極性測定システム

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
複屈折測定システム
複屈折測定システム
Exicor® OIA

... Hinds™ Instruments Exicor® OIAは、レンズ、平行平面光学系、曲面光学系を法線および斜めの入射角で評価するためのプレミア複屈折測定システムです。このシステムは、Hinds Instruments社の受賞歴のある光弾性変調器(PEM)ベースのExicor複屈折測定技術に基づいて構築されています。この次世代複屈折測定システムは、次世代リソグラフィーレンズ、レンズブランク、高価な光学部品の分析・開発において、業界に新しい機能を提供しています。 このシステムは、光ビームの偏光状態を変調するためにPEMを利用し、光学部品がどのように偏光状態を変化させたかを測定するために高度な検出および復調電子機器を使用します。その結果、ある偏光状態に対する別の偏光状態の90°の光学的遅れを測定することができる。複屈折とFast ...

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Hinds Instruments
抵抗性測定システム
抵抗性測定システム
SIPLACE X

... 自動車業界の電子機器メーカーは、特に高い品質基準に準拠する必要があります。SMTラインのセットアップ検証およびビジョンシステムは、正しいリールがセットアップされ、部品が説明と視覚的に一致することを保証します。しかし、部品の電気的特性が間違っていたらどうなるでしょうか? 誤った配置の典型的な原因には、誤ったマーキングがされた部品リールや、誤ったフィーダーに取り付けられたり接続されたりしたリールがあります。また、サプライチェーンの問題で、異なるロットの部品や異なるサプライヤーの部品が装填されたリールもエラーにつながる可能性がある。また、視覚的に完璧な部品であっても、電気的特性が間違っていたり、偽造品であったりすることもあります。SIPLACE ...

電磁場測定システム
電磁場測定システム
HG 200

... - すべての硬質磁性材料の測定(AlNiCo、フェライト、SmCo、NdFeB、プラスチック複合材) - 一定の磁束変化d/dtでの測定 - J補償付き周辺コイル、磁極または磁場コイルを使用した測定 - 200℃までの高温での測定 - 完全コンピュータ制御の測定システム - 測定中のヒステリシスをリアルタイムで表示 - BROCKHAUS® MAG Expert ソフトウェアによる測定、表示、 QMシステムへの統合 - Windowsデスクトップ 動作原理 硬質磁性材料の磁気特性の測定IEC ...

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Brockhaus
電磁場測定システム
電磁場測定システム
SG 3000 series

SG3000は、フルサイズの自動車用アンテナ測定やOTAテスト用のシステムです。お客様のニーズや設置条件に合わせてシステム構成を変更することができます。固定式(Fモデル)または移動式(Mモデル)の異なるサイズのアーチを設計することができますので、電波暗室に常設することも、電波暗室に移動させることも可能です。被測定物の回転を高精度な位置決めシステムで制御することで、離散的または連続的なリアルタイム測定が可能です。

極性測定システム
極性測定システム
PolaWise™

... PolaWiseTMは、光源および光学材料のすべての偏光関連特性を正確に評価するための高度な偏光測定システムです。 General Photonicsの特許取得済みの光磁気偏光生成および解析技術に基づくPSGA-101-Aは、光ファイバアプリケーション向けに特別に設計されており、偏光状態生成(PSG)、偏光状態解析(PSA)、偏光などの複数の機能を簡単に達成できます。 消光比(PER)測定、偏光依存損失(PDL)測定、および偏光モード分散(PMD)測定。 この機器のもう一つの魅力的な特徴は、大型フリップトップLCDグラフィックディスプレイデザインです。コンパクトでポータブルな筐体に広い表示領域を使用できる業界初です。 ...

複屈折測定システム
複屈折測定システム
RDG 4000 TR

... RDG4000 TRは、「音響複屈折」によって鉄道車輪の内部残留応力を測定するジラルドーニのソリューションです。実際、この測定は、超音波の伝達速度が試験された車輪部分の異なる応力状態にどのように影響されるかを示します。 この装置は、液体を混濁させることなく作動するという利点を持つEMATプローブを使用しています。 EMATプローブは、2つの等しいトランスデューサを標準装備しており、2つの垂直面に直線偏光を持つ横波を発生するように配置されている: ビーム:Aビーム:水平偏波の伝搬方向は車輪の転動面に平行; ...

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