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Resolução espacial: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Largura: 340 mm
... para análise elementar (EDS) e difração (EBSD). A tecnologia Thermo Scientific ChemiSEM integra as capacidades de espetroscopia de dispersão de energia (EDS) diretamente na interface de utilizador do microscópio, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterização por microscopia electrónica de varrimento de nanomateriais com resolução sub-nanométrica e alto contraste de material. Microscópio Verios 5 XHR Scanning Electron O Verios 5 XHR SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 1,3, 1, 0,8, 3 nm
... Microscópio electrónico de varrimento ambiental (ESEM) para o estudo de materiais no seu estado natural. Microscópio electrónico de varrimento ambiental Quattro O Thermo Scientific Quattro ESEM combina ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Largura: 340 mm
... experiência. O tempo no microscópio é precioso, e o tempo excessivo gasto em manutenção, alinhamentos, formação, ou optimização de imagem precisa de ser evitado. Microscópio Electrónico Apreo 2 Scanning O ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 515, 1.030 nm
... femtossegundo e a imagiologia SEM (microscopia electrónica de varrimento). Esta combinação "TriBeam" permite a obtenção de imagens e análises de alta resolução com capacidade de ablação in situ, oferecendo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Peso: 5 kg
... Microscópio electrónico por varrimento de feixe de iões focalizado para ultra-alta resolução, preparação de amostras de alta qualidade e caracterização 3D. O Thermo Scientific Scios 2 DualBeam é um sistema de microscopia ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ampliação : 300.000 unit
Resolução espacial: 3, 4, 7 nm
Peso: 480 kg
CIQTEK SEM3200 é um microscópio eletrônico de varredura com filamento de tungstênio de alto desempenho. Possui excelentes recursos de qualidade de imagem nos modos de alto e baixo vácuo. Também possui uma grande profundidade ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 0,8 nm - 1.200 nm
Peso: 950 kg
... aberração e sem vazamento, para obter imagens de alta resolução de baixa tensão, enquanto amostras magnéticas podem ser aplicadas. Navegação ótica, funções automáticas avançadas, interação homem-máquina bem concebida ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo térmico analítico equipado com um canhão eletrônico de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. O design de lente magnética ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 300.000 unit
Resolução espacial: 4,5, 3,9 nm
... O SEM2100 é um Microscópio Eletrónico de Varrimento com Filamento de Tungsténio (SEM) de fácil utilização e acessível, concebido para utilizadores principiantes. Apresenta um processo de funcionamento simplificado e ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg
CIQTEK SEM5000X é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo de resolução ultra-alta (FE-SEM) com resolução inovadora de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Beneficiando-se do processo de engenharia de ...
CIQTEK Co., Ltd.
Resolução espacial: 3, 0,9, 1,6 nm
CIQTEK DB500 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo com coluna de feixe de íons focados para nanoanálise e preparação de amostras, que é aplicado com tecnologia “SuperTunnel”, baixa aberração e design ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... O SEM4000X é um microscópio eletrónico de varrimento por emissão de campo (FE-SEM) estável, versátil, flexível e eficiente. Atinge uma resolução de 1.9nm@1.0kV, enfrentando facilmente desafios de imagem de alta resolução ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 20 unit - 1.000.000 unit
Resolução espacial: 4, 1,6, 1,2 nm
... observações SEM de alta resolução e análises rápidas utilizando espetroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) e difração por retrodifusão de electrões (EBSD). Além disso, uma função de análise ...
Jeol
Ampliação : 10 unit - 5.480.000 unit
Resolução espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energia (EDS) da JEOL totalmente integrado, como plataforma comum. O JSM-IT800 permite a substituição da lente objetiva do SEM como um módulo, oferecendo diferentes versões para satisfazer as várias necessidades dos ...
Jeol
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