Thermo Fisher Scientificの電子顕微鏡

倍率 : 2,000,000 unit
分解能: 2, 10, 3 nm

... 卓上型フィールドエミッションガン走査型電子顕微鏡。 フィールドエミッションガン走査電子顕微鏡 Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEMは、卓上でフィールドエミッションSEMを実現します。Phenom Pharos G2 FEG-SEMは、多くの卓上型SEMを画質面で凌駕し、ユーザーエクスペリエンスも大幅に向上します。Phenom ...

分解能: 0.3 nm - 1.5 nm
重量: 500 g

... 試料作製 新しいThermo Scientific Helios 5 DualBeamは、業界をリードするHelios DualBeamファミリーの高性能イメージングと分析機能をベースにしています。材料科学の研究者やエンジニアが集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）を使用する際に、最も困難なサンプルであっても幅広いニーズに応えられるよう、慎重に設計されています。 Helios 5 DualBeamは、高い材料コントラストによる高解像度イメージング、（S）TEMイメージングやアトムプローブトモグラフィー ...

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10,000 nm

... デスクトップSEMは、故障解析とプロセス改善を通じて、高品質の鉄鋼製造を可能にします。 鉄鋼製造の冶金学者や研究者は、故障解析やプロセス改善のために走査型電子顕微鏡（SEM）やエネルギー分散型X線分光法（EDS）のデータを必要としています。Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEMは、鉄鋼中の非金属介在物の故障解析と自動特性評価を可能にする多目的デスクトップSEMです。 鉄鋼介在物分析 鋼鉄サンプルの高品質イメージングと元素分析を行 ...

分解能: 0.7, 1, 0.6 nm

... 走査型電子顕微鏡によるナノ材料のサブナノメートルの分解能と高い材料コントラストによる特性評価。 Verios 5 XHR 走査型電子顕微鏡 Verios 5 XHRは、1 keVから30 keVの全エネルギー範囲においてサブナノメートルの分解能と優れた材料コントラストを有するSEMです。自動化と使いやすさの追求により、あらゆるレベルのユーザーがこの性能を利用できるようになりました。 走査型電子顕微鏡による特性評価 - ...

分解能: 1.3, 1, 0.8, 3 nm

... 自然な状態の物質を研究するための環境走査型電子顕微鏡（ESEM）です。 クワトロ環境走査型電子顕微鏡 Thermo Scientific Quattro ESEMは、イメージングと分析におけるオールラウンドな性能と、サンプルを自然な状態で研究できる独自の環境モード（ESEM）を兼ね備えています。ユニークなin situ実験にも対応するプラットフォームで、経験レベルや分野の異なる複数のユーザーに必要な汎用性と使いやすさを求める、学術、産業、政府のさまざまなラボに最適です。Quattro ...

分解能: 7, 3 nm
重量: 5 kg

... 環境走査電子顕微鏡機能を備えた産業研究開発用走査電子顕微鏡。 環境走査型電子顕微鏡 Thermo Scientific Prisma E Scanning Electron Microscope (SEM)は、幅広いイメージングと分析モダリティを高度なオートメーションと組み合わせることで、同クラスの装置の中で最も完全なソリューションを提供します。高分解能、サンプルの柔軟性、使いやすいオペレータインターフェイスを必要とする産業研究開発、品質管理、故障解析アプリケーションに最適です。Prisma ...

分解能: 0.6, 1.2, 0.7, 1 nm

... 3D特性評価、断面加工、微細加工を含むTEM試料作成用のプラズマ集束イオンビーム走査電子顕微鏡。 Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (FIB-SEM) は、材料科学と半導体アプリケーションに比類ない能力を提供します。Helios 5 PFIB DualBeam は、材料科学の研究者に対して、大容量の 3D 特性評価、ガリウムフリーの試料調製、精密な微細加工を提供します。半導体デバイス、高度なパッケージング技術、ディスプレイデバイス ...

分解能: 1.4, 0.7, 1.2 nm
重量: 5 kg

... コントラストを最大限に引き出す後方散乱電子（BSE）イメージング、組成情報のためのエネルギー分散型分光法（EDS）、微細構造および結晶学情報のための電子後方散乱回折（EBSD）などがあります。Thermo Scientific Avizoソフトウェアとの組み合わせにより、サイオス2デュアルビームは、ナノメートルスケールの高解像度、高度な3D特性評価および解析のための独自のワークフローソリューションを提供します。 後方散乱電子および二次電子イメージング 革新的なNICol電子カラムは、システムの高分解能イメージング ...

... ビームセンシティブ材料のイメージングと分光のための走査型透過電子顕微鏡。 Spectra Ultra 走査透過電子顕微鏡 TEMおよびSTEMイメージングを真に最適化するために、EDXおよびEELSは、異なる加速電圧で異なる信号を取得する必要がある場合があります。試料によって異なりますが、一般的には以下のように考えられています。1) ...

分解能: 0.06, 0.11, 0.16 nm

... ハイスループットTEM/STEM顕微鏡。 科学者が複雑な試料の理解を深め、革新的な材料を開発するためには、形態と機能を相関させ、空間、時間、周波数を分解することができる堅牢で精密な装置を利用する必要があります。 サーモフィッシャーサイエンティフィックのThermo Scientific Spectra 200 (S)TEM は、あらゆる材料科学のアプリケーションに対応するハイスループット、収差補正、（走査）透過型電子顕微鏡です。 Spectra ...