DCモーター配置システム

繰返し精度: 0.5 µm - 2 µm
ストローク: 100 mm - 600 mm
速度: 25 mm/s - 200 mm/s

... XYZユニバーサル ガントリー カスタマイズ可能 - 高精度で汎用的なオーバーヘッド動作に最適 - 600 x 600 x 100 mmの非常に大きな移動範囲 - 繰り返し精度0.5 µmまでの高精度位置決めによる信頼性の高い一貫した結果 - 最大2 m/s2で微小サンプルのスループット時間を加速（特に頻繁なスタート-ストップフェーズが必要な場合 - エアベアリングによる低メンテナンスとフレキシブルな24時間365日稼動（パラメータ可変時 Z軸上のカスタマイズされた処理ヘッドまたはセンサーは、試料キャリア上を非常に高速で移動します。最大600 ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.4 µm
積載量: 15 kg
ストローク: 200 mm - 1,000 mm

... 検査用XYZガントリー カスタマイズ可能 - 最大450 x 1000 x 1000 mmの大型部品の高精度検査に最適 - 極めて高い剛性により、ナノメートル領域の分解能を実現 - お客様固有の顕微鏡、カメラ、センサーに個別に対応 - 最高速度2420 mm/sの卓越した高スループット - 可変パラメータ下でのエアベアリングによる低メンテナンスとフレキシブルな24時間365日稼動 このXYZ位置決めシステムは、450 x 1000 x 1000 mmを超える大型で高さのあるサンプルの高精度測定に適しています。Z軸に特注の顕微鏡、カメラ、センサーを取り付け、XYZオーバーヘッド動作でサンプルを測定することができます。これにより、ナノメートル領域での高解像度イメージングが可能になるほか、2Dおよび3Dイメージング用の数多くの測定機能を備えている。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.2 µm - 2 µm
積載量: 15 kg
ストローク: 10 mm - 600 mm

... XY-2Z 4軸ガントリー（絞り付き カスタマイズ可能 - 連続動作でのスポット差分高さ測定に最適 - アパーチャー70 x 100 mm用の両面Zセンサーポジショナー - 振動減衰設計により、1µmまでの繰り返し精度に優れた処理値を実現 - エアベアリングサンプルキャリアによるエミッションの低減 - 優れた寿命とメンテナンスフリーの24時間365日稼動 このXYZガントリー位置決めシステムは、さまざまな計測アプリケーション用に2台のカスタムセンサー/顕微鏡を使用した高精度の両側検査プロセスを可能にします。1つ目のZ軸は固定トラバース上にあり、2つ目のセンサー/顕微鏡はアパーチャ下のZ軸に取り付けられています。エアベアリングサンプルホルダーは、Z軸上の2つのセンサー（それぞれ100mmの高さ調整が可能）により、開口部までXY方向にサンプルを移動させます。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.01 µm - 2.5 µm
速度: 5 mm/s - 35 mm/s

... カスタマイズ可能： - 医療、バイオテクノロジー、半導体技術における高精度3Dプロセスの開発とセットアップに最適 - μmレンジの安定性による細部の超微細イメージングと高いズームレベル - 最大35mm/sの高速回転による短いサイクルタイム - 最大2.5 µm、最小0.02°までの回転運動による高い再現性 - 長期信頼性の高い標準軸により、非常に長い耐用年数と低メンテナンスを実現 この9軸位置決めシステムは、注射ノズル、ステント、小型切削工具、カニューレ、その他の回転対称部品など、顕微鏡や高解像度カメラであらゆる角度からサンプルを観察することを可能にします。KLT310の堅牢で剛性の高い標準コンポーネントとXYZ用PMT160で構成され、さまざまなタイプの顕微鏡を取り付けることができます。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.4 µm
積載量: max 30.0 kg
ストローク: 100 mm - 200 mm

... 変動荷重・移動荷重用XYZ測定システム カスタマイズ可能 - 部品測定や高さのある部品の3Dプロファイルの取得に最適 - 荷重に左右されない高精度測定（±1 µm、移動物体でも測定可能 - 測定誤差を5 µrad以下に大幅に低減 - 完璧な真直度±0.5 µm、平面度±1 µm - 平坦度に依存しないインターフェースと調整機能 このXYZ位置決めシステムは、変動荷重や移動物体の高精度測定用に特別に設計されています。異なる重量クラスの物体を次々に測定しなければならない場合、従来の測定ステージではすぐに限界に達してしまいます。 仕様 - ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.5 µm
ストローク: 50 mm - 200 mm
速度: 30 mm/s

... 高精度自動光学検査用XYZ位置決めシステム カスタマイズ可能： - 高精度自動検査プロセスに最適 - 0.3 µmまでの高い繰り返し精度 - 測定誤差を3μm以下に低減 この3軸位置決めシステムは、XYステージがZ軸上のセンサーやカメラに対して極めて低いピッチ誤差とヨー誤差で測定対象物を移動させるような高精度測定アプリケーション向けに開発されました。例えば、高さのある部品の測定や3Dプロファイルの記録などがこれにあたります。 仕様 - 標準システムKT310-DC ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.4 µm
ストローク: 100 mm - 200 mm
速度: 15 mm/s - 25 mm/s

... コントローラー付きXYZシステム カスタマイズ可能： - アプリケーションのセットアップと拡張に最適 - 0.3μmまでの高精度繰り返し精度 - 30mm/sの比較的高速な位置決め速度で、最小のステップと最高の信頼性 - 150Nまでの中荷重を位置決めする±1の完璧な平面度 PMT160 の高精度で耐久性の高い標準直動軸に、独立した Z 軸ユニットを搭載した XY コンビネーションです。この組み合わせは、完璧な平面度、ピッチとヨーの最小公差、スムーズな動作を必要とするすべてのアプリケーションに適しています。 仕様 - ...

繰返し精度: 2 µm
ストローク: 65 mm
速度: 25 mm/s

... XYラボラトリーアナリティクスシステム、センサー用ホルダー、XYステージ、アパーチャー付き カスタマイズ可能 - 高解像度分析、スキャニング、顕微鏡、測定作業のセットアップと拡張に最適 - センサーまたはカメラ用アタッチメント - 2 µmまでの高い繰り返し精度 - μmの安定性により、最高の解像度と詳細なイメージングを実現 - 0.3µmの完璧な平坦度により、5kgまでの中荷重に対応 仕様 - 移動距離: 65 mm (XY) - 水平度： ± 2 - ± ...

繰返し精度: 0.3 µm - 0.7 µm
ストローク: 200 mm
速度: 15 mm/s - 25 mm/s

... 高解像度のXYZ顕微鏡と検査ステーション カスタマイズ可能 - サンプル検査に最適 - 0.3 µmまでの高精度繰り返し精度 - 測定偏差を3 µm以下に低減 この3軸位置決めシステムは、高精度計測アプリケーション向けに設計されており、ステージがZ軸上のセンサーまたはカメラまで測定対象物を移動させます。xyステージはDCモーター設計の信頼性の高いKT310で構成されています。 仕様 - 移動量：200 mm (XY) / 200 mm (Z) - 繰り返し精度：± ...

繰返し精度: 0.001 µm - 4.5 µm
ストローク: 50 mm - 360 mm
速度: 50 mm/s - 200 mm/s

... XZ-Phiシステム カスタマイズ可能： - 高精度計測システムのセットアップに最適 - サブマイクロメータ領域で最大0.1 µm / 0.0001°の測定システム分解能 - 0.3 µmまでの高精度繰り返し精度 - 最大0.001°までの微細な回転運動 - 極めて長い耐用年数による低メンテナンス このX-Z-Phi多軸位置決めシステムは、高精度で耐久性の高い標準軸（PMT160-300-EDLM、MT130-50-DC、DT170-TM）で構成されており、これらを理想的に組み合わせることで、高精度測定のセットアップが可能です。水平移動の場合、PMT160-300-EDLMはサブマイクロメートルの最小ステップサイズと高速位置決めを可能にします。 仕様 - ...

... 異なるリニアモータ軸を使用した XY および XZ システム XY および XZ システムは、標準的なリニアモータ軸を使用して構築さ れ、さまざまなオートメーションアプリケーションで使用されるモーショ ン制御システムです。これらのシステムは、リニアモーター軸の向きによって動きが容易になるため、このような名前が付けられています。シナドリブスの標準モジュールを組み合わせることで、あらゆるご要望にお応えするオーダーメイドシステムを構築することができます： ...