{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
高速性、高精度と高い可搬性を誇る XL-80 システムは、キャリブレーション用レーザーシステムのベストセラー製品です。高機能なソフトウェアと優れたパフォーマンスが統合された XL-80 を使用することで、業績を大幅に向上できます。 当社は、25 年以上にわたってレーザーシステムの設計、製造、および販売を行ってきました。XL-80 は、その経験をもとに最先端のシステム性能と操作上のメリットをユーザーに提供するために開発されました。
RLD10 ディテクターヘッドは、干渉計光学部品、レニショー独自のマルチチャンネル干渉縞検出機構、レーザーシャッター、ビームステアラを内蔵しています。RLD10 ディテクターヘッドには、出力方向が 0°と 90°のものがあります。 特長とメリット 2 軸ソリューション - 2 軸の平面鏡システムは、XY ステージアプリケーションにとって理想的なソリューションです。 高分解能 - 平面鏡システムは、反射鏡システムに比べて高い分解能が必要になるアプリケーションにも活用できます。 ...
マイクロエプシロンの革新的な白色光干渉計は、高精度な距離・厚さ測定におけるベンチマークを打ち立てています。このセンサはサブナノメートルの分解能で安定した測定結果をもたらし、比較的広い測定範囲と長いオフセット距離を提供しています。現在ご提供している干渉計は、高精度な工業用距離測定のためのIMS5400-DS、正確な厚さ測定のためのIMS5400-TH、ピコメートル分解能の距離測定に対応した真空環境に適したIMS5600-DSの3種類です。 特徴 • - ナノメートル精度の絶対距離測定 • ...
新しい白色光干渉計 IMS5600-DSは、最高精度で距離測定を行うために使用されます。コントローラにはインテリジェントな評価による特殊調整機能が搭載されており、サブナノメートルの分解能で絶対測定を行うことができます。この干渉計は、電子機器や半導体の生産といった最高の精度要件が求められる測定タスクに使用します。 特徴 • - サブナノメートル精度の距離測定 • - クラス最高：分解能 < 30ピコメートル • - 段付きプロファイルなどの測定に最適な絶対測定 • ...
... IMS5420-TH白色光干渉計は、単結晶シリコンウェーハの工業用膜厚測定に新たな展望を開きます。広帯域のスーパールミネッセントダイオード（SLED）を搭載しているため、IMS5420-THは、アンドープ、ドープ、高ドープのSIウェハーに使用できます。厚さ測定範囲は0.05～1.05 mmです。エアギャップの測定可能厚さは最大4 mmです。 半導体製造では、最高の精度が不可欠です。重要な工程はブランクのラッピングで、これによってブランクは均一な厚さになります。この厚みを連続的に制御するために、干渉計 ...
... 50年以上にわたり、位相シフト干渉計は高精度の表面形状測定器として選ばれてきた技術です。 これらの干渉計は、光学部品、システム、アセンブリの表面形状誤差と透過波面を高速かつ高信頼性で測定します。 研究環境から広範な産業用途まで、レーザー干渉計は品質保証や生産後の解析のための高レベルのデータトレーサビリティを提供します。レーザー干渉計は、製造工程に不可欠なものとなっています。 ZygoのQualifireは、この種の装置における既知の課題に対するソリューションを提供することで、レーザー干渉計の飛躍的な進歩を象徴しています。 位相シフト干渉計への新しいアプローチ 多くの最新システムにおける光学計測に共通するフィゾー設計では、固定された軸上のコヒーレント点光源を使用して干渉計キャビティを照射する。 ...
Zygo
Verifire™ 干渉計システムは、光学部品、システム、およびアセンブリの表面形状誤差と透過波面の高速で信頼性の高い測定を提供します。 真のレーザーフィゾー設計であるVerifire™システムは、表面形状測定におけるZYGOの比類なき経験を継承しています。ZYGOが製造したHeNeレーザー光源と、ZYGOの特許取得済みのアルゴリズム、フル機能のMx™測定ソフトウェアを組み合わせることで、使いやすい解析機能を備えた高精度の測定装置を実現します。 製造現場での信頼性の高い測定 この数年間で、光学測定技術は飛躍的に進歩しました。 ...
Zygo
振動が生じやすい環境で信頼性の高い測定を行うために設計された干渉計。高性能望遠鏡のテストから光学系のアクティブアライメントのためのライブ位相フィードバックまで、幅広いアプリケーションのニーズに対応できる汎用性と柔軟性を備えています。 DynaFiz®の光効率の良い光学設計とZYGOの高出力HeNeレーザー光源を組み合わせることで、振動を「フリーズ」させる高いカメラシャッター速度での動作が可能になります。この動的能力は、従来の位相シフト測定には過酷すぎる環境での信頼性の高い測定を可能にします。
Zygo
... 1.高精度な測定が可能です。高精度環境補正ユニットにより、周囲温度、圧力、湿度、材料温度による測定結果への影響を排除します。レーザー熱周波数安定化制御システムの使用により、レーザーの長期周波数安定性を確保できます。 2.それは直線性、角度、直線性、垂直性および他の幾何学的な変数を測定できます; それは CNC の工作機械、座標測定機械および他の精密運動装置のためのガイド・レールの線形位置の正確さそして繰り返しの位置の正確さを測定できます; それはガイド・レールのピッチ角、振動角度、垂直性および直線性、さらにそれを工作機械の回転式軸線の目盛りを付けることができます測定することができます。 3.ユーザーによる補正設定により、工作機械の校正に必要な誤差補正テーブルを自動生成します。 4.動的測定（変位-時間曲線、速度-時間曲線、加速度-時間曲線）、振幅測定、周波数解析の機能により、工作機械の振動試験、ボールねじの動的特性、駆動システムの応答特性、ガイドレールの動的特性などの解析が可能です。 5.GB、ISO、BS、ANSI、DIN、JISなどの国内および国際規格を内蔵しています。 ...
... 数々の賞を受賞したXD Laserは、直線、角度、真直度、ロールエラーなど6つの自由度を同時に測定する多次元レーザー計測システムで、工作機械のエラー評価を迅速に行うことができます。 詳細はウェブサイトをご覧ください。 ...
... 自由口径100mmのVI-direct干渉計は、直径25～100mmの光学部品の検査が可能です。波長632.8nmのHeNeレーザーを搭載しています。 USB 3ポート経由でPCに直接接続、フレームグラバー不要。 - 高解像度デジタルカメラ（3088x2076ピクセル） - 露光時間が短いため、振動の影響を受けにくい - 光学的および機械的アクセサリーが豊富 - 垂直、水平、斜めのアングルで使用可能なため、お客様独自のアレンジが可能 - コンパクト設計のため、アプリケーション関連のワークステーションに最適に統合可能 ...
MÖLLER-WEDEL OPTICAL GmbH
... マイクロ干渉計VI-directは、平坦度検査の範囲を最小径の領域まで広げます。フィゾー型干渉計は、直径約0.8mmから3.6mmの光学部品の表面平坦度を測定することができます。コストパフォーマンスに優れたマイクロ干渉計VI-directは、マイクロプリズム、レーザー結晶、ファイバー端面などの光学部品の検査に使用できます。 - USB 3ポート経由でPCに直接接続、フレームグラバー不要 - 高解像度のデジタルカメラ（3088x2076ピクセル） - 露光時間が短いため、振動の影響を受けにくい ...
MÖLLER-WEDEL OPTICAL GmbH
... 測定ステーション干渉計VI-direct 28 SULは、球面の形状や半径偏差を迅速に検査することができます。オプションのINTOMATIK-Sソフトウェアは、インターフェログラムの評価に使用できます。 - USB 3ポート経由でVideo-Mini-PCに直接接続可能 - 高解像度デジタルカメラ（3088x2076ピクセル） - 短い露光時間による振動の影響を受けにくい - 半径測定用表示ユニット - アパーチャストップセット - XY変換によるサンプルサポート ...
MÖLLER-WEDEL OPTICAL GmbH
... NOVACAMTM 3D計測システムの中核をなすMICROCAMTM-3D/4D干渉計は、スキャニングプローブに光源を供給し、計測の光学的・電子的処理を行います。 ノヴァカムの干渉計MICROCAM-3DおよびMICROCAM-4Dは、以下の特長を備えています： - ミクロン精度の3D測定 - 粗さ、形状（GD&Tパラメータ）、厚み、振動、欠陥 - 最大100 kHzの高速収集レート、つまり毎秒100,000点の3Dポイント測定 - 周囲の照明、空気の擾乱、ビームの切断の影響を受けない測定値 - ...
... 長さ、ピッチ、ヨー角を同時に高精度に測定するトリプルビームレーザー干渉測定システム - 最高精度のフレキシブルな測長システム - 統合されたビーム方向検出により、取り扱いと調整が容易 - 球面反射鏡、平面反射鏡など、さまざまな光学反射鏡を使用可能 - 最大±12.5°までの測定リフレクターの傾斜が可能 - コンパクト設計 - センサーヘッドはアルミニウム、ステンレス、インバー製から選択可能 - ビーム距離：12 mm - OEMバージョン、OEMソフトウェア、真空バージョンが可能 - ...
SIOS Meßtechnik GmbH
... 高精度長さ測定用レーザー干渉計システム - 最高精度のフレキシブルな長さ測定システム - 統合されたビーム方向検出により、取り扱いと調整が容易 - トリプルミラー、球面ミラー、平面ミラー反射鏡など、様々な光学反射鏡を使用可能 - 測定用反射鏡は最大±22.5°まで傾斜可能 - コンパクトで堅牢な設計 - センサーハウジングは防滴構造 - アルミ、ステンレス、インバー製センサーヘッドの設計（オプション - 政府規格へのトレーサビリティ - OEMバージョン、OEMソフトウェア、真空バージョンが可能 - ...
SIOS Meßtechnik GmbH
... 2本の平行な測定ビームによる高安定な差動レーザー干渉計 - 最高精度の長さまたは角度の差分測定 - ディファレンシャル測定による環境影響の最小化 - 熱的に長期間安定したセンサー、温度感度 < 20 nm/K - 球面反射鏡、平面ミラー反射鏡など、様々な光学反射鏡を使用可能 - 測定リフレクターの大きな傾斜不変性 - ステンレス製センサーヘッドを標準装備 - ビーム距離：21 mm - 豊富なトリガーオプション - WindowsおよびLinuxのOEMソフトウェア用のオープンインターフェース 当社の超安定差動レーザー干渉計 ...
SIOS Meßtechnik GmbH
... AccuFiz Duoのショートコヒーレンスモードは、軸上ダイナミック測定を行うもので、シングルカメラ、高速位相センサーを使用した特許技術を組み込んでおり、わずか150マイクロ秒で波面測定を行います。その結果、振動や乱流がある場合でも、高精度の測定が可能となる。 コヒーレンス長の短い光源は、不要なフリンジを除去するためにどちらかの表面をコーティングする必要なく、厚さ0.2mmまでの平面平行ガラス面の測定を可能にする。その他の用途としては、遠隔キャビティ測定、インデックスの均質性テスト、環境チャンバー内でのテストなどがあります。高速で自動化された内部システムにより、素早くスキャンして各表面を特定し、分離することができます。 AccuFiz ...
4D Technology
... - フィゾー干渉計 - 直径4″から12″まで測定可能 - グラニットベース - パッシブ防振システム - 自動干渉評価 ソフトウェア モニターライブ映像 Windows 7用ソフトウェア プロトコルの自動生成 2Dおよび3Dグラフィックス 多彩なメッセーダー表示 手動/自動キャリブレーション オプション ズーム システム品質: .../10 高画質カメラ ...
LT Ultra-Precision Technology GmbH
... 2100Cレーザー干渉計の概要 2100Cレーザー干渉計は、元々設計され実用的に使用されたオリジナルの2100レーザー干渉計からその名前を取り、パロマー・テクノロジーズはヒューズ・エアクラフトの工業製品部門の一員でした。 ワイヤボンディング校正ツール 2100Cレーザー干渉計は、マイクロインチの動きを測定して超音波探触子エクスカーション（ピーク振幅）を測定するために使用されるツールです。 このツールは、もともとPalomar Technologiesのワイヤボンディングシステムを校正するために設計されました。 ...
... 分散偏光クロストーク（X-Talk）アナライザ（PXA-1000）は、偏光維持（PM）ファイバーの長さに沿って応力誘起偏光クロスカップリングを分析することにより、空間分解応力情報を得るために設計された白色光干渉計の拡張バージョンです。 特許出願中の光学設計は、強力なゼロ次干渉を排除し、従来の白色光干渉計に共通するマルチカップリング干渉を低減します。どちらも測定信号にゴーストピークを引き起こす可能性があります。 ゴーストピークを除去することで、PXA-1000は実際のX-トークピークの大きさと位置を明確に識別できるため、従来の白色干渉計よりも高い測定感度、高いダイナミックレンジ、高い空間測定精度が得られます。 ...
... MSI 50 逆の設計でZ軸構成干渉計モジュールで剛性花崗岩ベースとパッシブエアダンパー高精度の半径スライドをハイライトB軸 高分解能スイベル軸に取り付けられました (B軸) 基板表面に直接垂直に干渉計ユニットを配置するための -駆動回転軸（C軸）光経路内の高開口球と平面表面を回転 させるオプションとして利用可能な様々なワークホルダー様々なワークホルダー：コレットチャック、3顎チャック、HD12-、HD25チャック OptoTech検査ミニEL-Fデジタル2「Fizeau-干渉計モジュール 統合PCとのコンパクトな設計ワークステーションの 取り扱い:従来の ...
OptoTech
... µLine-F1は、機械形状検査用の小型レーザー干渉計です。 CNCデバイス補償とCMMデバイス較正用に設計されています。 インフェロメータの利点の1つは、その広範な環境金属補償である。 このデバイスは、ラボ用途の選択に適用できます。 平坦度、軸の平行度、振動、真直度、直角、小角、動的測定に使用できます。 このデバイスは、機械の形状、角度位置決め、ボールスクリュー検査、および機械の保守の迅速な評価にも使用されます。 ...
... 精度の基準 レーザー干渉計をベースとした高精度の垂直測定機です。 精密フィルム、部品、ゲージの高さ、厚さを安心して測定できます。 当社独自のデジタル干渉計は、測定プローブの位置とヘリウムネオン（He-Ne）レーザー光源の波長を比較することにより、試料の寸法を測定します。特許を取得したレーザー光路は、測定軸と一直線上にあり、アッベ・オフセット誤差を排除します。 オペレーターはボタンまたはフットスイッチを押すだけで、あとは装置が行います。 Laseruler®の測定項目 -フィルム厚さ -光学部品 -ゲージブロック -ボール/球 -ボールベアリング -コーティング厚さ -コーティング厚さ規格 -プラグ＆ピンゲージ -スレッドワイヤー -航空宇宙部品 -自動車部品 -医療機器 Laseruler®の特徴と利点 -高剛性設計 ...
... TOPOS 干渉計は、光の放牧の入射率の原理に従って動作します。 また、粗い部品の平坦度を測定することができ、光学フラットやFizeau-干渉計でフリンジパターンを見せません。 干渉パターンに基づいて、コンピュータは試験対象物の平坦度を計算します。 ラップ部品や接地部品の隣にも研磨部品を測定することができます。 部品は多様な材料で構成されていてもよい： -金属（鋼、アルミニウム、青銅、銅など） -セラミック（AL2O3、SiC、SiNなど） -プラスチック材料 など 干渉計は、加工機の近くの生産ラインに配置することができます。 ...
Lamtech Lasermesstechnik GmbH
... LDM600モジュールは、波長 650nmの赤レーザと内部のSiダイオード検出器をベースにした共焦点測定用に設計されています。 レーザと検出器は、内部 50-50カプラ経由で2つの光ポートに接続されています。 光学測定（例えば共焦点顕微鏡のセクションを参照）では、LDM600には独立した第 2の検出器ポートも含まれています。 すべての光ポートはシングルモードファイバ用のFC/APCコネクタであり、検出器出力はBNCコネクタによって提供されます。 レーザー出力は、出力ポートあたり500µW ...
... 精密干渉計 • モード：Michelson、Fabry-Perot、Twyman-Green • 大型精密光学 • 5kg 機械加工アルミニウムベース 干渉計の歴史的重要性を見落とすべきではありません。 しかし、実験室では、Fabry-PerotとTwyman-Greenの干渉計は、より重要なツールになります。最初は高分解能分光法で、2 番目は波長の分数で測定できる収差を持つ光学部品をテストおよび製造します。 干渉計は高精度の可動ミラー干渉計で、マイケルソン、ファブリ・ペロー、トゥイマン・グリーン干渉計です。 ...
... マイクロン光学 FFP-SIファイバファブリペロー走査干渉計は、光ファイバに直接堆積される2つの高反射多層ミラー間のシングルモードファイバ導波路を備えたレンズレス平面ファブリペロー干渉計です。 キャビティは完全にファイバ導波路で構成されており、非常に広い範囲のフリースペクトル範囲（FSRs）を可能にし、アライメントやモードマッチングは必要ありません。 波長スキャニングは、積層された圧電アクチュエータを使用して、キャビティ内の短い部分の繊維を軸方向にひずみすることによって達成されます。 ...
Micron Optics
... 大気放射輝度計（Atmospheric Emitted Radiance Interferometer, AERI™）は、過酷な環境条件下で無人運転が可能な堅牢な自動サウンディング分光放射計システムです。これは、高精度で絶対的なダウンウェリング大気放射赤外放射輝度を測定します。特殊なアルゴリズムと組み合わされたこのリモートセンシングツールは、昼夜を問わず（降水時を除く）一年中稼働し、温度と湿度、その他の大気変数のプロファイルを8分ごとに連続的に提供します。 用途 天気予報 雲とエアロゾルの研究 大気質モニタリング（汚染） 空港モニタリングなど 特徴 成熟した技術：設置されたシステムの中には、15年以上継続稼働しているものもある。 高いラジオメトリック精度と再現性により、ネットワーク運用が可能 高いスペクトル分解能による波長精度 高感度 リアルタイムスペクトル処理による高速スキャン機能 利点 NISTトレーサブルラジオメトリー あらゆる気候下での動作（北極から熱帯、海洋まで） 無人操作 消耗品なし スターリングクーラーと計測用レーザーを現場で交換可能 ITARフリー 大気放射輝度計（Atmospheric ...
パワフルなフィゾー干渉計。 卓越した柔軟性と汎用性とともに、最小限の測定の不確かさ 非接触による形状およびシャフト前面の測定
MAHR/マール
... 高精度非接触変位計測 高精度な変位計測のために、スマーアクトは干渉計PICOSCALEを提供します。 - 1台で3つの平行レーザー干渉計を使用した3D測定が可能 - 測定帯域幅は最大2.5 MHz（サンプルレート10 MHz）、分解能は最大1 pm1 - ほとんどの材料で測定が可能（プラスチック、ガラス、金属、水まで） - 用途や環境（真空や極低温を含む）に応じて、幅広いセンサヘッドを用意 - オプションのモジュールを使用することで、完全なラボ用測定・制御機器に拡張可能 - ...
... コントローラーには、レーザーと検出用電子機器が搭載されており、複数のインターフェースを介してすべてのデータを提供します。 PICOSCALE干渉計は、非接触で変位を測定するための強力なシステムです。PICOSCALE干渉計コントローラーには、レーザー光源と、光信号を評価するために必要なすべての電子機器が搭載されています。この信号は、光ファイバを介してコントローラに接続されたセンサヘッドで生成されます。ビームスプリッターにより、レーザービームは参照光と測定光に分けられ、それぞれ参照ミラー（通常はセンサーヘッド内）とターゲットで反射されます。マイケルソンの原理により、ターゲットの反射率を考慮する必要はほとんどありません。PICOSCALE干渉計コントローラーは、強力なファームウェアモジュール、便利なソフトウェア、多彩なアクセサリーにより、新規または既存の測定セットアップに簡単に組み込むことができます。 出力信号 チャンネル数：3 データレート[MHz] ...
... 顕微鏡用の集光ビームを持つセンサーヘッドには、実際の干渉計が搭載されており、光ファイバでコントローラと接続されています。 F03センサーヘッドにはマイケルソン干渉計が搭載されており、様々な対物レンズと組み合わせることで、測定用レーザービームをマイクロメートルサイズのスポットに集光することができます。これにより、微小なターゲットの周期的な変位をピコメートルの分解能で測定することができます。また、PICOSCALEの振動計と組み合わせることで、高解像度の共焦点顕微鏡にも使用できます。 ...
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サ－ビス改善のご協力お願いします:
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