Probe cards

... Com múltiplas opções de extensão de vida útil e várias características de segurança para a bolacha, a ViProbe®II traz todas as vantagens da ViProbe® para o próximo nível Passo mínimo do DUT - 50 µm Diâmetro mínimo do êmbolo - 1,6 mil Superfície ...

... As sondas de lamelas oferecem várias vantagens em termos de RF e requisitos de força. O curto comprimento da sonda, bem como a quantidade flexível de lamelas, torna-a a solução perfeita para aplicações sofisticadas. Passo mínimo do DUT ...

... A sondagem de wafers WLCSP, SiP ou flipchip requer sondas que suportem correntes elevadas e que garantam simultaneamente uma elevada integridade do sinal. A FeinProbe® da FEINMETALL responde a essas aplicações com excelência. Passo mínimo ...

... Personalizável para uma enorme gama de aplicações e materiais de sondagem, é a solução vertical no mercado há muitos anos e especialmente apreciada pela sua facilidade de reparação única. Passo mínimo do DUT - 56 µm Diâmetro mínimo do ...

... O desempenho líder da indústria do produto HFTAP K32 junta-se à série de cartões de sonda de teste de alta frequência FormFactor, incluindo os K10, K16 e K22 utilizados para testar dispositivos DRAM de 1,0 GHz, 1,6 GHz, e 2,2 GHz. A tecnologia ...

... Os mais recentes chips DRAM proporcionam uma resposta gráfica e de memória cache extremamente rápida e suave em consolas de jogos e computadores pessoais, bem como em aplicações de servidor. Permitem uma capacidade de memória cada vez ...

... SmartMatrix™ 3000XP fornece 300 mm de teste de contacto de bolacha completa em DRAM móveis e de mercadorias, memória gráfica (GDDR), memória de alta largura de banda (HBM), e dispositivos de memória emergentes. Especificamente desenvolvida ...