金属バンド測定システム

明視野とコンフォーカルの2系統の光学系を搭載。二次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。 二次元測定と高さ測定が可能な1台2役の高機能システム 明視野画像による二次元測定に加えて、コンフォーカル光学系による視野内一括高さ測定を実現。明視野測定では検出が難しいサンプルも、コンフォーカル光学系なら高速/高精度な測定が可能です。 微細配線パターンの測定 明視野では難しい輝度差の激しいサンプルでも、形状と高さを正確に捉えて検出できます。 プローブカードの測定 プローブカードの微細なコンタクト部分のXYZ座標を、視野内一括測定します。 高精度プリント基板パターンの測定 測定視野内の高反射面と低反射面のエッジが正確に検出できます。

... LTM-MAXI 厚さ測定システムは、ストリップ加工ラインの高速コイルストリップ材料用に特別に開発されました。このシステムは、プロセス制御のデフォルト値を提供するために、加工前後の材料の厚さをチェックするために使用されます。 サンプリング周波数が高いため、LTM-MAXIシステムは「テーラード圧延ブランク」材料の柔軟なロール成形、ロールプロファイリング、パンチング、チューブ製造にも使用されます。 LTM-MAXIの高性能測定システムは、2つの三角測量レーザセンサを使用して非接触ストリップの厚さ測定を可能にします。 ...

... LTM SMARTストリップ厚さ計システムは非接触トラバースシステムであり、特に冷間圧延機において、高速可動鋼/金属ストリップ用に設計されています。 ストリップ加工ラインでは、プロセス制御のデフォルト値を提供するために、プロセス前後の材料の厚さをチェックするためにシステムを使用します。 最大 50 kHz 以上のサンプリング・レートにより、i! mensio スマートストリップ厚さ計システムは、テーラード圧延ブランクの柔軟なロール成形、パンチング、ロールプロファイリング、チューブ製造にも使用されます。 ...

... 2 枚の三角測量レーザーを用いた金属ストライプ用非接触厚さ計測システム。 レーザーベースの機能原理。 最大 5 個の測定トラックをコントローラで表現できます。 アプリケーション LTM BASEは、特にプレス加工やストリップ加工ライン向けに、スチール/メタルストリップの高速移動のために設計されています。 50kHzを超える高いサンプリングレートにより、このシステムは、テーラード圧延ブランクの柔軟なロール成形、パンチ、ロールプロファイリング、チューブ製造にも使用されます。 ...