O sistema de MultiPrep™ permite a preparação semiautomática precisa da amostra de uma escala larga dos materiais para (ótico, SEM, EBSD, FIB, TEM, AFM, etc.) a avaliação microscópica. As capacidades incluem o lustro paralelo, o ângulo que lustram, o lustro local-específico ou a toda a combinação disso. Fornece resultados reprodutíveis da amostra eliminando inconsistências entre usuários, não obstante sua habilidade.
Os micrômetros duplos (passo e rolo) permitem ajustes precisos da inclinação da amostra relativo ao plano abrasivo. Um eixo rígido do Z-índice mantem a orientação geométrica predefinida durante todo processo de moedura/de lustro.
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