皮膜厚分析器

... スマートなコーティング分析で、より速く、接続された測定を実現 卓上型蛍光X線分析装置FT200シリーズは、測定時間を大幅に短縮するために設計されました。サンプルのセットアップと測定レシピの選択に最も時間がかかることを認識し、日立のエンジニアは、効果的に「セットアップ」する一連の画期的な分析装置を開発しました。 自動化と革新的なソフトウェアがFT230とFT210分析計の特徴です。Find My Part™（ファインド・マイ・パーツ™）のようなスマート認識モジュールは、オペレーターが試料をセットし、部品を確認するだけで、後は装置が処理します。大型の基板であっても、パーツ上の正しい測定箇所を見つけ、正しい分析プログラムを選択し、結果を品質システムに送信します。時間とヒューマンエラーが削減され、より多くの分析をより短時間で行うことができるため、多忙な生産環境において100%検査がより現実的なものとなります。 ...

マイクロスポット（XRF）コーティング膜厚と材料分析装置を使用し、品質管理とバリデーションテストを行い、簡単に結果を得ることができます。 蛍光X線分析（XRF）に基づく膜厚と材料分析は、業界で広く使用され実証された分析技術であり、簡単で高速、非破壊的な分析が可能で、ほとんどサンプル処理を必要とせず、固形又は周期律表のアルミニウム（13）からウラン（92）までの広い範囲の液体まで分析可能です。 PCB / PWB仕上げ 仕上げプロセスの制御能力は、基板のピッチ、信頼性、貯蔵寿命を左右します。 ...

... ナノスケールのコーティングを高速・高精度に分析することが可能 ベンチトップ型蛍光X線分析装置FT160は、今日のPCB、半導体、マイクロコネクタに見られる微小な特徴を測定するために設計されています。微小な形状を正確かつ迅速に測定することにより、生産性を向上させ、コストのかかる再加工や部品の不良品を回避することができます。 FT160のポリキャピラリー光学系は、50μm以下のフィーチャーのnmスケールコーティングを測定でき、高度な検出器技術により、短い測定時間を維持しながら高い精度を得ることができます。また、大型の試料台、大きく開くドア、高解像度の試料カメラ、充実した観察窓など、さまざまなサイズの試料を簡単にセットでき、大きな基板上の関心領域を探し出すことができます。使いやすく、QA/QCプロセスにシームレスに統合できるため、問題が深刻化する前に警告を発します。 マイクロスポットや極薄コーティングの分析用に設計されたFT160の光学系と検出器テクノロジーは、最小限の特徴に最適化されています。 安全な距離から分析結果を見ることができる大きな観察窓 測定方法は、ISO ...

... EDX2000A自動微小面積膜厚計は、Skyrayが長年培ってきた蛍光X線膜厚測定技術の粋を集め、特別に開発した最高峰の膜厚計です。 Skyrayが長年培ってきた蛍光X線膜厚測定技術を結集し、特別に開発しました。従来の膜厚計に比べ、従来のメッキに優れた性能を発揮するだけでなく、半導体、チップ、PCBなどの業界における非接触微小領域膜厚検査のニーズにも応えます。装置の外観はシンプルでエレガントです。X、Y、Z軸に沿ったプラットフォームの自動三次元移動、デュアルレーザー位置決め、セキュリティ保護システムにより、平面、凹凸面、角面、円弧面など様々な単純で複雑なサンプルの迅速な焦点合わせと正確な分析を実現します。 応用分野 電気めっき産業 電子通信 自動車製造 磁性材料 航空宇宙用新エネルギー 金物・衛生陶器 電気機器 貴金属電気メッキ ...

IMシリーズは、測定対象が持つ赤外線吸収を利用した水分、有機分、フィルム厚さ、塗工厚さなどの測定ができる多成分計です。近赤外から赤外までの波長域で最大10波長まで使用し、多様な成分量の測定ができます。また、最大4成分まで同時計測ができます。 - 豊富なインターフェイスに対応 - RS-485(MODBUS)、イーサネット(LAN)、アナログ出力を搭載しています。 - 高速・高感度測定、マルチ演算 - 出力更新周期28ms、および最適な光学設計にて高速・高感度測定が可能。また、演算も2色、3色比率演算の他に、多成分の変動要素まで考慮し最適条件設定が可能な重回帰演算などが検量線ごとに個別設定可能。 - ...