Thermo Fisher Scientificの高解像度顕微鏡

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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Apreo ChemiSEM

分解能: 0.7 nm - 1.8 nm
重量: 5 kg
: 340 mm

... (SFI)や新開発のオートフォーカスおよびオートスティグメーション機能などの革新的な機能により、元素分析(EDS)やジオフラクション(EBSD)の結果だけでなく、鮮明で高解像度の画像を簡単に得ることができます。 Thermo Scientific ChemiSEM Technologyは、エネルギー分散型分光法(EDS)機能を顕微鏡のユーザーインターフェースに直接統合しているため、分析が簡素化され、ユーザーのバイアスを最小限に抑えて信頼性の高い結果を得ることができます。ライブ量子化アルゴリズムと ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
集束イオンプローブ付走査型電子顕微鏡
集束イオンプローブ付走査型電子顕微鏡
Helios 5 DualBeam

分解能: 0.3 nm - 1.5 nm
重量: 500 g

... リードするHelios DualBeamファミリーの高性能イメージングと分析機能をベースにしています。材料科学の研究者やエンジニアが集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)を使用する際に、最も困難なサンプルであっても幅広いニーズに応えられるよう、慎重に設計されています。 Helios 5 DualBeamは、高い材料コントラストによる高解像度イメージング、(S)TEMイメージングやアトムプローブトモグラフィー(APT)用の迅速、容易、かつ正確な高品質サンプル前処理、および高品質サブサーフェスと ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Phenom ProX G6

倍率 : 160 unit - 350,000 unit
分解能: 8, 6 nm

... 分析が可能です。 エネルギー分散型X線回折装置付きSEM「Phenom Desktop」。 第6世代のThermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEMは、光学顕微鏡とフロア型SEM分析のギャップを埋めることで、研究施設の能力を拡大することができます。高速・高解像度のイメージングに加え、エネルギー分散型X線回折(EDS)検出器を内蔵し、堅牢で使いやすい迅速な元素分析が可能です。 主な特徴 高速かつ簡単に使用できる Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Phenom Pure G6

倍率 : 160 unit - 175,000 unit
分解能: 0 nm - 15 nm

... 経済的で使いやすく、信頼性の高い自動化機能を備えたデスクトップSEM。 Thermo Scientific Phenom Pure 卓上型走査電子顕微鏡(SEM)は、光学顕微鏡から電子顕微鏡への移行に理想的なツールです。高分解能イメージングを経済的に実現し、クラス最高のイメージング結果を提供します。 Phenom Pure Desktop SEMは、長寿命、高輝度CeB6光源により高品質な画像を提供し、市場最速のローディングとイメージング時間を実現します。信頼性の高いオートフォーカスと自動ソースアライメント ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
バッテリー用顕微鏡
バッテリー用顕微鏡
Phenom ParticleX

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm

... 電池の製造・研究用卓上型走査電子顕微鏡。 先端電池材料解析 電池材料分析用に設計されたPhenom Desktop SEM 電池の製造や研究において、材料の品質は非常に重要になってきています。例えば、NCM粉末に含まれる小さな汚染物質が、最終製品に悲惨な結果をもたらすことがあります。このような汚染物質を効果的に追跡するには、高解像度のSEMイメージングと化学用のEDS分析が必要です。完全に自動化されれば、この組み合わせは粉体品質検査の強力なツールになります。 Phenom ...

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走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
Verios 5 XHR

分解能: 0.7, 1, 0.6 nm

... 走査型電子顕微鏡によるナノ材料のサブナノメートルの分解能と高い材料コントラストによる特性評価。 Verios 5 XHR 走査型電子顕微鏡 Verios 5 XHRは、1 keVから30 keVの全エネルギー範囲においてサブナノメートルの分解能と優れた材料コントラストを有するSEMです。自動化と使いやすさの追求により、あらゆるレベルのユーザーがこの性能を利用できるようになりました。 走査型電子顕微鏡による特性評価 - ...

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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Volumescope 2

分解能: 1, 0.8, 0.7 nm
: 340 mm

... ブロックフェースイメージングとマルチエネルギーデコンボリューションによる大容量サンプル用3D SEM。 Volumescope 2走査電子顕微鏡(ブロックフェースイメージング サーモサイエンティフィック社製Volumescope 2走査電子顕微鏡(SEM)は、最先端のブロックフェースイメージングシステムです。使いやすい技術で実験をコントロールし、試行錯誤を重ねたソリューションで幅広い試料を保護します。 ブロックフェイスイメージング 細胞や組織の複雑な3次元構造を自然な状態で解明することは、生体系 ...

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FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡
Helios 5

分解能: 515, 1,030 nm

... フェムトセカンドレーザーアブレーション Thermo Scientific Helios 5 PFIB Laser Systems は、プラズマ集束イオンビームミリングとフェムト秒レーザーアブレーション、SEM(走査電子顕微鏡)イメージングを組み合わせたシステムです。この「TriBeam」の組み合わせにより、高解像度のイメージングと分析が可能になり、in situアブレーション機能により、これまでにない材料除去速度でナノメートル分解能のミリメートルスケールの高速キャラクタリゼーションが可能になります。 フェムト秒レーザー ...

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STEM顕微鏡
STEM顕微鏡
Helios 5 Hydra

分解能: 2, 5, 1, 4, 20 µm

... Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam(プラズマ集束イオンビーム走査電子顕微鏡、PFIB-SEM)は、4種類のイオン種(アルゴン、窒素、酸素、キセノン)を持ち、金属、電池、繊維複合材料、生体組織などのサンプルに対して最高の結果をもたらすイオンが選択できる多機能マルチアプリケーション・ツールです。走査型透過電子顕微鏡(STEM)や透過電子顕微鏡(TEM)のサンプル前処理、3D材料の特性評価、細胞クライオトモグラフィーなど、素晴らしい結果はサンプル前処理から始 ...

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集束イオンプローブ付走査型電子顕微鏡
集束イオンプローブ付走査型電子顕微鏡
Helios 5 PFIB DualBeam

分解能: 0.6, 1.2, 0.7, 1 nm

... 3D特性評価、断面加工、微細加工を含むTEM試料作成用のプラズマ集束イオンビーム走査電子顕微鏡。 Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (FIB-SEM) は、材料科学と半導体アプリケーションに比類ない能力を提供します。Helios 5 PFIB DualBeam は、材料科学の研究者に対して、大容量の 3D 特性評価、ガリウムフリーの試料調製、精密な微細加工を提供します。半導体デバイス、高度なパッケージング技術、ディスプレイデバイス ...

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FTIR顕微鏡
FTIR顕微鏡
Thermo Scientific™ Nicolet™ RaptIR™

分解能: 1 µm - 5 µm
重量: 70.3 kg
長さ: 717 mm

... ノーズピース、オートフォーカス、自動照明、フルビューコンピューター制御絞りにより、究極の快適さと効率的な使いやすさを実現。 - 5MPixカメラまたは接眼レンズによる1ミクロンの視覚的空間分解能、5ミクロン以上の赤外空間分解能により、サンプルの高品質で高解像度の写真やスペクトルを得ることができます。 - 自動交換が可能な反射、透過、ATRサンプリングモードは、内蔵のATRセンサーによるサンプルの保護や高感度な圧力制御を含め、多用途に使用できます。 - ...

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