Sistemas de posicionamento para microscopia

Repetibilidade: 0,3 µm - 2,5 µm
Carga: 5 kg - 20 kg
Curso: 100 mm - 720 mm

... características especiais de qualidade. Especificações - Curso: 2 x cada 720 x 720 x 100 mm - 2x eixos X cada para scanners / microscópios até 25 kg - 2x eixos Y cada para mandris até 23 kg / wafers ...

Repetibilidade: 0,01 µm - 2,5 µm
Velocidade: 5 mm/s - 35 mm/s

... excecionalmente longa devido aos eixos standard fiáveis a longo prazo Este sistema de posicionamento de 9 eixos permite visualizar amostras de todos os ângulos possíveis sob microscópios ...

Repetibilidade: 0,3 µm - 0,4 µm
Curso: 100 mm - 200 mm
Velocidade: 15 mm/s - 25 mm/s

... Sistema XYZ com controlador Personalizável: - Ideal para a configuração e expansão da sua aplicação - Repetibilidade altamente precisa até 0,3 µm - Passos mais pequenos e maior fiabilidade a uma velocidade de posicionamento ...

Repetibilidade: 0,3 µm - 0,7 µm
Curso: 200 mm
Velocidade: 15 mm/s - 25 mm/s

... Estação de Inspeção e Microscopia XYZ para alta resolução Personalizável: - Ideal para inspeção de amostras - Repetibilidade de alta precisão até 0,3 µm - Redução dos desvios de medição para menos de 3 µm Este sistema ...

Repetibilidade: 0,8 µm - 4 µm
Carga: 1 kg
Curso: 25 mm - 25 mm

... Este sistema X-Y-Z miniaturizado é ideal para aplicações de posicionamento em locais com espaço limitado. Em combinação com um fuso de rosca fina, o XYZ Stage atinge valores de resolução muito elevados. ...