ギャップ測定システム

APDIS隙間·段差計測システムによる計測は、製造ラインを止める必要がなく、安全な自動計測を可能とします。 パネルやクロージャの隙間や段差の適切な管理は、車やブランドに対する顧客イメージ向上に寄与します。 信頼性の高い隙間·段差計測を行うことで工程のフィードバックや品質管理が可能です。 APDIS Laser Radar テクノロジー 世界各国で導入実績のあるAPDIS Laser Radarが、隙間・段差の新たなインライン計測手法を提供します。 統合化された自動計測 3台のLaser ...

明視野とコンフォーカルの2系統の光学系を搭載。二次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。 二次元測定と高さ測定が可能な1台2役の高機能システム 明視野画像による二次元測定に加えて、コンフォーカル光学系による視野内一括高さ測定を実現。明視野測定では検出が難しいサンプルも、コンフォーカル光学系なら高速/高精度な測定が可能です。 微細配線パターンの測定 明視野では難しい輝度差の激しいサンプルでも、形状と高さを正確に捉えて検出できます。 プローブカードの測定 プローブカードの微細なコンタクト部分のXYZ座標を、視野内一括測定します。 高精度プリント基板パターンの測定 測定視野内の高反射面と低反射面のエッジが正確に検出できます。

明視野とコンフォーカルの2系統の光学系を搭載。二次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。 二次元測定と高さ測定が可能な1台2役の高機能システム 明視野画像による二次元測定に加えて、コンフォーカル光学系による視野内一括高さ測定を実現。明視野測定では検出が難しいサンプルも、コンフォーカル光学系なら高速/高精度な測定が可能です。 微細配線パターンの測定 明視野では難しい輝度差の激しいサンプルでも、形状と高さを正確に捉えて検出できます。 プローブカードの測定 プローブカードの微細なコンタクト部分のXYZ座標を、視野内一括測定します。 高精度プリント基板パターンの測定 測定視野内の高反射面と低反射面のエッジが正確に検出できます。

... ZeroTouch® ZTR は、ローターやステーターを従来の計測方法よりも高速で処理するための、精密で高速な計測・検査システムです。堅牢で生産に適した、ニアラインまたはインラインの非接触式計測プラットフォームであるZeroTouch® ZTRは、30秒で数百万のデータポイントをキャプチャして分析します。 特徴と利点 - 高速検査・解析：他の触覚システムでは30分以上かかるところを30秒で実現 - 密度の高い精密な点群データを取得し、迅速な特徴および寸法分析を実現 - ...

... Delta Mobrey MSM400システムは、スラッジやスラリー中の懸濁物質を連続的に測定するシステムです。 長年の実務経験から、スラリー中の超音波減衰の測定は、懸濁物質の割合に正比例することが分かっています。MSM400はこの原理を利用し、懸濁物質の測定値をデジタル表示し、連続的に出力するシステムです。 排水処理、工業、鉱業プラントでよく使用され、排水、石灰石スラリー、中国粘土などの幅広い流体に適しています。 用途としては、スラッジブランケットの測定や検出、スラリーの密度管理などがあります。MSM400コントローラは、タンクまたはパイプに取り付ける超音波ギャップセンサと一緒に使用され、用途に合わせて様々なギャップサイズを選択できます。 特長と利点 スラッジおよびスラリーの未溶解固形分測定、最大50%の懸濁物質まで対応 プロセス値のLCD表示、簡単な設定と診断のためのメニュー ...