Microscópio FTIR HYPERION II

para a pesquisa sobre materiaisde bancadade alta precisão

O microscópio HYPERION II combina, pela primeira vez, a microscopia FT-IR e a imagem laser infravermelha (ILIM) num único instrumento. Oferece os três modos de medição: transmissão, reflexão e ATR Agora, os utilizadores têm a oportunidade única de utilizar um microscópio IR que oferece tanto a fiabilidade e precisão do FT-IR como a tremenda vantagem de velocidade da imagem laser IR, tudo em um. Juntamente com os nossos clientes, estamos a abrir a porta ao desenvolvimento de novos métodos de RI e à optimização dos já existentes. Adquirir um espectro FT-IR, seleccionar um comprimento de onda adequado e criar imagens químicas impressionantes em segundos, utilizando imagens laser IR. - Selecção de detectores para µ-FT-IR: LN2-MCTs de banda larga, média e estreita, refrigerados termicamente (TE) MCT - Detector de matriz de plano focal para imagem infravermelha (64 x 64 ou 128 x 128 pixel) - Implementação opcional de QCL por Laser Infrared Imaging Module (ILIM, laser classe 1) - Selecção objectiva da lente: 3.5x/15x/36x IR, 20x ATR, 15x GIR, 4x/40x VIS - Altas velocidades de imagem: 0.1 mm2 por segundo (FPA, espectro completo); 6,4 mm2 por segundo (ILIM, número de ondulação único) - Selecção de aberturas: lâmina de corte manual, lâmina de corte automático. Aberturas de metal para NIR - Selecção de ferramentas visuais/ópticas: iluminação de campo escuro, iluminação fluorescente, polarizadores VIS, polarizadores IR, etc - Extensão do alcance espectral - desde Near-Infrared (NIR) até Far-Infrared (FIR) - Selecção de acessórios e fases de amostra: acessório de imagem macro IR, fase de arrefecimento/aquecimento, compartimento de amostra, etc.