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Resolução espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterização por microscopia electrónica de varrimento de nanomateriais com resolução sub-nanométrica e alto contraste de material. Microscópio Verios 5 XHR Scanning Electron O Verios 5 XHR SEM ...
Peso: 990 kg
Largura: 1.190 mm
Altura: 1.800 mm
... para satisfazer as necessidades analíticas do dispositivo semicondutor de nó de conceção de 10 nm e mais além. O atuador piezoelétrico de precisão está equipado com movimentos de sonda nos eixos X, Y e Z, permitindo que ...
... um método rápido e eficaz para identificar circuitos abertos, alta resistência e curto-circuitos ao longo das interligações sem técnicas de sondagem direta de camadas de nível inferior. A técnica EBAC é realizada com ...
... facilmente instalados em microscópios, e são compatíveis com uma ampla gama de microscópios e outros sistemas ópticos Esta solução econômica para o ajuste fino no microscópio. É extremamente ...
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