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Resolução espacial: 1 µm
... Os sistemas de microscópio MX63 e MX63L são otimizados para inspeções de alta qualidade de wafers de até 300 mm, visores planos, placas de circuito impresso e outras amostras grandes. Seu design modular permite que você ...
Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. O SU9000 é o novo SEM premium da HITACHI. Apresenta uma ótica de electrões única, com a amostra posicionada dentro ...
Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm
... amostras sem ventilar a câmara de amostras, melhorando o rendimento. - Aumenta a manipulação de amostras com o Modo Livre de Estágio*. - O Chamber Scope aumenta a segurança dos movimentos da plataforma*. área de visualização ...
Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm
... (Cold FEG) - Coluna e fontes de alimentação ultra-estáveis para um melhor desempenho do instrumento - Capacidade de imagem SEM e STEM com correção de Cs simultânea e resolução atómica - Nova plataforma de entrada lateral ...
Ampliação : 66 unit - 1.000.000 unit
Resolução espacial: 1,3 nm
Comprimento: 1.716 mm
... Microscópio eletrónico de varrimento de alta velocidade para a obtenção de imagens à escala transversal de amostras de grande volume O CIQTEK HEM6000 dispõe de tecnologias como o canhão de electrões de corrente de feixe ...
... O novo "Microscópio de Visão Mecânica" (MVM) é um microscópio puramente digital com todas as características que fazem um microscópio. Tem uma objetiva de microscópio ...
... DF, DIC e POL para as análises múltiplas. Microscópio invertido de nível de entrada para aplicações gerais para testes de dureza. Microscópio invertido industrial e da ciência dos materiais especialmente ...
Peso: 17 kg
Comprimento: 490 mm
Largura: 251 mm
... A série de microscópios polarizadores ECLIPSE LV100N POL e Ci-POL é utilizada para estudar as propriedades birefringentes dos espécimes anisotrópicos, observando o contraste da imagem e as mudanças de cor. A Nikon oferece ...
Nikon Metrology
Ampliação : 10 unit - 5.480.000 unit
Resolução espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energia (EDS) da JEOL totalmente integrado, como plataforma comum. O JSM-IT800 permite a substituição da lente objetiva do SEM como um módulo, oferecendo diferentes versões para satisfazer as várias necessidades dos ...
... O microscópio de zoom da série ZTX-S adopta um sistema de imagem ótica, com alta resolução, definição fina e forte sentido de tridimensionalidade, fácil operação. O microscópio é amplamente utilizado ...
... controladas através de uma interface gráfica de fácil utilização. Construída de acordo com os padrões da indústria de semicondutores em torno de uma plataforma central que utiliza a mais recente tecnologia de produção ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... de alta qualidade com grande distância de trabalho. - Ideal como unidade microscópica de uma estação de corte para semicondutores. - Os modelos L e L4 suportam gamas de comprimentos de onda de laser YAG de 266 ...
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