走査型プローブ顕微鏡

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV は、ダイヤモンド窒素空孔中心 (NV センター) と AFM 走査磁気イメージング技術に基づいた走査型 NV センター顕微鏡です。量子制御とダイヤモンドプローブのスピン状態の読み取りにより、試料の磁気特性が定量的かつ非破壊的に得られます。 NV ダイヤモンド磁力測定と量子力学に基づいており、ナノスケールの空間分解能と超高検出感度を備えており、磁気テクスチャー、高密度磁気ストレージ、スピントロニクスの開発と研究に使用できます。

... ナノサーフレンズAFMは原子間力顕微鏡で、光学顕微鏡やプロフィロメーターが解像度の限界に達したところを補います。通常の対物レンズのように取り付けられるため、これらの装置の分解能と測定能力を拡張します。LensAFMは3D表面形状情報を提供するだけでなく、測定サンプルの様々な物理特性の分析にも使用できます。 シームレスな統合 研究者が光学顕微鏡と原子間力顕微鏡の技術を組み合わせようとする場面は、ますます増えています。光学顕微鏡の使いやすさ、スクリーニング能力、必要最小限のサンプル前処理は、ほとんど比類のないものです。しかし、100倍の対物レンズの分解能では不十分な場合、LensAFMの出番となる。非常に小型の設計と巧妙な取り付け機構により、光学顕微鏡やプロフィロメーターのタレットを回転させるだけでスキャンを実行できます。 AFMで光学顕微鏡を強化し、高度な知見を得る 光学顕微鏡の分解能は光の波長によって制限されるため、光学システムで達成できる分解能には壁があります。このため、光学顕微鏡と原子間力顕微鏡の組み合わせが、ますます多くのアプリケーションで必要とされています。さらにAFMは、透明な試料や光学的な評価が困難な試料の特性評価の問題を克服する。しかし、興味深いのは試料の粗いトポグラフィーだけではない：AFMは、他の材料特性に関する知識も得ることができる、 ...

... NaioAFMは、ナノ教育や微小サンプルの基礎研究に最適な原子間力顕微鏡です。このオールインワンAFMシステムは、誰にでも、どんな場所にもフィットする価格と設置面積で、確かな性能と簡単な取り扱いを提供します。 - プラグアンドプレイAFMシステム - すべての標準動作モード - 簡単な操作 プラグアンドプレイAFMシステム NaioAFMシステムは、コントローラ一体型の小型防振プラットフォームに搭載されたスキャンヘッドのみで構成されています。セットアップと測定準備にかかる時間はわずか数分です。大学の講義や教室での使用に理想的なNaioAFMは、頑丈に設計されており、初心者の不注意な取り扱いにも影響されません。 ...

長さ: 204 mm
幅: 204 mm

... NaioSTMは走査型トンネル顕微鏡で、スキャンヘッドとコントローラーを1つの装置にまとめ、よりシンプルな設置、最大限の使いやすさ、持ち運びやすさを実現した。このセットアップは振動に強く、標準的な教室でHOPGの原子分解能を達成するために使用することができます。フットプリントは204 × 204 mmで、作業台のスペースをほとんど取りません。 - 優れた安定性 - 使い方が簡単 - 5分で原子分解能 スマートなデザイン 目的に応じたデザインは、教育機関のニーズに完璧に適合している。システムは、スキャンヘッド、コントローラー、最初のアプローチを助ける拡大鏡付き気流シールド、重い石のテーブル上の防振を一体化している。 安全性と安定性 10mm以下の非常に小さなメカニカルループは、コーヒーテーブルや教室で原子分解能を達成する安定性を提供します。パッシブ防振脚が外乱から測定を保護し、操作中のシステムを非常に堅牢にします。システムは高電圧なしで機能するため、経験のない人の手にも安全です。 アトム・イン・ミニッツを見る スマートな設計は優れた性能を提供するだけでなく、NaioSTMを非常に使いやすくしている。セットアップに必要なのは、電源ケーブルとUSBケーブルの2本だけ。スキャニング・チップは白金/ルテニウム・ワイヤーから切り出すだけで、チップのエッチングに有害物質は必要ない。セットアップから最初の画像が表示されるまでのプロセスは、数分で完了します。直感的に操作できるソフトウェアには、便利なウィザードが装備されています。 ...

分解能: 0.05, 0.2 nm

申し込み オールインワン設計、スマートな構造と形状スキャンヘッドとサンプルステージが一緒に設計され、強力な防振性能または自動 的に、正確なスキャン領域の位置決めを実現します。高精度で広範固のサンプル転送デバイスにより、サンプルの興裱深ぃ領域 をスキャンできます。さまざまなタイプのスキャナーが、楕度とスキャンサイズに関するさまざまな題客の要件を満たします。 チップチェックとサンプル用の光字観測システムポジシ3ニング。リアルタイムのサンプル領域の観察と位置付けのための000 ...