冶金用途用顕微鏡レンズ

焦点: 53 mm - 420 mm
トランスミッション: 355 nm - 1,080 nm

355 nmから 1080 nm までの波長に対応する Fθ JENar® レンズ 標準型のFθ レンズ Fθ JENar® レンズは、微細材料加工、特にマイクロストラクチャリングや、様々な材料のマーキングやラベリングに適しています。 JENar® シリーズは 、UV、VIS、IR 範囲のレーザー波長に使用されますが、355 nm用から1080 nm用まであります。標準レンズは、保護ガラス付きで、非常に高い耐久性があります。 これらのレンズは、利用可能な ...

焦点: 8 mm - 50 mm

... 2/3 5MP 2MP、3MP、5MPのカメラに対応。 高相対照度、大口径 フォーカス範囲：0.1m～無限遠 F/NO 1.4-16大口径、均一性が良い。 高コントラスト画像 アプリケーショ コンテナ 存在を確認する／分類を確認する ボトルキャップに種類があるかどうかを検出する 割込み 自動車 シミ・汚れ ピストンの切削付着物の検出 産業 高さ 金属痕を検出する 位置/傾き ワークの取り付け位置の確認 型通り ...

焦点: 20 mm - 40 mm

... 4Kラインスキャンレンズ 小型ラインスキャンカメラに対応した設計 標準的なEFLと拡大鏡を用意 倍率0.02倍～0.33倍 Vマウントを標準装備、各種カメラマウントに対応可能 印刷・包装検査に適用される アプリケーショ 産業 高さ 金属痕を検出する 電子部品 不良品・スポット LED外観検査 存在を確認する／分類を確認する バッテリーパックのカラーを決める 産業 シミ・汚れ 電極の傷や汚れの有無の検査 シートコーティング ...

焦点: 20 mm - 100 mm

... 4K 7μ LINE SCAN LENS 多焦点・多倍率、ワイドフォーカスレンジ設計をカバーします。 均一なMTF設計と光学的な非熱設計 超低ディストーションと高い相対照度 小型ラインスキャンカメラ専用マウント M42×P1 印刷・包装検査に適用可能 アプリケーショ 産業 高さ 金属痕を検出する 電子部品 不良品・スポット LED外観検査 存在を確認する／分類を確認する バッテリーパックのカラーを決める 産業 シミ・斑点 ポールピースのコーティングにキズ/斑点がないか確認する ...

焦点: 40 mm - 100 mm

... 8kラインスキャンレンズ 8k7μラインスキャンカメラ専用設計 標準的なEFLと拡大鏡を用意 倍率0.02倍～0.4倍 Vマウント標準装備、各種カメラマウントに対応可能 リチウム電池などの大型検出に適用。 アプリケーショ 産業 高さ 金属痕を検出する 電子部品 不良品・スポット LED外観検査 存在を確認する／分類を確認する バッテリーパックのカラーを決める 産業 シミ・斑点 ポールピースのコーティングにキズ/斑点がないか確認する ...

焦点: 116 mm
イメージサークル: 62 mm

... 12kラインスキャンレンズ 8k/12k解像度カメラに対応 標準倍率0.18X～1.29X 大口径、FNO.4.5 超低光学ディストーション アプリケーショ 産業 高さ 金属痕を検出する シミ・斑点 鋼板のキズや汚れの検出 液晶、半導体、その他 カウントする SDカード枚数の算出 幾何学的な測定 ICのリード曲げを検出する ...

焦点: 35 mm - 90 mm

... 29mpの大判レンズ 最大撮像エリアは43mmに達し、2900万画素センサーに対応 5μ/7μ画素に対応した4Kラインスキャンカメラに対応。 一眼レフをはるかに凌ぐ光学性能 標準的な焦点距離と倍率を用意しています 印刷や包装の検査に適しています。 アプリケーショ 産業 不良品・スポット 鋼板のキズ・汚れのチェック 電子機器 存在を確認する／分類を確認する バッテリーパックのカラーを決める 電子部品 高さ 金属痕を検出する 液晶、半導体、その他 カウントする SDカード枚数の算出 ...