高精度三次元座標測定機

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
ブリッジ三次元座標測定機
ブリッジ三次元座標測定機
CRYSTA-Apex V1200

X軸移動距離: 1,200 mm
Y軸移動距離: 1,200, 2,000, 3,000 mm
Z軸移動距離: 1,000 mm

... CRYSTA-Apex V1200、1600、2000シリーズは、最大12.8m³の測定容積を持ちながら、4.5μm以上の優れた精度を維持します。 このシリーズは、体積部品の品質評価をサポートするために開発されました。 ミツトヨのCNC三次元測定機技術における豊富な経験に基づき設計・製作された、高性能でコストパフォーマンスの高い三次元測定機です。 タッチトリガープローブ、スキャニングプローブ、オプチカルプローブ、レーザスキャナプローブに対応。 主な特長 ...

ブリッジ三次元座標測定機
ブリッジ三次元座標測定機
CRYSTA-Apex V

X軸移動距離: 1,600, 2,000 mm
Y軸移動距離: 3,000, 2,000, 4,000 mm
Z軸移動距離: 1,600, 1,200 mm

... CRYSTA-Apex V1200、1600、2000シリーズは、最大12.8m³の測定容積を持ちながら、4.5μm以上の優れた精度を維持します。 このシリーズは、体積部品の品質評価をサポートするために開発されました。 ミツトヨのCNC三次元測定機技術における豊富な経験に基づき設計・製作された、高性能でコストパフォーマンスの高い三次元測定機です。 タッチトリガープローブ、スキャニングプローブ、オプチカルプローブ、レーザスキャナプローブに対応。 主な特長 -各軸に高剛性エアベアリングを採用した、実績のある軽量ブリッジタイプ構造。 -高精度、高速、高加速度 -機械とワークの温度補正(16°~24°C)および環境温度のモニタリング用温度センサー。 -ABS製リニアスケールは高い耐環境性を備え、原点復帰が不要なためスタートアップ時間を短縮 -マルチセンサーとSMS機能(スマート計測システム)をサポートするUC480コントローラ ...

手動制御三次元座標測定機
手動制御三次元座標測定機
METRONOR DUO

... Metronor DUO Probeは、2つの別々のカメラを同時に使用することで、最高の測定精度と幅広いアプリケーションを提供します。 このポータブルな計測システムでは、大きな計測ボリュームでプロービングポイントを取るだけでなく、任意の数の個々のターゲットを追跡することが可能です - 例えば、複数のターゲットを相対的に追跡したり、構造物の変形を決定したりすることができます。 また、カメラの1つを取り外すだけで、SOLOプローブシステムとして運用することも可能です。精度、汎用性、携帯性により、ジオメトリに関連するあらゆる問題に対応します。 - ...

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Metronor AS
手動制御三次元座標測定機
手動制御三次元座標測定機
Metronor DUO Split

... 2つの完全に独立したワンカメラシステムとして、あるいは1つの非常に高精度なツーカメラシステムとして使用できるポータブル計測システムを想像してみてください。それがメトロノームデュオスプリット、メトロノームの最も多用途なポータブル計測システムです。 メトロノームデュオプローブシステムにこのエクステンションを加えることで、システムの能力を最大限に拡張することができます。 通常の作業では、2つのSOLOが高い測定能力を提供します。特に難しい検査や厳しい公差の検査が必要な場合は、DUOの操作ですべての要求を満たすことができます。 メトロノーム ...

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Metronor AS
手動制御三次元座標測定機
手動制御三次元座標測定機
Metronor SOLO Twin

... メトロノームSOLOツインシステムは、測定対象が小さなスペースや狭いスペースに閉じ込められていても、高い精度で測定する必要がある場合に最適なシステムです。 ツインはメトロノールSOLOプローブの延長で、2台のカメラを隣り合わせに使用し、視野を2倍にすることでシステムの能力を向上させます。狭い場所でも測定対象物の近くに設置できるため、精度が向上し、従来は数回のセットアップが必要だったところを1回のセットアップで測定できるようになるという利点があります。 通常の操作では、2台のカメラはカーボンファイバー製の特殊なブラケットに一緒に取り付けられ、最適な重なりと優れた安定性を確保します。2台のカメラのアライメントは、迅速かつ簡単な手順で、いつでもどこでも再決定することができ、手荒な扱いや輸送の後でも、長期間にわたってシステムの性能を一定に保つことができます。 メトロノームSOLOツインは、2つのカメラ軸の相対位置を正確に把握することが重要な特殊な用途にも対応します。例えば、ギアボックス、スラスター、タービン、その他の機械の平面や穴のような平行な物体のアライメントや検査に使用されます。 - ...

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Metronor AS
コンピュータ制御三次元座標測定機
コンピュータ制御三次元座標測定機
APDIS MV4 series

APDISは幅広い業種において、高速かつ自動化された非接触測定を実現。数多くの利点をお客様に提供する新世代Laser Radarです。 APDISは前処理を必要とせず、離れた場所からでも精密な非接触計測が可能です。様々なアプリケーションにおいて、広範囲な自動計測により、工数短縮・人為誤差の排除を実現します。 高い生産性 長時間の立上げ時間不要で、高速・正確に自動検査を実施し、究極の生産性が得られます。 自由度の高い計測装置レイアウト 計測したい場所へ移動できるモバイルシステムで、生産ライン内などの必要な現場に持ち込み、絶対精度での測定を実現します。 高い安全性 プローブやターゲットを必要とせず、安全・短時間の計測が可能です。 前処理不要 ヘテロダイン干渉法を使って測定するため、対象物の前処理、プローブやターゲットの設置を必要とせず、ほぼあらゆる表面に対して非接触測定が行えます。

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