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測定範囲: 3 mm
測定精度: 0.3 µm
測定周波数: 3.9 kHz
thicknessGAUGE O.ECは安定したOフレーム設計で、アルミニウム製ローラーと統合制御盤を備えたコンパクトなインライン測定システムです。このシステムは、厚さ3 mmまでのプラスチック製ストリップやコーティング材や、最大1250mmまでのウェブ幅の厚さを正確に測定するために使用されます。材料厚の横方向プロファイルを得るために、センサーがフィルム上を横切り、センサーを任意の幅の位置で保持すると厚みプロファイルが生成されます。 組み込みはプラスチック製造やバッテリーフィルム製造といった生産ライン全体に行い、新しいプラントへの統合も、既存のプラントに直接後付けすることも可能です。 特徴 • ...
測定範囲: 0 mm - 80 mm
... 接触式インライン厚み測定器 GreCon THICKNESSCONTROL RT は、MDF、OSB、チップボードなどのパネル材や、革、カウチューク、プラスチック、絶縁紙などの材料の厚みを測定します。最新の技術により、非常に短い製品サイクルタイムでの測定が可能です。 一目でわかるメリット 研削代削減による材料効率の向上＝生産コスト削減 環境からの影響を補正するため、最小のパネルギャップでも自動校正が可能 生産された材料の継続的な品質管理 ...
測定範囲: 0 µm - 10,000 µm
... 特徴 - 磁気誘導式（F）と渦電流式（N）の2つの測定方式を採用 用途に合わせて6種類のプローブを用意 2種類の測定モード：連続測定／単一測定 5種類の統計処理方法。平均値 / 最大値 / 最小値 / 試験番号(No.) / 標準偏差(S.DeV) 最大495個の読み取り値を記憶 ダイレクトテストモードとブロック統計モード(APPL/BATCH) 統計値の直接プリントアウト PCと接続するDataviewが利用可能 ...
TIME SHIJIN Group
測定範囲: 0 µm - 10,000 µm
重量: 530 g
周囲温度: 0 °C - 40 °C
... 特徴 磁気誘導（F）、渦電流（N）の2つの測定方式を採用。Fプローブが装備されている場合、それは、Nプローブが装備されている場合、それは非磁性基板の非導電性コーティングを測定する磁性基板の非磁性コーティングを測定することができます 詳細はここをクリックしてください。 F400、F1、F1/90、F10、N1、CN02の6種類のプローブがあり、用途に合わせてお選びいただけます。 2種類の測定モード：連続測定/単回測定 5種類の統計処理平均値/最大値/最小値/試験番号(No.)/標準偏差(S.DeV) ...
TIME SHIJIN Group
測定範囲: 0 µm - 1,250 µm
... 特徴 磁気誘導法（F）と渦電流法（N）の2つの測定方法 磁気誘導(F)方式は鉄系金属の非磁性被膜の厚さ測定に使用 渦電流（N）方式は、非鉄金属上の非導電性コーティングの厚みを測定するために使用 基板の自動認識 測定方法の自動選択 5種類の統計方法平均値/最大値/最小値/試験番号(No.)/標準偏差(S.DeV) 上限値・下限値の設定とアラーム音 RS232ケーブルでプリンターやPCにデータ出力可能 ...
TIME SHIJIN Group
... 特徴 TT220：一体型プローブF、測定方式：磁気誘導方式 TT230：一体型プローブN、測定方式：渦電流 2つの測定モード: 連続的/単一 5つの統計方法。平均値/最大値/最小値/試験番号(No.)/標準偏差(S.DeV) 15回分の測定値保存 ローバッテリー表示 自動的にスイッチオフ リアルタイムまたはバッチ印刷 ...
TIME SHIJIN Group
測定範囲: 0 µm - 1,500 µm
分解能: 0.1 µm
... - 磁気誘導と渦電流の統合プローブ - 最大0.1μmの分解能 - 最大±（3%+1μm）精度 - 最大測定範囲0～1500μm - ゼロ校正が容易 - LCDは最大、最小、平均、数値を表示 - 連続測定をサポート 説明 EC-420膜厚計は、非鉄金属上の塗料、エナメル、クロムなどの非磁性皮膜や、非鉄金属上の塗料、アルマイト皮膜などの絶縁皮膜の非破壊膜厚測定に使用できます。 このゲージは磁気誘導と渦電流プローブを内蔵しており、0～1500μmの測定範囲、±(3%+1μm)の精度、0.1μmの分解能をサポートしています。 測定対象物の表面にプローブを当て、トリガーを引くと、自動的に特性が識別され、LCDに厚さが表示されます。 このゲージはデータ統計、連続測定をサポートし、最大、最小、平均、数値を表示します。全ての操作が簡単で、高精度な測定が可能です。 用途 - ...
測定範囲: 0 µm - 500 µm
測定精度: 0.3 µm
分解能: 0 µm - 500 µm
... 10μm以下の極薄メッキの測定に対応。 デジタル発振技術採用 連続測定対応 1-5点校正対応 LS225+F500 はホストとプローブが分離しためっき膜厚計です。LS225+F500 マルチプローブ膜厚計ホストと F500 プローブで構成されています。LS225+F500 は、鉄やその他の強磁性金属基板上の銅、亜鉛、スズ、クロム、非磁性皮膜の検出に使用します。この膜厚計は、超高精度な測定精度と再現性を備えています。10μm以下の超薄膜の厚さ測定にも使用できます。LS225+F500 ...
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