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{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Resolução espacial: 0,2 µm
Peso: 9 kg
Comprimento: 587 mm
... nossas câmeras para microscopia continuam a oferecer tecnologias inovadoras e desempenho confiáveis para atender a uma vasta gama de aplicações industriais. Escolha entre uma ampla variedade de modelos que se acoplam ...
Resolução espacial: 1 µm
... Os sistemas de microscópio MX63 e MX63L são otimizados para inspeções de alta qualidade de wafers de até 300 mm, visores planos, placas de circuito impresso e outras amostras grandes. ...
... resolução, como também aumentam a produtividade ao inspecionar amostras com 8"/200 mm de diâmetro.. A iluminação baseia-se na mais moderna tecnologia de LED e é totalmente integrada ao microscópio. ...
Leica Microsystems GmbH
... A grande amplitude de zoom (16:1) permite uma rápida mudança entre ampliações. O campo do objecto é variável de 0,18 upt a 35 mm sem necessidade de reorientação. O suporte basculante (-/+ 60°, até 90° ...
Leica Microsystems GmbH
... inspeção de amostras grandes, em campo claro, oblíquo – ou com luz polarizada. Toda a iluminação de luz refletida é realizada com LEDs, o que permite a inspeção com diferentes ângulos de iluminação, especialmente ...
Leica Microsystems GmbH
Ampliação : 20 unit
Comprimento: 304 mm
Largura: 210 mm
... botão Snap no suporte para obter a imagem. É tão fácil quanto isso. Pode controlar o microscópio e a câmara acoplada sem sequer mudar de posição, focando sempre a sua amostra. Ergonomia ...
... todos os tipos de amostras. Um detetor de alta matriz permite alta resolução de detalhes finos, mesmo com volumes de imagem relativamente grandes. O sistema possui um grande campo de ...
... medições exactas sem comprometer a integridade da sua peça de trabalho. Com a Nanite, pode confiar que as suas amostras permanecerão intactas e inalteradas durante todo o processo de análise. Integração ...
... Os microscópios invertidos são compactos, duráveis e utilizados para altas necessidades de ampliação. São ideais para a análise de amostras de montagem com superfícies de amostras planas ...
Ampliação : 1 unit - 100 unit
Peso: 26 kg
Comprimento: 295 mm
... software de análise. O desenho universal do microscópio permite técnicas complementares de contraste óptico num único suporte de microscópio graças a um programa modular de componentes. Nikon ECLIPSE ...
Nikon Metrology
... completa de 300 mm x 300 mm e pode inspeccionar eficientemente uma pastilha inteira de 300 mm, sem qualquer necessidade de um deslocamento incómodo da amostra. Principais Características Técnicas: scanner ...
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