{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
分解能: 515, 1,030 nm
... 集束イオンビームミリングとフェムトセカンドレーザーアブレーション Thermo Scientific Helios 5 PFIB Laser Systems は、プラズマ集束イオンビームミリングとフェムト秒レーザーアブレーション、SEM（走査電子顕微鏡）イメージングを組み合わせたシステムです。この「TriBeam」の組み合わせにより、高解像度のイメージングと分析が可能になり、in situアブレーション機能により、これまでにない材料除去速度でナノメートル分解能のミリメートルスケールの高速キャラクタリゼーションが可能になります。 フェムト秒レーザーは、一般的なFIBよりも桁違いに速い速度で、多くの材料を切断することができます。大きな断面（数百マイクロメートル）を5分以内に作成することができます。レーザーは除去メカニズムが異なるため（FIBのイオンスパッタリングに対してアブレーション）、非導電性またはイオンビームに敏感なサンプルなど、困難な材料も容易に加工することができます。 フェムト秒レーザーのパルスが極めて短いため、熱衝撃、マイクロクラック、溶融など、従来の機械的研磨に典型的なアーチファクトはほとんど発生しません。ほとんどの場合、レーザー加工された表面は、SEMによる直接撮影や、電子後方散乱回折（EBSD）マッピングのような表面感度の高い技術でも十分にきれいです。 透過型電子顕微鏡（TEM）試料作製、アトムプローブトモグラフィー（APT）試料作製、3次元構造解析などの用途に、幅広い製品ポートフォリオと高度な自動化機能を提供しています。 ...
... ハイテク-低予算、統合画像処理付き、または以下の測定用の「小型」マルチセンサー装置として。 - ブランク部品 - プラスチック部品 - ゴム部品 - 工具 - シール - プロファイルなど WM1シリーズ ワークショップ用顕微鏡 - お客様の測定用途に合わせたソリューション WM1のマニュアルバージョンとCNCバージョンのどちらをお選びいただいても、SAPHIRとM3という2つの測定ソフトウェアパッケージをご利用いただけます。エントリークラスのM3計測ソフトウェアは、直感的な操作性と機能性で標準を確立しています。プログラミングと解析の可能性にさらなるご要望があれば、3D測定ソフトウェアもご利用いただけます。どちらのソフトウェアパッケージも、オプションでCNCバージョンに触覚測定プローブをアップグレードし、「小型」マルチセンサー装置として使用することができます。WM1シリーズは、お客様のニーズに柔軟に対応し、ご予算に合わせたソリューションを提供します。 メリット - ...
... ハイテク-低予算、画像処理内蔵、または測定用の「小型」マルチセンサー装置として： - ブランク部品 - プラスチック部品 - ゴム部品 - 工具 - シール - プロファイルなど WM1シリーズ ワークショップ用顕微鏡 - お客様の測定用途に合わせたソリューション WM1のマニュアルバージョンとCNCバージョンのどちらをお選びいただいても、SAPHIRとM3という2つの測定ソフトウェアパッケージをご利用いただけます。エントリークラスのM3計測ソフトウェアは、直感的な操作性と機能性で標準を確立しています。プログラミングと解析の可能性にさらなるご要望があれば、3D測定ソフトウェアもご利用いただけます。どちらのソフトウェアパッケージも、オプションでCNCバージョンに触覚測定プローブをアップグレードし、「小型」マルチセンサー装置として使用することができます。WM1シリーズは、お客様のニーズに柔軟に対応し、ご予算に合わせたソリューションを提供します。 お客様のメリット - ...
倍率 : 70 unit - 140 unit
重量: 140 g
長さ: 10.7 cm
... AM7515MZT1P は、Aim Point Laser (APL) を搭載し、顕微鏡下でのターゲットの位置決めやピント合わせを容易にします。AM7515MZT1Pは、AMR、FLC、APL、メタルハウジング、偏光板を搭載した、倍率70～140倍の5MPマイクロスコープです。 AM7515MZT1Pはユニバーサルレンジに属し、標準ワーキングディスタンスと70～140倍の広い倍率範囲により、幅広いアプリケーションに適しています。偏光フィルターを内蔵しているため、金属、プラスチック、ガラス、宝石、電子機器など、光沢のある物体や反射する物体の観察に最適です。AMR機能は、測定機能を頻繁に使用する場合に特に重要です。 エイムポイントレーザー（APL）は、ターゲットの位置決めと焦点合わせのための視覚的な基準点を提供する赤い点を投影する一体型トラフレンズレーザーです。 AM7515MZT1Pの主な特長は以下のとおりです： - ...
倍率 : 130 unit - 220 unit
重量: 140 g
長さ: 10.7 cm
... AM7515MZT2P は、Aim Point Laser (APL) を搭載し、顕微鏡下でのターゲットの位置決めやピント合わせを容易にします。AM7515MZT2Pは、AMR、FLC、APL、メタルハウジング、偏光板を搭載した130～220倍の5MP顕微鏡です。 AM7515MZT2Pはユニバーサルレンジに属し、標準ワーキングディスタンスと130～220倍の広い倍率範囲により、幅広いアプリケーションに適しています。偏光フィルターを内蔵しているため、金属、プラスチック、ガラス、宝石、電子機器など、光沢のある物体や反射する物体の観察に最適です。AMR機能は、測定機能を頻繁に使用する場合に特に重要です。エイムポイントレーザー（APL）は、ターゲットの位置決めと焦点合わせのための視覚的な基準点を提供する赤い点を投影する一体型トラフレンズレーザーです。 AM7515MZT2Pの主な特長は以下のとおりです： - ...
倍率 : 45 unit - 70 unit
重量: 140 g
長さ: 10.7 cm
... エイムポイントレーザー（APL）を搭載したAM7515MTFPは、顕微鏡下でのターゲットの位置確認やピント合わせの作業を容易にします。AM7515MTFPは5MPの超長作動距離（ELWD）顕微鏡で、AMR、FLC、APL、金属ハウジングを採用し、45～70倍の倍率を実現しています。108mmのワーキングディスタンスで最大70倍の鮮明な画像を提供します。 AM7515MTFPはロングワーキングディスタンス(LWD)シリーズに属し、ロングワーキングディスタンスと45～70倍の倍率範囲を備えているため、対象物までの距離が必要な場合や、より広い視野が必要な場合など、幅広い用途に適しています。 作業距離が長く、視野が広いこのモデルは、修理、手直し、組み立てなどの作業や、かさばったり、壊れやすい対象物に触れることができない作業に理想的なソリューションです。偏光フィルターを内蔵しているため、金属、プラスチック、ガラス、宝石、電子機器など、光沢のある物体や反射する物体の作業に最適です。AMR機能は、測定機能を頻繁に使用する場合に特に重要です。 エイムポイントレーザー（APL）は、ターゲットの位置決めと焦点合わせのための視覚的な基準点を提供する赤い点を投影する一体型トラフレンズレーザーです。 AM7515MTFPの主な特長は以下のとおりです： - ...
CIQTEK QDAFM Diamond III/IV は、ダイヤモンド窒素空孔中心 (NV センター) と AFM 走査磁気イメージング技術に基づいた走査型 NV センター顕微鏡です。量子制御とダイヤモンドプローブのスピン状態の読み取りにより、試料の磁気特性が定量的かつ非破壊的に得られます。 NV ダイヤモンド磁力測定と量子力学に基づいており、ナノスケールの空間分解能と超高検出感度を備えており、磁気テクスチャー、高密度磁気ストレージ、スピントロニクスの開発と研究に使用できます。
分解能: 400 nm
CIQTEK 量子ダイヤモンド顕微鏡 (QDM) は、ダイヤモンド窒素空孔中心 (NV 中心) におけるスピン磁気共鳴の原理に基づく広磁場磁気共鳴です。NV 中心発光欠陥のスピン量子状態は周囲のマイクロ波と静磁場の影響を受けやすいため、レーザーを使用して読み取ることができます。 NVセンターを使用してサンプル周囲の磁場またはマイクロ波場の分布を測定すると、高い空間分解能、広い視野、検出可能な磁場の広いダイナミックレンジ、および高速イメージング速度を備えた定量的非破壊顕微鏡磁気イメージングが可能になります。 また、周囲試験環境から極低温および真空の極限環境まで互換性があります。
高速、コンパクトで使いやすいベンチトップ型顕微鏡のおかげで、超解像イメージングがとても身近になりました。 BC43 SRは、他の高価なソリューションよりも簡単なルーチンの蛍光ラベルで、サンプルの隠れたディテールを明らかにします。 回折の壁を打ち破り、鮮やかな画像をこれまで以上に素早く簡単に撮影し、生産性を向上させます！ 信頼できる、高速で簡単な超解像顕微鏡 BC43 SRベンチトップ型超解像顕微鏡は、超小型でありながら豊富な機能と利点を備えており、初期段階の研究者や経験豊富な顕微鏡技師にとって理想的な顕微鏡です。暗室を必要としないため、研究者はサンプルと同じベンチでレーザーコンフォーカル顕微鏡や超解像などの機能を利用することができます。これにより、迅速な学習曲線と相まって、結果を損なうことなく、個々のユーザーやラボ全体の生産性を大幅に向上させることができます。 アンドールは、すべてのBC43顕微鏡が厳密に管理されたパラメータ内で動作することを保証する、IQ ...
Andor Technology
重量: 80 kg
長さ: 105 cm
幅: 85 cm
... LIMA™ は、広範囲に調整可能なレーザー光源をベースにしたハイパースペクトル顕微鏡です。Photon etc.のフィルタリング技術を用い、研究用顕微鏡の全視野を連続可変の単色高出力密度レーザー光で照射します。このシステムは、VIS、NIR、SWIRの高い分光分解能と、回折限界に近い空間分解能を兼ね備えています。暗視野、PLE、標準的な明視野反射・透過イメージングに最適で、ポイント・バイ・ポイントやライン・スキャン・ベースのシステムよりもはるかに速く、サンプルの全スペクトル応答をマップすることができます。 ...
... Invizo® 6000 3Dアトムプローブ顕微鏡は、アトムプローブ解析の限界を押し広げる画期的な技術を導入しています。超広視野の飛行経路と独自のデュアルビーム深紫外レーザーパルスシステムにより、単一試料の歩留まりが向上し、再構成の忠実度が改善された解析ボリュームが大きくなり、各データセットからより多くの情報を得ることができます。Invizo® 6000は、多様なアプリケーションの高度な研究に理想的な選択肢です。 CAMECAのInvizo® 6000 3Dアトムプローブの中核をなすのは、全く新しい対向電極コンセプトであり、前例のないAPT視野を持つイオン光学系を可能にすることに加え、試料の対称的なレーザー照射を可能にすることで、比類のない分析能力をもたらします。 Invizo® ...
CAMECA
重量: 53, 59, 63, 78 kg
長さ: 823, 905, 1,009, 1,320 mm
幅: 500 mm
... ATR8800シリーズ科学グレードラマン顕微鏡は、2つのレーザーを統合し、顕微鏡とラマン分光器の利点を兼ね備えています。オプトスキーが自社開発したラマンイメージング顕微鏡は、「見ることは試すこと」を実現し、顕微鏡プラットフォームでサンプルの微小領域を正確に位置決めし、観察者がサンプルの異なる表面からラマン信号を収集できるように可視化し、一方でコンピュータに検出領域の画像を表示させることができると言います。 ATR 8800のフルシリーズは、完全自動焦点、自動スキャン、簡単な操作、高スループットテスト、均一性スキャンなど、待つ必要がなく、ラマンデータベースの信頼性の高いスキャンイメージングを得ることができることができます。 ATR8800 ...
Optosky(Xiamen)Photonics Inc.
分解能: 400 nm - 2,000 nm
... 極低温ラマン顕微鏡 -ハイパースペクトルイメージングで、かつてない分解能とスピードを実現 →ピクセル単位での自動ラマンスペクトル生成 -低振動のクローズドサイクル・クライオスタット →ソレノイドマグネット、ベクトルマグネットによる最大磁場での温度可変性 -様々なアプリケーションに対応 →様々なアップグレード（低波数、偏光制御など）が可能 ...
分解能: 0.05, 0.2 nm
申し込み オールインワン設計、スマートな構造と形状スキャンヘッドとサンプルステージが一緒に設計され、強力な防振性能または自動 的に、正確なスキャン領域の位置決めを実現します。高精度で広範固のサンプル転送デバイスにより、サンプルの興裱深ぃ領域 をスキャンできます。さまざまなタイプのスキャナーが、楕度とスキャンサイズに関するさまざまな題客の要件を満たします。 チップチェックとサンプル用の光字観測システムポジシ3ニング。リアルタイムのサンプル領域の観察と位置付けのための000 ...
倍率 : 30 unit
長さ: 152 mm
... 望遠鏡 長さ : 152mm 対物レンズ : 40mm 倍率 : 30倍 イメージ : Erect 視野 : 1*30 " 解像力 : 2.5インチ 最小焦点 : lm スタディアの比率: 100 スタディア定数 : 0 電子角度測定 方法: 絶対 検出 : 水平2面 垂直1面 最小読み取り : 5"/10" 直径円 : 71mm 表示 単位：2面 イルミネーション ディスプレイ : はい , レチクル：あり コンペンセーター チルトセンサー：オートV-コンペンセーター 補正範囲 ...
詳細をお書きください:
サ－ビス改善のご協力お願いします:
残り