大型サンプル用顕微鏡

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光学顕微鏡
光学顕微鏡
ZEISS Axiolab 5

倍率 : 20 unit
長さ: 304 mm
: 210 mm

デジタルドキュメンテーションはかつてないほど簡単になりました。ZEISS Axiolab 5は材料構造分析のルーチンワークにおけるニーズに応え、人間工学に基づいた操作と効率的なデジタルドキュメンテーションを実現します。スマートマイクロスコープシステムには、追加のイメージングソフトウェアもコンピュータも必要なく、Axiolab 5はコスト面でも理想的なチョイスです。 デジタルドキュメンテーションが簡単に 人間工学に基づく設計が快適なラボワークを実現 高い経済性と信頼性 デジタルドキュメンテーションが簡単に 関心領域を見つけ、鏡基右側にあるスナップボタンを押すだけで、簡単に画像取得が完了します。手を離すことなく顕微鏡と搭載されたカメラを操作できるため、試料の観察に集中できます。 人間工学に基づく設計が快適なラボワークを実現 人間工学に基づいて設計されたAxiolab ...

X線顕微鏡
X線顕微鏡
ZEISS XRADIA Context microCT

ZEISS Xradia Context®マイクロ断層撮影(microCT)は、あらゆる種類の試料の解析に対応する使い勝手の良いシステムです。ピクセル密度が高いアレイ検出器により、比較的大きなイメージングボリュームでも細部まで高分解能を確保できます。当該システムは、広視野、迅速な試料マウントおよび配置、効率化された取得ワークフロー、短い露光時間およびデータ再構成時間を特徴としています。 実用可能な電池や電子部品を含む大型製品、生物標本などの大きい試料などを非破壊にて3Dデータの取得 ...

モジュール式顕微鏡
モジュール式顕微鏡
BXFM

分解能: 0.2 µm
重量: 9 kg
長さ: 587 mm

BXFMは明視野、暗視野、微分干渉、簡易偏光、蛍光観察に対応した装置組み込対応モデルです。光源にはハロゲンランプハウス、ファイバ照明が選択可能で、他にも電動レボルバ、結像レンズユニットなどとの組み合わせで、幅広い対応が可能なシステムです。

光学顕微鏡
光学顕微鏡
MX63 series

分解能: 1 µm

MX63/MX63Lは最大300mmサイズのウエハーや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。さまざまなアプリケーションに対応するモジュールを組み合わせることでお客様に有益なシステムを提供することができます。さらにOLYMPUS Stream画像解析ソフトウェアと組み合わせることで観察からレポート作成までのシームレスなワークフローを提供します。

検査用顕微鏡
検査用顕微鏡
DM8000 M

最新の光学技術で、生産性改善に貢献。 新しいアイデアにより装備されたUV斜め観察法及びマクロ観察法は、より高い解像力を実現しているだけでなく試料の観察及び検査のスピードアップを可能にします。全ての観察法に対応する本体に内蔵されたLED照明は、顕微鏡回りに理想的なエアーフローを可能にするだけでなく、省スペース・省電力などエコに大いに貢献します。 マクロモードで快適・正確な外観検査 ライカ DM8000 M  光学検査用顕微鏡はマクロモードを組み込み、標準的な ...

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Leica Microsystems GmbH/ライカ
光デジタル顕微鏡
光デジタル顕微鏡
DVM6

... 故障解析、品質保証・管理、研究開発、フォレンジックに最適なデジタルマイクロスコープです。優れた光学系、直感的な操作性、インテリジェントなソフトウェアにより、ユーザーは信頼性の高い結果を得ることができます。 大きなズームレンジ(16:1)により、倍率を素早く変更することができます。0.18mmから35mmまで、リフォーカスすることなく被写界深度を変更することができます。チルトスタンド(-/+ 60°、アダプター使用で最大90°)と回転サンプルステージ(-/+180°)は、片手だけで簡単に操作することができます。高解像度1000万画素カメラと高速ライブ画像表示(30枚/秒)。2Dおよび3D測定、再現性のある結果、レポート作成が数クリックでできるインテリジェントなソフトウェア。 ...

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Leica Microsystems GmbH/ライカ
素材分析用顕微鏡
素材分析用顕微鏡
DM1750 M

材料の研究観察にフォーカス 新しいLeica DM1750 Mはどんな環境においても、正確でスピーディに結果を出すためにデザインされています。 Leica DM1750 Mはシンプルで高い信頼性を提供するために設計されています。 タフな使用にも耐えるデザインと、高さのあるサンプルへの対応、明視野、斜め照明や偏光といった多様な観察法における光学性能が、高い次元でバランスされています。すべての落射照明はPower-LEDを光源とし、微細な傷や高さ情報の観察においても威力を発揮します。 パーフェクトな光源 落射ユニットのLED光源とビルトイン可変絞りの組み合わせは、発熱の少ない白色光と、きわめて長いライフタイムによる低コストを実現。明るさを変えても色温度は安定しています。 高精度な倍率切り替え 6穴または7穴のレボルバはすばやく、正確な倍率の切り替えを約束し、80mmまでの高さのサンプル観察を可能にします。高精度に製造されたレボルバは対物切り替え時の視野の維持においても、優れた性能を発揮します。 斜め照明観察で微小な傷や欠陥を検出 落射ユニット手前に位置する操作ボタンでは、簡単な操作で4分割されたLEDを制御できます。斜め方向からの照明を効果的に使うことにより、従来の観察法では検出が難しかった微細な傷や欠陥もより簡単に観察できます。 ウルトラハードなセラミックステージ ステージの表面はセラミックプレートが配置され、かつてなかった硬さ・頑丈さを実現しています。何年もにわたって耐久性を要求される産業分野での使用においても、あなたの時間とコストをセーブするための特別設計です。

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Leica Microsystems GmbH/ライカ
AFM顕微鏡
AFM顕微鏡
Nanite

... 表面形状は、数ナノメートルの微細な形状や1ナノメートル以下の表面粗さを持つ多くのハイテク表面にとって重要な特性です。Naniteは、あらゆる形状やサイズのワークピースの表面分析に最適なツールです。ナノスケールの高精度測定を実現し、それ自体が小型であるため、事実上あらゆる環境に組み込むことができます。 ナノスケールでの定量的表面分析 ナノスケールでの正確な表面分析は、ナノテクノロジーからデータストレージ、精密光学に至るまで、さまざまな産業で不可欠です。Naniteは、さまざまなアプリケーションに不可欠なサブナノメートルの粗さを含む、ナノスケールの複雑な表面の詳細を明らかにするための貴重な装置です。 サンプル制限 ...

金属組織顕微鏡
金属組織顕微鏡
DS series

... 倒立顕微鏡は、コンパクトで耐久性があり、高倍率が必要な場合に使用されます。平坦な試料面を持つマウント試料の分析に最適で、BF、DF、DIC、POLの複数の光源を使用できるように装備されており、複数の分析を行うことができます。 硬さ試験などの一般用途向け倒立顕微鏡のエントリーモデル。 工業用や材料科学用の倒立顕微鏡で、不透明な試料(金属の粒径、粒界、相、変態、介在物、非金属などの微細構造の調査や研究、試料の前処理や処理など)用に設計されています。 メタログラフィーラボでの不透明試料用に特別に設計されています。お客様のお好みに合わせて自由に設定できるレンズ、FN24ハイアイポイント、無限遠補正光学系、同軸フォーカシング、メカニカルステージ、明るさを調整できるハロゲン12V/100Wの落射照明アタッチメントを搭載しています。頑丈で信頼性が高く、人間工学に基づいた位置にすべての主要なコントロールを装備し、20年以上の使用を可能にする長持ちする効率的なLED照明を備えています。 ...

金属顕微鏡
金属顕微鏡
ECLIPSE MA200

倍率 : 1 unit - 100 unit
重量: 26 kg
長さ: 295 mm

箱形フォルムの採用により、大幅な奥行きの短縮と高い剛性を同時に実現した高機能型モデル。 前面に集中配置した操作部/顕微鏡情報パネルが、観察の効率化をサポートします。 多彩な観察が可能な倒立金属顕微鏡 ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。 金属材料や電子部品の包埋サンプルで、解析から検査まで各用途でお使いいただける倒立金属顕微鏡です。 ECLIPSE MA200 工業材料、部品などの検査に加え、研究開発にも最適な、多彩な反射照明観察を備えた倒立顕微鏡です。 CFI60-2対物レンズ ニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。クリアな明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉観察を高い操作性で行えます。 顕微鏡デジタルカメラ ...

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Nikon Metrology
AFM顕微鏡
AFM顕微鏡
NX20

... パークNX20は、200mmまでの試料を扱うすべての研究所のためのAFMプラットフォームです。NX20は、アカデミックなアプリケーションから半導体や故障解析まで、デカップリングXYスキャンシステムによる正確で再現性の高い測定、ローノイズZディテクタによる表面粗さ測定、表面粗さ精度のための先端シャープネスを保証するTrue Non-Contact™ Mode、幅広い高解像度スキャンモード、モジュール設計といった独自の機能を提供します。NX20は、そのデータ精度と再現性の高い測定により、半導体やハードディスク産業で広く使用されており、生産性や分析効率の向上に貢献しています。 300mm版のPark ...

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