ライト測定システム
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... 産業オートメーション用インラインXRF 産業用XRFオートメーションのための装置 XMSは、インラインXRF測定用の堅牢で汎用性の高いセンサーで、さまざまな産業アプリケーションの要件を満たすために特に開発されました。 軽量(2kg以下)かつ堅牢な設計により、衝撃、振動、湿度、粉塵に対する極めて高い堅牢性を備え、環境条件や運用条件が携帯性を要求するアプリケーションに最適なXRF分析器です。 XMSは、XMLをベースとした専用のアプリケーションプログラミングインターフェースを備えており、ほとんどすべてのコーディング言語(Python、C、VBなど)に簡単に統合することが可能です。 その他の特徴は以下の通りです: CMOSアンプと軽元素検出用グラフェンベースのウィンドウを備えた20 ...
... ワッケンドルフは、インクリメンタルおよびアブソリュートWDGおよびWDGAのエンコーダの定評あるプロデューサーとして知られています。 Wachendorffは、特殊なベルトをベースにした一連のシャフトコピーシステムを開発しました。 シャフトに素早く簡単に取り付けるために必要な取り付け部品がすべて付属しています。 システムは、円周またはガイド付きベルトシステムとして提供することができます。 主な利点の1つは、特別なヌブ付きベルトと歯ベルトの使用です。 特殊ホイールと組み合わせて、高速を含むシャフト内で非常にスムーズかつ静かに動作します。 ...
... 蒸着・アニールUV光測定装置 UV Wafer in situ 紫外線(UV)光測定システムは、ワイヤレスセンサーウェハ技術を利用して、成膜プロセスツール内のウェハ表面におけるUV光の照射量と強度を測定するシステムです。これまで不可能だったプロセスの最適化とモニタリングを可能にするUV Waferは、FCVD(流動)酸化物や低誘電体膜のアニールや硬化に使用するUVランプからウェーハ表面に届く光の強度に関する時間的および空間的情報を提供します。また、ランプの経年変化によるドリフトや、不均一な膜特性をもたらすランプ強度の変化も確認することができます。UV ...
明視野とコンフォーカルの2系統の光学系を搭載。二次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。 二次元測定と高さ測定が可能な1台2役の高機能システム 明視野画像による二次元測定に加えて、コンフォーカル光学系による視野内一括高さ測定を実現。明視野測定では検出が難しいサンプルも、コンフォーカル光学系なら高速/高精度な測定が可能です。 微細配線パターンの測定 明視野では難しい輝度差の激しいサンプルでも、形状と高さを正確に捉えて検出できます。 プローブカードの測定 プローブカードの微細なコンタクト部分のXYZ座標を、視野内一括測定します。 高精度プリント基板パターンの測定 測定視野内の高反射面と低反射面のエッジが正確に検出できます。
... galileoは以下の寸法を測定します:工具径、切削長、テーパー角度、トーラス半径、コーナ面取り、DXFプロファイル、可変ピッチ、ピッチ、切削角度、逃げ角。 透過光プロセスで旋削して作成された工具のシルエットは、DXFフォーマットのターゲット形状と比較することができます。全ての測定結果は、20インチモニターに鮮明に表示されます。 スキャニングソフトウェアにより、任意のプロファイルを検査することができます。DXF形式の理論的なプロファイル形状を重ね合わせることで、偏差をグラフィカルかつ数値的に表示することができます。 お客様専用の測定ログは、シュネーベルガーのソフトウェアを使ってGALILEO上で直接作成することができます。これらのログには、測定値、グラフィック、公差フィールド、DXF図面、写真、会社のロゴが含まれます。 アプリケーションの幅を広げ、生産性を向上させるアクセサリー: 手動テールストック クランピングシャフト リダクションスリーブ付き油圧拡張チャック ターニングプレートホルダー ISO ...
... 光線透過率計 HiPA-TT UPH=720で短いサイクルタイム 調整可能なビームサイズとスポット分布により、さまざまなサンプルの試験が容易 操作しやすいUIデザイン カスタマイズ可能なFOM、高速データ処理、リアルタイムキーパラメータモニタリング 迅速な統合が可能な追加機能バーコード読み取り / 高精度ビジュアルポジショニング / オートローディング&アンローディング / 温度制御モジュール この試験機は、透明材料の光透過率を測定するために使用されます。ビームがサンプルを通過する前後のスペクトルエネルギー分布の違いを測定し、その2つを比較して異なる波長におけるサンプルの透過率を求めます。 ...
... 光度計、色彩色差計、分光放射輝度計などの光学パラメーターの自動測定に対応。 LCD、OLED、LEDディスプレイの開発に正確な光学性能測定データを提供できます。 実験室での研究開発や生産ラインでの品質検査など、製品の光学特性検査に適しています。 多軸モーションシステムとコントローラー 機械構造:垂直または水平 サイズ:12インチ~20インチ カスタマイズサービスの提供 BLテスト専門測定ソフトウェア 初期位置決めのための手動と自動システム制御 5点、9点、13点、25点の均一性テスト、ドットマトリクステスト、平面テスト 信号発生器と協力し、自動的に様々な信号を提供する エクセルデータレポート テストされたポイントの自動追跡アルゴリズム 設置、試運転、トレーニング ソフトウェアの無料アップグレード 輝度均一性、輝度安定性 クロミナンス、色温度、クロミナンス均一性 コントラスト、色域カバー率 グレースケール ガンマ クロストーク 応答時間 ワーンアップタイム OLEDのI-V-L 携帯電話のバックライトとモジュール パッドのバックライトとモジュール コンピュータバックライトディスプレイ 車載パネルディスプレイ インテリジェントコックピットディスプレイ ...
RayClouds Photoelectric Technology Co.,Ltd
... ナンバープレートランプ測定システム ナンバープレートの照明は、世界中で様々な法律や規制の対象となっています。これらの規制は、例えば、ECE、SAE、CCCなどの異なる規格で規定されています。ナンバープレートランプがこれらの規格に適合していることを確認するためには、ナンバープレート上の輝度値と色座標を測定しなければなりません。これは非常に時間がかかり、大変な作業になります。さらに、ランプの位置決めにおける人為的なミスは、評価の質をさらに低下させる可能性があります。 このため、テクノチームは、ナンバープレートランプの正確な測定と分析を確実に行うための完全なソリューションである ...
TechnoTeam Bildverarbeitung GmbH
... LGM-200B 照明グレア測定システム 統合されたTI、UGR、GR測定機能 広い輝度測定範囲と高分解能 歪みのないグレア測定と高い測定精度 CIE 115、GB/T 5700、GB 50034-2013、JGJ/T163-2008、JGJ/T153-2007、CJJ45-2015および他の標準の要件を満たすために、屋内照明および屋外照明のまぶしさを測定し、評価することを目的としています。 画像の輝度分布に基づくグレア指数の解析 このシステムは、高画素数のCCDを使用して、照明シーンの各点の輝度を正確に測定し、グレア指数を算出するための理想的な式に従って、サイズや長さを追加で測定することなく、照明シーンの各点の輝度を正確に測定することができます。 高い安定性と再現性 高度なTE冷却技術は、より高い安定性とより良い再現性を持っています。 高感度・高ダイナミックレンジ 低輝度測定では0.001cd/m2まで到達し、微弱輝度の測定要件を満たします。ハイダイナミックレンジイメージング技術(HDR)を用いたハイダイナミックレンジ測定により、広い輝度範囲で屋内外の環境を正確に測定することができます。 高いダイナミックレンジ 魚眼レンズによる広い視野を測定する際に生じる高歪曲収差の問題を解消し、2лまでの低歪曲輝度画像の測定を実現します。 高解像度・高角度精度 視野付近や周辺部で得られる輝度像に関わらず、高解像・高角度精度を実現し、魚眼レンズの低解像を回避しています。 ...
... マルチセルシステム マルチセルシステムは、 さまざまな製品の測光特性を分析し、特徴付けるために考案され、設計されています。 これらの システムを市販されている他のどのシステムよりもコンパクトにするために、レンズが設置されています。 セル検出器は 、特定の方向に放射される光束に関する情報を提供します。 信号測定用 (MES_S) または照明測定用 (MES_L) のマルチセルシステムがあります。 これらのデバイスは、テール、ストップ、 ターンインジケータ、横テール、DRL、CHMSL ...
Pleiades Instruments
... ダストエミッション測定システム スタックガードは、採取したガスサンプルのスキャット光の強度を連続的にモニタリングする装置です。迷光を最小限に抑えたレーザー光源を採用し、μg/m³レベルの感度を向上させています。また、フィルター付きのパージエアを使用することで、窓の汚れを防ぎます。チェックロッドで校正チェックを行います。サンプルガスはスタックから引き出され、露点以上に加熱された後、測定セルに供給されます。 乾いたガス、湿ったガス、高温のガス中の微小な濃度を連続的に監視するなど、過酷な作業のために試行錯誤された測定システムです。 EN ...
... 食品添加物や不純物、化学試薬、医薬品、爆発物、危険な化学物質、宝石、医薬品など、様々な分野で幅広く使用され、迅速な検出と正確な識別が可能です。サンプルの固定化、脱水、埋め込み、糊付け、染色、マーキングなどを行わずに、少量の検査サンプルでも、特定の名称、物理的性質、スペクトルなど、最も現実的なサンプル情報を得ることができます。システム全体が軽量で持ち運び可能なため、現場での迅速な検出や物質の識別などに適しています。 特徴 - サンプルの種類に応じて、プローブやブラケットをペアにしたり、用途に合わせてカスタマイズしたりすることができます。 - ...
LiveStrong Optoelectronics Company
... セット内容 - 1x ドングル CMS700 オーダーガイド - 追加モデルについてはお問い合わせください。 機能 - 対象物の高さが50mm以上の場合 動作範囲 - 0.1 ... 4.5 m 動作範囲、透明媒体 - 0.1 ... 1.75 m 測定フィールド長 1 - 640 mm 測定フィールド長 2 - 480 mm 測定フィールド長さ 3 - 480 mm ビーム本数 - 本 ビーム間隔 - 5 mm 出力電流、チャンネルあたりの連続電流、最大 - ...
Leuze electronic GmbH + Co. KG
... TRA100は、広範囲の材料について、通常の光入射下での分光透過特性を決定することができる透過率測定アダプタである。このアクセサリーアダプターのアプリケーションには、メガネや光学フィルターの特性評価などがあります。 インストルメントシステムの分光計はすべてTRA 100に対応しています。分光計に取り付けて、2つの方法で透過光をカップリングすることができます。マルチモードファイバーとSMAコネクタを使用するか、ファイバーバンドルを使用するかのいずれかです。 TRA ...
... Delta Mobrey MSM400システムは、スラッジやスラリー中の懸濁物質を連続的に測定するシステムです。 長年の実務経験から、スラリー中の超音波減衰の測定は、懸濁物質の割合に正比例することが分かっています。MSM400はこの原理を利用し、懸濁物質の測定値をデジタル表示し、連続的に出力するシステムです。 排水処理、工業、鉱業プラントでよく使用され、排水、石灰石スラリー、中国粘土などの幅広い流体に適しています。 用途としては、スラッジブランケットの測定や検出、スラリーの密度管理などがあります。MSM400コントローラは、タンクまたはパイプに取り付ける超音波ギャップセンサと一緒に使用され、用途に合わせて様々なギャップサイズを選択できます。 特長と利点 スラッジおよびスラリーの未溶解固形分測定、最大50%の懸濁物質まで対応 プロセス値のLCD表示、簡単な設定と診断のためのメニュー ...
... LEDのフォトメトリック仕様は、一般、自動車、その他の専門照明アプリケーションで使用されるかどうかにかかわらず、非常に高い許容誤差要件を満たさなければなりません。 LEDの製造公差は、エンドユースアプリケーションで許容される許容値よりも高くなる可能性があるため、これはしばしば問題になります。 また、LEDメーカーのLEDビニングは、その許容差に基づいてLEDを分類するために、パルス電流流を用いたフラッシュモードテストで実施される。 しかし、LEDの最終用途アプリケーションは、多くの場合、定電流モードで動作し、大きな熱効果があります。 ...
... MR610コントローラーは、マルチポイント温度測定システムMR610の評価ユニットです。 MR610の温度判定は「ラマン効果」に基づいています。極めて短い光パルスを使用することで、約100mmの空間分解能を実現しました。 ラマン効果を利用して決定されたガラス繊維に沿った温度分布は、どのポイントで温度を測定するか事前に分からない場合に常に使用されます。 したがって、この測定方法は、弱点を検出する対象物の温度モニタリングに適しています。測定後、温度と弱点の位置がわかります。 これにより、弱点を修理し、費用のかかる結果を回避することができます。 ...
... プリネクト・イメージ・コントロール4は、シート全体に均一なインクを塗布することを可能にします。 プリントシート全体をスペクトルスキャンし、プリントイメージのわずかなズレも自動的に補正する、世界でも他に類を見ないユニットです。プリプレスデータから測定要素だけでなく、ベタも自動的に検出し、制御プロセスに組み込みます。CMYK画像や網点の補正は、印刷サンプルやプルーフを使用して完璧に行うことができます。 Prinect Image Control 4は、不透明白の測定だけでなく、その制御も可能です。これにより、箔や金属表面への印刷において、より確実に有彩色をコントロールすることができます。また、完璧な色だけでなく、シート上の欠陥のない状態を実現する必要がある場合は、「オフライン検査」オプションにより、200 ...
C11295は、分光干渉法を利用した膜厚測定装置です。半導体製造工程における膜厚測定をはじめ、半導体製造装置へ搭載するAPCやフィルムの品質管理のために膜厚の測定をする装置です。リアルタイムでのマルチポイント計測が可能で、多チャンバ同時計測やフィルム面上の多点計測を実現します。また、膜厚と同時に反射率(透過率)・物体色、それらの経時変化も測定することができます。 特長 • 最大15ポイントを同時計測 • リファレンスフリー • 光量変動補正による長時間安定測定 • ...
HAMAMATSU
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