O software consiste em um programa principal que forneça a interface de utilizador, e o vário entrada/saída da máquina funciona, junto com pelo menos duas bibliotecas (DLL) que fornecem o processamento do espectro e os cálculos de ZAF para os espectros tomados no os SEM cabidos com um detetor do EDS.
O software funciona no PC e em sistemas de exploração padrão (Windows Xp, 7, etc.). A análise completa de ZAF é possível, com ou sem padrões, usando uma base de dados interna dos parâmetros fundamentais (FP) como coeficientes de absorção, rendimentos da fluorescência, probabilidades de transição, etc. Há igualmente um módulo da exposição do espectro incluído.
O software igualmente inclui a aquisição dos espectros usando a ferragem de Amptek DPP. Os métodos e os resultados que subjacentes a lima (uma lima assim chamada de EDX) pode setup e reúso para a análise rotineira, ou os elementos podem ser selecionados para cada análise de espectro nova.
O software pode analisar materiais de maioria ou um material thin-film single-layer. A análise pode ser feita sem padrões se os resultados podem ser normalizados a 100%. Ao usar padrões, a espessura pode igualmente ser determinada ou os resultados não têm que ser normalizados.
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