金属作業用分光器

波長: 119 nm - 766 nm
長さ: 76 cm
幅: 43 cm

... 高性能な金属分析を低価格で実現 OE750とNEW OE720は、画期的なOES金属分析装置です。低検出限界と最新のマルチCMOS技術により、金属*の全元素スペクトルをカバーします。 業界規制の強化、複雑なサプライチェーン、スクラップの母材としての利用の増加により、鋳造所や金属メーカーにとって、主要元素、残留元素、不純物、微量元素を最低ppmの範囲で管理することが極めて重要となっています。これまで、このレベルのOES分析は、多くの企業にとって手の届かないものでした。しかし、OEシリーズがそれを変えてくれました。 このスパーク分光器では、すべての主要な合金元素の分析が可能で、鋼中の窒素など、金属中の極めて低いレベルの不純物、微量元素、処理元素を特定することができます。OE750は、銅中の酸素やチタン中の酸素、窒素、水素などの希少なアプリケーションもカバーしています。 高速測定、高信頼性、低運用コストのOEシリーズは、大型で高価な分光器に匹敵する性能を持ち、日常の分析から総合的な品質管理まで幅広く活用できる貴重な装置です。 ...

直感的で簡単操作 *TM4000 II/TM4000Plus IIとの組み合わせ例 *検出器内蔵型 （製造元：ドイツBruker nano GmbH） 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 特長 簡単操作で迅速なカラーX線マップ 指定したスポット位置の移動に対応してスペクトル確認が可能 デュアルモード表示 画像とテンプレートを選択するだけで、Word®、Excel®、マッピングをしながらリアルタイムでポイント分析、ライン分析結果を表示。多面的に解析が可能です。 ハイパーマップにより、一度の測定でスポット分析・ライン分析・マッピング結果を取得可能 スポット分析 スポット位置の移動に合わせてリアルタイムでスペクトルが追従するので、目的元素の確認が容易に行えます。 リアルタイムピーク分離（オンラインデコンボリューション）マップ 通常のマップでは重なってしまう元素を、リアルタイムでピーク分離し正しい結果を表示します。

波長: 170 nm - 420 nm
長さ: 650 mm
幅: 610 mm

... 完全に再設計された金属分析装置により、Belecは再び新たな基準を打ち立てました。新しいBelec IN-SPECTは、独自のデュアルスペクトロメーター光学系を搭載し、このクラスの装置では比類のない性能と大幅なメンテナンスコストの削減を保証します。 鋳物工場での伝統的な製錬管理だけでなく、商品の受入れ、リサイクル、または生産管理における通常の品質保証にも使用されます。 Belec IN-SPECTは真の多機能です： 測定プログラム数はほぼ無制限で、ほとんどすべての要求を満たすことができ、価格も非常に魅力的です。 最新の7GSOシステムによる高性能 (第7世代分光計オプティックシステム） 分光アプリケーション用に開発された最新の検出器 コンパクトな構造 サービスとオペレーターに優しい設計 低い検出限界 優れた精度 使いやすいソフトウェアBelec ...