±1の完璧な平面度 PMT160 の高精度で耐久性の高い標準直動軸に、独立した Z 軸ユニットを搭載した ...

繰返し精度: 2 µm
ストローク: 65 mm
速度: 25 mm/s

... XYラボラトリーアナリティクスシステム、センサー用ホルダー、XYステージ、アパーチャー付き カスタマイズ可能 - 高解像度分析、スキャニング、顕微鏡、測定作業のセットアップと拡張に最適 - センサーまたはカメラ用アタッチメント - 2 µmまでの高い繰り返し精度 - μmの安定性により、最高の解像度と詳細なイメージングを実現 - 0.3µmの完璧な平坦度により、5kgまでの中荷重に対応 仕様 - ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.7 µm
ストローク: 200 mm
速度: 15 mm/s - 25 mm/s

... 高解像度のXYZ顕微鏡と検査ステーション カスタマイズ可能 - サンプル検査に最適 - 0.3 µmまでの高精度繰り返し精度 - 測定偏差を3 µm以下に低減 この3軸位置決めシステムは、高精度計測アプリケーション向けに設計されており、ステージがZ軸上のセンサーまたはカメラまで測定対象物を移動させます。xyステージはDCモーター設計の信頼性の高いKT310で構成されています。 仕様 - ...